IC測試原理解析(第四部分―射頻/無(wú)線(xiàn)芯片測試基礎)

芯片測試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應用，第三章介紹了混合信號芯片的測試。本文將介紹射頻/無(wú)線(xiàn)芯片的測試。

射頻/無(wú)線(xiàn)系統會(huì )同時(shí)包含一個(gè)發(fā)射器和接收器分別用于發(fā)送和接收信號。我們先介紹發(fā)射器的基本測試，接下來(lái)再介紹接收器的基本測試。

發(fā)射器測試基礎

如圖1所示，數字通信系統發(fā)射器由以下幾個(gè)部分構成：

CODEC(編碼/解碼器)

符號編碼

基帶濾波器(FIR)

IQ調制

上變頻器（Upconverter）

功率放大器

CODEC使用數字信號處理方法(DSP)來(lái)編碼聲音信號，以進(jìn)行數據壓縮。它還完成其它一些功能，包括卷積編碼和交織編碼。卷積編碼復制每個(gè)輸入位，用這些冗余位來(lái)進(jìn)行錯誤校驗并增加了編碼增益。交織編碼能讓碼位錯誤分布比較均勻，從而使得錯誤校驗的效率更高。

符號編碼把數據和信息轉化為I/Q信號，并把符號定義成某個(gè)特定的調制格式?；鶐V波和調制整形濾波器通過(guò)修整I/Q調制信號的陡峭邊沿來(lái)提高帶寬的使用效率。

IQ調制器使得I/Q信號相互正交(積分意義上)，因此它們之間不會(huì )相互干擾。IQ調制器的輸出為是IQ信號的組合，就是一個(gè)單一的中頻信號。該中頻信號經(jīng)過(guò)上變頻器轉換為射頻信號后，再通過(guò)放大后進(jìn)行發(fā)射。

Figure 1. 通用數字通信系統發(fā)射器的簡(jiǎn)單模塊圖

先進(jìn)的數字信號處理和專(zhuān)用應用芯片技術(shù)提高了數字系統的集成度?，F在一塊單一的芯片就集成了從ADC轉換到中頻調制輸出的大部分功能。因此，模塊級和芯片級的射頻測試點(diǎn)會(huì )減少很多，發(fā)射器系統級和天線(xiàn)端的測試和故障分析就變得更加重要。

發(fā)射器的主要測試內容

信道內測試

信道內測試采用時(shí)分復用或者碼分復用的方法來(lái)測試無(wú)線(xiàn)數字電路。復用指的是頻率或者空間上的復用等。在時(shí)分多址(TDMA)技術(shù)中，一個(gè)信道可以定義為在一系列重復出現的幀里面特定的頻段和時(shí)隙，而在碼分多址(CDMA)技術(shù)中，信道定義為特定的碼段和頻段。信道內和信道外這兩個(gè)術(shù)語(yǔ)指的是我們所感興趣的頻段（頻率信道），而不是指頻率帶寬內信道的時(shí)隙或者碼段。

發(fā)射器信道帶寬是最先進(jìn)行的測試，它決定了發(fā)射器發(fā)射信號的頻譜特性。通過(guò)頻譜的形狀和特性可以發(fā)現設計上的許多錯誤，并能大概推算出系統符號速率的錯誤率。

載波頻率測試用于測試可能引起相鄰頻段信道干擾或影響接收器載波恢復的頻率誤差。在大多數調制方式中，載波頻率應處于頻譜的中心?？梢酝ㄟ^(guò)計算3dB帶寬來(lái)判斷中心頻率。

信道功率測試用于測試有用信號在頻率帶寬內的平均能量。它通常定義為有用信號能量在信號頻率帶寬內的平均值，實(shí)際的測量方法隨著(zhù)不同的標準會(huì )有所不同。無(wú)線(xiàn)系統必須保證每個(gè)環(huán)節消耗的能量最少，這樣的目的主要有兩個(gè)：一是可以減少系統的整體干擾，二是能延長(cháng)便攜系統電池的使用壽命。因此，必須嚴格地控制輸出功率。在CDMA系統中，為了達到最大的容量，系統總的干擾容限也嚴格限制了每個(gè)單個(gè)移動(dòng)單元的功率。精確發(fā)射功率控制對系統的容量,覆蓋范圍和信號質(zhì)量至關(guān)重要.

