利用?NI?半導體?測試?系統?(STS)?軟件?的?增強?功能，?進(jìn)一步?加速?測試?程序?的?開(kāi)發(fā)，?提高?運營(yíng)?效率

2019年9月12日 – 美國國家儀器（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)“NI”）是一家軟件定義平臺的提供商，其平臺有助于加速自動(dòng)化測試和自動(dòng)化測量系統的開(kāi)發(fā)和性能提升，該公司于今日推出了STS軟件的最新增強功能，這些功能可顯著(zhù)提升NI半導體測試系統的編程和調試體驗，并大大提高測試執行速度、并行測試效率和整體設備效率。

由于市場(chǎng)壓力不斷增加，半導體生產(chǎn)測試工程師正在力圖加快新測試程序的開(kāi)發(fā)、調試和部署進(jìn)程，以快速投入量產(chǎn)。對于尚未擁有測試系統的用戶(hù)，STS軟件2019提供了更優(yōu)化的線(xiàn)下體驗來(lái)幫助他們更快速開(kāi)發(fā)測試程序。其他優(yōu)化包括簡(jiǎn)化的驅動(dòng)體驗，便于編程重復的儀器，以及簡(jiǎn)化的數字掃描支持。另外，改進(jìn)調試體驗后，用戶(hù)只需選擇相關(guān)待測設備(DUT)的site和引腳，即可在multi-site應用中快速進(jìn)行交互式測量和調試自動(dòng)化測試。

同樣，不斷增加的市場(chǎng)壓力也迫使半導體運營(yíng)和制造團隊不斷優(yōu)化半導體封裝和測試設備，以提高盈利能力。STS軟件2019通過(guò)優(yōu)化儀器驅動(dòng)來(lái)加快測試執行時(shí)間，并強化線(xiàn)程管理以提高并行測試效率，進(jìn)而提高測試吞吐量。此外，由于制造團隊可以在不同批次之間切換測試系統配置，從而大幅縮短了軟件轉換時(shí)間，進(jìn)而幫助STS客戶(hù)提高利用率和設備整體效率。

“半導體公司不斷受到縮短上市時(shí)間和降低測試成本的壓力。美國國家儀器已經(jīng)擴展了NI半導體測試系統的功能，同時(shí)顯著(zhù)提高了該系統的并行功能、速度和效率，”NI高級副總裁兼半導體業(yè)務(wù)總經(jīng)理Ritu Favre說(shuō)道，“STS軟件2019版的新增強化功能可幫助客戶(hù)加速上市并降低成本，為他們創(chuàng )造了巨大價(jià)值?！?/p>