為存儲器測試開(kāi)發(fā)低成本的解決方案
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存儲器的功能測試由數字測試設備執行的一系列讀寫(xiě)操作構成。每次執行讀操作之后，測試系統將讀取的數據與期望值做比較。測試數據線(xiàn)不需要重復通過(guò)存儲器中的每個(gè)地址。例如，一個(gè)4位存儲器只需要4次寫(xiě)和讀操作，以完全驗證數據線(xiàn)并核查粘著(zhù)性(stuck-at)故障。通過(guò)選擇單一地址，初始化時(shí)存儲器各位均置為“0”，采用“進(jìn)位置1”模式寫(xiě)入數據，工程師就可以高效地測試數據線(xiàn)。圖2所示為4位存儲器件的“進(jìn)位置1”模式。測試的第一步是把“1000”寫(xiě)入期望的位置，然后，對該地址進(jìn)行初始化讀操作。如果存儲器返回的數據與所寫(xiě)入的數據相匹配，那么就表明該數據線(xiàn)功能正確。采用不同的測試模式，工程師可通過(guò)類(lèi)似步驟驗證地址線(xiàn)和每一個(gè)存儲位。 本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/202576.htm
盡管一些數字儀器可以執行這種簡(jiǎn)單的測試，但要測試更復雜的存儲器件則需要成百上千的讀寫(xiě)操作。如果用軟件執行比較讀入數據與每次讀操作后的期望響應，那么測試時(shí)間可能會(huì )成指數級增長(cháng)。
為了將使空閑時(shí)間減到最小，先進(jìn)的測試設備支持基于每個(gè)周期和每個(gè)通道的雙向通信。先進(jìn)的測試儀器可以在一個(gè)時(shí)鐘周期內從存儲器讀取并比較數據，而無(wú)需讓存儲器件停下來(lái)重新配置，或把數據傳輸到PC上進(jìn)行比較。隨著(zhù)基于FPGA的儀器的應用增多，除了0和1之外，新型和現有硬件還支持邏輯狀態(tài)的測量。為了驗證來(lái)自存儲器的數據，測試向量利用特定的狀態(tài)來(lái)定義何時(shí)數字儀器應該主動(dòng)接收數據以及期望響應值是什么。例如，國家儀器公司的PXI- 6552數字波形發(fā)生器/分析儀利用能支持6個(gè)不同通道狀態(tài)的FPGA，根據測試向量中的數據重新配置儀器的行為。
圖2. “進(jìn)位置1”模式。
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