占用帶寬跟信道功率密切相關(guān)，定義為給定總調制信號功率的百分比所覆蓋多少頻譜。

時(shí)間測試常用于TDMA系統中的突發(fā)信號測試。這些測試主要用來(lái)評估載波包絡(luò )是否能滿(mǎn)足預期的要求，它們包括了突發(fā)信號寬度，上升時(shí)間，下降時(shí)間、開(kāi)啟時(shí)間、關(guān)閉時(shí)間、峰值功率、發(fā)射功率、關(guān)閉功率以及占空比等。時(shí)間測試可以保證相鄰頻率信道之間的干擾以及信號開(kāi)啟或者關(guān)閉的時(shí)隙切換時(shí)的干擾最小。

調制品質(zhì)的測試通常涉及到發(fā)射信號的精確解調并與理想的數學(xué)計算出來(lái)的發(fā)射信號或參考信號進(jìn)行比較。實(shí)際的測量隨著(zhù)不同的調制方式和不同的標準會(huì )有不同的方法。

誤差矢量幅度(EVM)是應用最廣泛的數字通信系統調制品質(zhì)參數，它采樣發(fā)射器的輸出端的輸出信號，獲得實(shí)際信號的軌跡。通常把輸出信號解調后得到一個(gè)參考信號。矢量誤差是指某個(gè)時(shí)間理想的參考信號與實(shí)際所測的信號的差別，是一個(gè)包含幅度分量和相位分量的復數。通常，EVM會(huì )采用最大的符號幅度分量或者平均符號功率的平方根。

I/Q偏置(固有偏置origin offsets)是由I/Q信號的直流偏置引起的，可能會(huì )導致載波反饋。

相位和頻率誤差測試用于等幅調制方式。通過(guò)采樣發(fā)射器的輸出信號并捕獲實(shí)際的相位軌跡，解調后得到一個(gè)理想的參考相位軌跡。相位誤差是通過(guò)比較實(shí)際信號和理想參考信號而得到的，并以有效值和峰值的形式表示。大的相位誤差說(shuō)明發(fā)射器基帶或者輸出放大器有問(wèn)題，導致信號靈敏度的下降。頻率誤差是指載波頻率的誤差。一個(gè)穩定的小頻率誤差說(shuō)明正在使用的載波可能有些問(wèn)題。不穩定的頻率誤差可能是由以下這些原因引起的：本地振蕩器的不穩定，使用了不適當的濾波器，放大器的幅度調制相位調制轉換有問(wèn)題，或是所使用發(fā)射器模擬頻率調制器的調制指數有問(wèn)題，

信道外測試

信道外測試是指對那些在系統頻率以外頻段的測量。

信道外測試是對系統頻段內的失真或者干擾進(jìn)行采樣，而不是對傳輸頻率本身進(jìn)行測試

相鄰信道功率比(ACPR)測試保證發(fā)送器不受相鄰或者間隔通道的干擾。ACPR就是相鄰信道平均功率與發(fā)射信道平均功率的比值。通常是在間隔多個(gè)信道的信道之間進(jìn)行測量(與相鄰信道或間隔信道之間)。當進(jìn)行ACPR測試的時(shí)候，要考慮到發(fā)射信號的統計特性非常重要，因為即使對于同一發(fā)射器來(lái)說(shuō)，不同的信號統計會(huì )導致不同的ACPR測試結果。對于不同的標準，該測試通常會(huì )具有不同的名字和定義。

