三星電池爆炸部分在隔離膜上 裸電芯絕緣檢測不容忽視
鋰電池,全稱(chēng)鋰離子電池,在放電時(shí)候,鋰離子從負極到正極,最終嵌入正極;充電時(shí)候,鋰離子從陰極到陽(yáng)極,最終嵌在負極石墨上。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201609/297114.htm鋰離子來(lái)回搖擺,正負極始終不相接觸,通過(guò)外電路相連,在鋰離子遷移的同時(shí),外電路相應的電子運動(dòng),產(chǎn)生電流。這就是電池的基本奧義,可充電放電。如果正負極直接接觸,造成短路,電能轉換成為熱能,就會(huì )造成短時(shí)間溫度飆升失控,進(jìn)而燃燒爆炸。防止電池內部陰陽(yáng)極短接保證電池使用安全,這就是電池的第二奧義。電池中,隔離陰陽(yáng)極的組件稱(chēng)為隔離膜(板),它是一層具有一定強度的多孔結構高分子聚烯烴膜,也就是一層有孔的塑料。
電池在長(cháng)期使用過(guò)程中,因為充放電時(shí)正極負極材料的微觀(guān)結構變化的不可逆,導致整個(gè)電芯體系的體積會(huì )有所增大,特別是高能量密度和快速充電的電池。高能量密度電芯設計會(huì )采用克容量(單位重量可充電量)更高的正負極材料,這些材料的特性之一就是嵌入鋰離子時(shí)體積增大程度更甚。電芯膨脹會(huì )對隔離膜產(chǎn)生一個(gè)擠壓/拉伸作用,這時(shí)候隔離膜有較大的破損風(fēng)險。這次燒的三星note7電池,在現在主流手機廠(chǎng)商/型號中,能量密度是最高的(見(jiàn)下表,數據來(lái)自各官網(wǎng)資料),還都使用了1.2C快充。風(fēng)險不可謂不高。按照三星之前的分析,SDI電池起火的有一部分原因就壞事在隔離膜上。
主流廠(chǎng)商電池對比

一個(gè)是電芯隔離膜Overhang不夠,一個(gè)是電池在充放電時(shí)候,因為異物顆粒的緣故,隔離膜受到擠壓,導致隔離膜片破損。電池設計制造從業(yè)者應該從一開(kāi)始就識別出這種安全風(fēng)險高的缺陷,并加以防控。特別是對于動(dòng)力電池來(lái)說(shuō),幾十甚至上百倍的單體容量,一旦發(fā)生短路,產(chǎn)生的能量失控釋放后果是更加嚴重。
Overhang,是指隔離膜多出正負極極片之外的部分,一般會(huì )根據電池極片的寬度加上相應的設計余量來(lái)規定。Overhang的設計要考慮電芯制造過(guò)程和使用過(guò)程中隔離膜的尺寸變化。

比如,現有鋰電池體系對于電芯內部的水含量要求比較嚴格,因為水分會(huì )導致電池在充放電時(shí)候產(chǎn)生更多的副反應,消耗電解液,損壞正負極活性表面,改變活性物質(zhì)結構等,使電池的可充放電性能下降,縮短電池使用壽命。
所以,電芯都會(huì )有一個(gè)高溫除水的工序,這時(shí)候,聚烯烴隔離膜因為熱記憶效應,會(huì )產(chǎn)生熱收縮,造成尺寸減小,陰陽(yáng)極接觸的風(fēng)險會(huì )增加!另外再說(shuō)異物顆粒。電芯在整個(gè)制造過(guò)程中,非常容易帶入異物顆粒,比如:隔離膜來(lái)料異物,隔離膜處理引入,正極負極顆粒掉落,機器磨損產(chǎn)生金屬顆粒,空氣塵埃,員工操作引入等。這些顆粒由于導電性能,顆粒大小,顆粒硬度,顆粒表面幾何形狀等,擠破隔離膜的風(fēng)險也不盡相同。異物顆粒較多的電池,往往電壓降較快,使用壽命較短,隨著(zhù)電池使用時(shí)間的增加,這種電芯短路燃燒的風(fēng)險也更大。如此大的短路風(fēng)險,是否有方法能夠識別呢?
參考沿用電子電器行業(yè)的絕緣性測試方法,現在大部分的電池廠(chǎng)都會(huì )對電芯進(jìn)行絕緣性測試。美標/國標針對電器的絕緣性測試是一個(gè)擊穿測試,在受測元件的兩端加上一個(gè)高電壓,如果絕緣隔離單元存在缺陷或者絕緣性能不夠,就會(huì )出現漏電流,視為導通,記錄擊穿電壓。一般絕緣線(xiàn)纜的擊穿電壓要求在2000V以上。電芯進(jìn)行絕緣性測試時(shí),是進(jìn)行耐壓測試,通常是規定一個(gè)電壓,加載在電芯兩端,如果電芯阻值小于某個(gè)規定值,即視為短路。
對于隔離膜存在缺陷或者因為Overhang不足導致陰陽(yáng)極直接接觸的情況,這時(shí)候的短路電阻一般都在kohm級別以下。對于存在異物顆粒,特別是導電性較好/危險系數較高的金屬顆粒的情況下,其檢出電阻一般在快接近Mohm級別的水平。耐壓測試一般被認為是無(wú)損測試,其測試過(guò)程可以等效為一個(gè)電容充電過(guò)程,在撤去測試電壓后,攜帶電荷會(huì )很快散盡。但是在導電顆粒存在的地方,甚至會(huì )形成畸變電場(chǎng),產(chǎn)生尖端放電,將隔離膜擊穿,電壓越高,這種表現越明顯,顆粒檢出的概率就越高。
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