為存儲器測試開(kāi)發(fā)低成本的解決方案

便攜式技術(shù)的發(fā)展使人們越來(lái)越依賴(lài)蜂窩電話(huà)、PDA和導航系統這類(lèi)便攜式裝置。隨著(zhù)處理器技術(shù)的不斷進(jìn)步，過(guò)去幾年中大容量存儲器件的設計和開(kāi)發(fā)呈指數級增長(cháng)。例如，從蘋(píng)果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano產(chǎn)品，重新設計的關(guān)鍵部件不是速度更快的處理器，而是采用閃存取代了硬盤(pán)。這些裝置的可靠性取決于存儲器的正確設計和測試。

在開(kāi)發(fā)和測試存儲器件方面，工程師面臨著(zhù)許多挑戰。要獲得更低的消費價(jià)格，就要不斷削減測試成本和時(shí)間。一直以來(lái)，設計團隊不得不為每個(gè)設計購買(mǎi)或租賃昂貴的高端存儲器測試設備。而PC的普及和FPGA技術(shù)的發(fā)展則催生出一種用于驗證存儲器件的新型、低成本測試設備?；赑C的混合信號平臺，諸如圖1所示的PXI(用于儀器的PCI擴展)測試系統，可以安裝在工程師的桌面上并提供比其它方案成本更低的、測試所必需的功能。利用這些平臺，工程師可以盡早測試其設計，并將測試貫穿到整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程之中。

本文將探討存儲器測試解決方案的開(kāi)發(fā)以及驗證功能和物理連接所需的測試設備功能。并分析除了滿(mǎn)足存儲器基本功能測試之外，如何擴展測試能力。

存儲器測試的主要目標是驗證存儲器件上的每一個(gè)存儲位都能夠可靠地儲存數據。驗證存儲器件所需的關(guān)鍵測試包括驗證物理連接、檢查存儲器的每一位并描述器件特征。采用基于PC的平臺，例如PXI，工程師可以利用標準的編程語(yǔ)言(例如NI LabVIEW和C/C++)開(kāi)發(fā)定制、低成本測試系統，以滿(mǎn)足存儲器測試的要求。

驗證物理連接(包括存儲器地址和數據I/O線(xiàn))對于確保數據被正確存儲在所期望的位置至關(guān)重要。地址線(xiàn)規定每一個(gè)操作的存儲位置，而雙向數據線(xiàn)負責將數據輸入和輸出存儲器。如果有一個(gè)物理連接發(fā)生故障，其它測試也會(huì )出錯。
圖1：應用于桌面的PXI混合信號測試系統。