物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代性?xún)r(jià)比最好的內存測試解決方案

　　隨著(zhù)物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的來(lái)臨，我們不應該再注意手機或是任何移動(dòng)式裝置，而是應該注意新的需求。臺灣要放手一搏扭轉產(chǎn)業(yè)的機會(huì )是把握物聯(lián)網(wǎng)，而不是專(zhuān)注于硬件開(kāi)發(fā)，這并不意味著(zhù)要放棄硬件，而是要學(xué)會(huì )掌握硬件可以發(fā)展的智能服務(wù)。臺灣若繼續做硬件，也許還是會(huì )有未來(lái)，但贏(yíng)家又會(huì )是誰(shuí)呢?因此不能只是看硬件，要看在這些平臺上還有哪些應用還沒(méi)被挖掘。

　　那么要如何創(chuàng )造出『萬(wàn)物聯(lián)網(wǎng)』的價(jià)值呢?首先就是要讓開(kāi)發(fā)物聯(lián)網(wǎng)的硬件的價(jià)格能夠低廉到讓許多『創(chuàng )客(Maker)』可以接受，讓有興趣開(kāi)發(fā)物聯(lián)網(wǎng)的智慧服務(wù)的『創(chuàng )客』，可以輕易的拿到相關(guān)的硬設備。所以，如何降低物聯(lián)網(wǎng)相關(guān)芯片的價(jià)格，成為物聯(lián)網(wǎng)商務(wù)模式一個(gè)值得探討的課題。物聯(lián)網(wǎng)芯片的硬件架構都需要嵌入式閃存(Embedded Flash; EFlash)來(lái)儲存程序(Program)。所以EFlash的測試費用也會(huì )決定物聯(lián)網(wǎng)芯片的開(kāi)發(fā)成本，在這微利時(shí)代且錙銖必較的物聯(lián)網(wǎng)開(kāi)發(fā)平臺上，成本將是關(guān)鍵，它會(huì )決定此物聯(lián)網(wǎng)開(kāi)發(fā)平臺是否將會(huì )廣泛被『創(chuàng )客』采用!

　　厚翼科技為目前全球唯一專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)內存測試解決方案的硅智財(Intellectual Property; IP)與整合性內存測試開(kāi)發(fā)工具的供貨商。而B(niǎo)IST (Built-In Self-Test) 是嵌入式內存測試的一種標準。過(guò)去幾年來(lái)，內存的BIST需求，隨著(zhù)各種新興市場(chǎng)包括物聯(lián)網(wǎng)與車(chē)用電子的需求而日益增高，現今的內存測試解決方案需要支持各種型態(tài)的內存檢測方案包括嵌入式閃存(Embedded Flash; EFlash)靜態(tài)隨機存取內存(Static Random Access Memory; SRAM)、動(dòng)態(tài)隨機存取內存(Dynamic Random Access Memory; DRAM)等。

　　厚翼科技在內存測試的解決方案中擁有許多專(zhuān)利，基于特有的內存測試專(zhuān)利，厚翼科技開(kāi)發(fā)出嵌入式閃存的測試解決方案(EFlash BIST)。EFlash BIST將傳統的BIST架構做了很大的變革，EFlash BIST充分利用硬件架構分享(Hardware Sharing) 的設計來(lái)達到優(yōu)化的面積和測試時(shí)間。EFlash BIST是一個(gè)客制化的IP，厚翼科技的研發(fā)團隊，針對客戶(hù)所用的EFlash與所需要的測試項目開(kāi)發(fā)出專(zhuān)屬的EFlash BIST IP。此客制化的EFlash BIST IP將可以大幅度的縮短EFlash的測試時(shí)間。

　　傳統的EFlash測試方案可以直接使用自動(dòng)化測試機臺(Automation Test Equipment; ATE)或是使用EFlash的供貨商提供的BIST。采用ATE做EFlash的測試，由于測試時(shí)間過(guò)長(cháng)，導致測試費用太高，相當不符合物聯(lián)網(wǎng)開(kāi)發(fā)平臺對于費用的要求。然而，采用EFlash供貨商提供的BIST方案，對于使用者而言，非常難以在短時(shí)間內將BIST電路與EFlash做整合(圖一)，導致整個(gè)物聯(lián)網(wǎng)芯片的開(kāi)發(fā)時(shí)間過(guò)長(cháng)。

　　圖一：傳統的EFlash BIST的實(shí)現流程

　　基于以上兩點(diǎn)使用上的不便之處，厚翼科技將傳統的EFlash BIST的實(shí)現流程簡(jiǎn)化如下(圖二)。

　　圖二：厚翼科技的EFlash BIST的實(shí)現流程

　　厚翼科技的EFlash BIST IP可根據客戶(hù)在測試項目上的需求提供各項測試方案如CP1、CP2、CP4、FT等測試項目。此外，厚翼科技的EFlash BIST IP僅需要非常少的測試針腳(Pin)，并且厚翼科技的EFlash BIST IP可以提供下列可程序化(Programmable)的功能包括Change ATE Setting、Algorithm、Program Time、Erase Time、Address Sequence、Data Background等。厚翼科技的EFlash BIST IP更可以提供診斷(Diagnosis)方案，包括Algorithm、Command、Address、Data等，讓物聯(lián)網(wǎng)芯片開(kāi)發(fā)商作為芯片錯誤分析的依據。

　　物聯(lián)網(wǎng)的來(lái)臨，許多新興應用出現。如何讓『創(chuàng )客』可以輕易上手一個(gè)物聯(lián)網(wǎng)的開(kāi)發(fā)平臺，是眾多物聯(lián)網(wǎng)硬件開(kāi)發(fā)商的共同目標，除了功能性要足夠之外，『價(jià)格』是另外一項決定物聯(lián)網(wǎng)開(kāi)發(fā)平臺是否會(huì )被廣泛使用的決定性因素。厚翼科技的EFlash BIST IP能大幅縮短EFlash的測試時(shí)間，保護客戶(hù)的測試樣本(Test Pattern)與縮短EFlash BIST的開(kāi)發(fā)時(shí)間。因此厚翼科技的EFlash BIST IP絕對是物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代性?xún)r(jià)比最好的內存測試解決方案。