測試3G手機的DigRF技術(shù)

接口以及為電路提供支持信號將會(huì )非常復雜；
在隔離與屏蔽能力有限情況下，在與這些敏感RF信號如此近的地方增加一個(gè)數字噪聲發(fā)生器，存在著(zhù)更多的風(fēng)險；
為每個(gè)器件負載板增加元件會(huì )使成本上升，延長(cháng)測試開(kāi)發(fā)時(shí)間。

　　作為另一種選擇，可以采用一臺提供嵌入實(shí)時(shí)功能的數字測試儀器，它可以在降低成本的同時(shí)簡(jiǎn)化DIB復雜性。這種方案的缺點(diǎn)是缺乏測試工程師所需要的靈活性，因為他們要測試一組通信協(xié)議。只針對DigRF的解決方案是不實(shí)用的。

　　采用這種選擇時(shí)，當測試程序知道有RF接收數據時(shí)，就能在RxData總線(xiàn)上捕捉到大塊數據；這個(gè)塊必須放大到能可靠地捕捉足夠的數據包，從而有足夠數量的I/Q采樣用于后處理算法。數據從數字儀器的捕捉內存送至DSP引擎，在那里由一個(gè)預處理算法執行一個(gè)三步處理：

找到每個(gè)包的起始索引；
分析每個(gè)包的頭；
順序地對有效載荷中的I/Q采樣進(jìn)行去交錯操作，并保存在新的獨立數組中。

　　一旦數據完成預處理，就可以對所需的I/Q數據集執行用戶(hù)定制的處理算法，或將數據集輸出到其它ATE軟件工具，測試EVM（誤差矢量幅度）等特性。

　　這一方法的成功與否取決定于數據移動(dòng)時(shí)間，以及所需處理步驟的效率。盡量減少總測試時(shí)間的關(guān)鍵是避免與主控PC的不必要交互，因為這種交互要求測試程序暫停DUT測試的執行。如果測試儀具有邊做模式捕捉邊移動(dòng)數據的能力，則向DSP傳輸數據的整個(gè)時(shí)間都被隱蔽在后臺，測試時(shí)間是零損失。

　　如果測試儀沒(méi)有此項功能，則測試工程師就必須尋找能減少移動(dòng)數據量的方法。一個(gè)選擇是只捕捉失效數據，但這會(huì )在DSP中增加一個(gè)重構原始數據的新處理步驟；單單這個(gè)不必要的步驟就會(huì )增加數毫秒的關(guān)鍵測試時(shí)間。

　　一個(gè)完整的DigRF解決方案需要完全在后臺執行預處理算法和I/Q處理。因此，第三種選擇就需要測試儀架構能支持執行數字信號處理算法的專(zhuān)用處理器，一旦DUT信號捕捉完成，測試程序就能立即開(kāi)始下一個(gè)測試的設置。另外，多址測試也需要這種后臺處理的并行式高效率。

　　圖4表示這三種選擇對測試時(shí)間的可能影響。對第一種選擇，缺乏后臺處理而產(chǎn)生了一個(gè)串行的測試流，有最長(cháng)的測試時(shí)間。第三種情況下，采用了實(shí)時(shí)處理，似乎最為理想，因為它用全后臺處理，以最高效的方式解決了測試挑戰。

圖 4. 這里顯示的三種測試選擇的測試時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)：(a) 串行執行流，(b) 批量捕捉與后處理方案，(c) 實(shí)時(shí)處理。

　　不過(guò)，批量捕捉和后處理方案也可以有低的測試時(shí)間開(kāi)銷(xiāo)，只要數據轉移是在后臺完成，并且高效地處理，沒(méi)有被浪費的步驟，并有獨立的多址并行處理器。有了適當的系統能力，八址程序的預處理器時(shí)間可以低至數毫秒，足以隱藏在一個(gè)典型RF測試時(shí)間中。