雜波信號是由發(fā)射器內不同的信號組合而引起的。在系統頻帶內這種信號的幅度必須要小于標準所規定的水平，以保證它對其它通信系統的干擾最小。

諧波是由發(fā)送器的非線(xiàn)性而引起的信號失真，這些信號的頻率都是載波頻率的整數倍。信道外雜波和諧波的測試用于保證本信道對其它通信系統的干擾最小。

接收器基本測試

接收器的功能基本上是發(fā)送器的反向過(guò)程，因而它們帶來(lái)的測試挑戰也非常相似。接收器必須在有潛在干擾的條件下成功地捕獲RF信號，因此，必須有一個(gè)前端選擇濾波器來(lái)濾除或減弱由天線(xiàn)接受到的系統頻段以外的信號。低噪聲放大器(LNA)可以放大目標信號的幅度，但同時(shí)也會(huì )保證盡可能少地增加噪聲幅度，下變頻器通過(guò)與本振信號混頻把RF信號轉換為頻率較低的中頻信號?；祛l器的輸出信號再通過(guò)中頻濾波器削弱由混頻器或相鄰通道產(chǎn)生的無(wú)用的頻率分量。

數字接收器(圖2)可以用I/Q解調器或者采樣中頻IF來(lái)實(shí)現。I/Q解調是由模擬硬件來(lái)實(shí)現的，在數字射頻接收器的設計中比較常見(jiàn)。盡管這種方法很受歡迎，但它有一個(gè)潛在的問(wèn)題：I/Q路徑上的增益會(huì )不太一致，而且相對的相位偏差也很大(大于90度)，進(jìn)而會(huì )導致圖像抑制的問(wèn)題。因此，I/Q解調的方式主要用于單通道基站。

Figure 2. 典型的數字通信接收器

接收器的主要測試內容

信道內測試用來(lái)測試接收器在一定的允許誤碼率的情況下能接受的最小的信號幅度，又稱(chēng)作靈敏度。接收器能正確捕獲低幅度輸入信號的能力就是該接收器的靈敏度。

比特誤碼率和楨誤碼率是在數字接收器里面的地位就跟模擬接收器里面的信號與噪聲諧波比(SINAD)一樣，是衡量數字接收器最重要的性能指標，同時(shí)也是靈敏度的衡量方式。當采用一位數據序列進(jìn)行調制時(shí),可接受的靈敏度是指在指定誤碼率的條件下最小接收信號的幅度。測量該參數時(shí)需要通過(guò)衰減已知的電纜分別把信號源施加到接收器的天線(xiàn)端，以及把接收器的輸出端連接到比特誤碼率檢測設備上。測試時(shí)，如果不知道大概的靈敏度，那就最先把信號的幅度設置到通常的水平(比如-90dBm),接下來(lái)遞減幅度，直到比特誤碼率達到指定值。此時(shí)，信號的功率值減去電纜的損耗就是靈敏度。

同道抑制能力測試與靈敏度測試相似。測試時(shí)，在相同RF信道上加上干擾信號后檢測接收信號的扭曲水平。接收器能保持對所需信號的靈敏度同時(shí)抑制干擾信號的能力就是同道抑制能力。

信道外或阻塞測試用于驗證當有信道外信號出現時(shí)接收器是否能正常工作以及在此條件下接收器被干擾后所產(chǎn)生的雜波響應。通常信道外測試包括：

- 雜波抑制能力，它與同道抑制相似，但是干擾信號是所有頻段的干擾信號而不僅限于同信道內的。

- 互調抑制能力(intermodulation immunity)用于測試當接收器的輸入包含多個(gè)頻率分量時(shí)所產(chǎn)生的失真信號。

- 相鄰信道抑制能力用于測試當相鄰信道具有強信號時(shí)接收器的接受能力。

檢測雜波抑制能力

雜散響應或者雜波是由接收器內部或接收器與外部信號的共同作用產(chǎn)生的。這兩種雜波信號都需要被檢測。

在進(jìn)行雜波信號檢測時(shí)，可以用一個(gè)負載代替接收器的天線(xiàn)，這樣可以保證接收器的輸入信號沒(méi)有干擾信號，接下來(lái)把接收器的輸出連接到頻譜分析儀。這樣，系統內部產(chǎn)生的毛刺都會(huì )在頻譜分析儀上出現。系統內部產(chǎn)生的雜波一般源于接收器電源的諧波，系統時(shí)鐘或者本振信號。

