IBERT在FPGA中的應用
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為確定高速串行接口的參數是否滿(mǎn)足硬件及多種環(huán)境的需求，可通過(guò)在對端器件高速串行接口設置遠端環(huán)回，設置待測試芯片的收發(fā)data pattern為統一模式，常溫及高低溫拷機，觀(guān)察誤碼率是否滿(mǎn)足要求，誤碼率需滿(mǎn)足E-10。例中與圖6對應的參數值條件下，對端器件高速串行接口設置遠端環(huán)回誤碼率為4．36E-10，滿(mǎn)足誤碼率要求。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/190002.htm
Sweep Test Setting(掃描測試)其配置頁(yè)面如圖7所示，以Rx Sampling Point來(lái)進(jìn)行誤碼率測試定性分析信道質(zhì)量為例，較為容易理解，當同定在某個(gè)采樣點(diǎn)進(jìn)行誤碼測試時(shí)，誤碼率達到E-10時(shí)，可判定信道質(zhì)量良好。在整個(gè)UI范圍內進(jìn)行采樣點(diǎn)的掃描測試時(shí)，誤碼率達到E-10的采樣點(diǎn)越多，信號眼圖的眼睛張得越大，距離模板的余量越大，信道質(zhì)量越好。
3 結束語(yǔ)
通過(guò)以上實(shí)例，可見(jiàn)IBERT具有可操作性較強的GUI圖形界面，可操作性強、準確、易用，可方便地設置高速串行收發(fā)通道的各項參數，并提供了多種環(huán)回模式及多種測試激勵源，并可通過(guò)自動(dòng)掃描測試，確定收發(fā)的最佳參數?？梢詽M(mǎn)足硬件測試時(shí)對高速串行收發(fā)通道信號測試的大部分需求，在故障定位等場(chǎng)合均可使用。在單板的硬件測試初期，使用IBERT可以輔助硬件測試，例如設置發(fā)送通道的各項參數，協(xié)助示波器測量信號質(zhì)量，而完全不需額外的開(kāi)發(fā)FPGA邏輯。進(jìn)行誤碼率測試，作為定量測量眼圖質(zhì)量、jitter等指標的補充。從示波器看圖確定出的參數并非就是最佳參數。如示波器對于均衡后的信號質(zhì)量無(wú)法測試，而通過(guò)IBERT測誤碼率能夠測試到均衡之后的節點(diǎn)，測試范圍更大?？梢灶A見(jiàn)，集成比特誤碼測試儀IBERT將在FPGA設計中獲得廣泛應用。
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