雜散響應抑制能力用于測試接收器抑制在輸出端由雜散響應產(chǎn)生的無(wú)用信號的能力。在進(jìn)行此項測試之前，我們必須找出所有的內部產(chǎn)生的雜波源,并確保它們沒(méi)有超出規定范圍。接下來(lái)，我們再給所需射頻信道施加一個(gè)在靈敏度范圍以上的調制測試信號，同時(shí)用第二個(gè)信號發(fā)生器提供一個(gè)干擾信號。改變干擾信號的頻率，觀(guān)察和驗證接收器的雜波抑制能力。

檢測互調抑制能力

互調影響是指在輸入信號包含多個(gè)頻率分量時(shí)由接收器的非線(xiàn)性度而產(chǎn)生一些無(wú)用信號。一般用兩個(gè)頻率分量的輸入信號來(lái)測試接收器的互調特性。我們需要設置干擾信號讓三階互調分量落在接收器的通帶之中。干擾信號的能量與其它信號都相等并設定在指定的值，接下來(lái)再檢測有用信號的比特誤碼率。

測量相鄰通道和間隔通道的選擇性

相鄰和間隔通道的選擇性指接收器接受本信道有用信號并抵制相鄰通道(通常隔一個(gè)通道)或間隔通道（通常指相隔兩個(gè)通道）較強信號干擾的能力。在一些通信應用中，通道比較窄或者間隔通道的能量難于控制，比如說(shuō)移動(dòng)無(wú)線(xiàn)信號等，這些應用中，上述的測試就非常重要。進(jìn)行這些測試時(shí)，通過(guò)信號發(fā)生器給待測信道施加一個(gè)測試信號，能量與通道靈敏度相關(guān)。同時(shí)用第二個(gè)信號發(fā)生器給相鄰或者間隔信通也施加一個(gè)信號，此信號的能量被設定在某一特定值，使得測試信號的誤碼率小于某個(gè)比例。

除開(kāi)能量的精度之外，測試信號和干擾信號的頻譜特征也很重要。對于很多接收器來(lái)說(shuō)，用于產(chǎn)生干擾信號的信號發(fā)生器的單邊帶(SSB)相位噪聲非常關(guān)鍵。如果在中頻濾波器頻段范圍內的相位噪聲過(guò)大，接收器測試可能會(huì )不能通過(guò)。

大的測試安全系數對于接收器在信噪比惡化條件下能正常工作增添信心。對于使用新技術(shù)或者變化的頻率系統中，大的測試安全系數可以用來(lái)保證這些不確定性。

衰落測試

用于克服多個(gè)隨機的無(wú)線(xiàn)信道對單一接受信道的影響。在無(wú)線(xiàn)環(huán)境中，無(wú)線(xiàn)信號可能由多個(gè)途徑從發(fā)送器到達接收器。在接收器的輸入端，這種多徑效應可能會(huì )增加信號的幅度(同相)或者減小信號的幅度(反相)。因此，會(huì )導致被接收信號的衰落，從而影響信號的接受。

快速的線(xiàn)性衰落會(huì )使得基帶脈沖失真。這種失真是線(xiàn)性的，并會(huì )產(chǎn)生符號間干擾。自適應均衡器可以通過(guò)消除線(xiàn)性失真來(lái)減少符號間干擾。

緩慢的衰落會(huì )導致信噪比的降低。糾錯編碼或者接收分級能夠克服緩慢衰減的這種影響。

衰減測試可以通過(guò)以下步驟來(lái)完成：先把測試信號在傳送到接收器之前通過(guò)一個(gè)無(wú)線(xiàn)信道的仿真器，經(jīng)過(guò)仿真器模擬信號的多個(gè)路徑，因此到達接收器的信號是多個(gè)信號的組合。再有接收器進(jìn)行信號處理。接收器必須能夠在處理該組合信號時(shí)能保證一定的誤碼率。衰落測試的設置與靈敏度測試很類(lèi)似，只不過(guò)多出一個(gè)仿真通道。

結論

到目前為止，我們介紹了以下幾種基本測試：相對簡(jiǎn)單的存儲器和邏輯芯片測試以及比較復雜的混合信號和射頻/無(wú)線(xiàn)芯片測試的獨特測試要求。由此可見(jiàn)，對于不同類(lèi)型芯片的測試，我們需要根據相應的要求采用不同的測試策略和測試方法。