一種實(shí)用的集成芯片測試儀的設計

按照芯片測試插座旁邊的指向，插入待測的數字芯片或按鍵；通過(guò)鍵盤(pán)輸入指令或數字，單片機經(jīng)過(guò)鍵盤(pán)掃描從8155讀回鍵值，根據鍵值執行相應的子程序。假設輸入測試命令鍵，單片機將調用測試子程序，并將測試結果送到顯示器上顯示（“good”or“bad”）；假設輸入數字鍵，單片機會(huì )自動(dòng)將輸入的數字顯示到顯示器上；假設輸入其它命令鍵，單片機將調用相應的功能子程序，執行相應的命令。

2 系統硬件設計

2.1 單片機

單片機采用美國ATMEL公司生產(chǎn)的AT89C52單片機。該芯片不僅具有MCS-51系列單片機的所有特性，而且片內集有8K字節的電擦除閃速存儲器（Flash ROM），價(jià)格低。由于使用片內程序存儲器，所以，EA/VP接高電平；AT89C52的最大工作頻率為24MHz，系統利用單片機的內部振蕩器加石英晶體構成時(shí)鐘源，為了工作可靠，晶體振蕩頻率選為12MHz。

2.2 8155接口芯片

由于A(yíng)T89C52片內的輸入輸出口有限，需要外加專(zhuān)用的外圍接口芯片。INTEL 8155H既有RAM又有I/O口，并且可直接與MCS/51系列單片機相連接，不需要增加任何硬件邏輯。因此，本設計中，用8155的I/O口作鍵盤(pán)顯示器的并行接口電路，以便AT89C52中的P1口、P2口用作被測芯片接口。

2.3 通信接口

采用MAXIM公司的串行接口芯片MAX487將PC機和測試儀器連接起來(lái)。測試儀接收PC機的信號，執行相應的操作后再將處理結果上傳到PC機，以便在PC機上直接對測試系統進(jìn)行操作（見(jiàn)圖2）。

2.4 測試芯片接口

根據AT89C52中的P1口與P2口的特點(diǎn)，本設計采用AT89C52的P1口和P2口作為測試芯片的接口，其中，P1口中的P1.7用于控制14/16管腳的電源地的轉換，P2口中的P2.7作為高8位地址控制信號。接口電路如圖2所示。

（1）單片機與測試芯片之間加電阻

需要注意的是，在單片機與測試芯片之間需串接470Ω（或510Ω）和電阻。首先，串接電阻的目的是對AT89C52起限流保護的作用，假設，P1.0輸出高電平，此時(shí)，測試芯片又為非門(mén)，那么，將引起灌電流現象，致使P1.0口線(xiàn)上的電流非常大，對AT89C52有害。其次可以保證邏輯電平的正確，在連接線(xiàn)上串接幾百歐的電阻而不接幾千歐的電阻原因在于：假設讓p1.0的邏輯低電平，這樣，基極將是高電平，又有，p1口上的上拉電阻為3K左右，如果連接線(xiàn)上的電阻也取3K，那么，將使p1.0輸出邏輯高電平，此時(shí)邏輯電平是錯誤的；如果連接的電阻為470Ω左右，p1.0口仍然能夠正確地輸出邏輯低電平，這樣就保證了邏輯電平的正確性。

（2）測試芯片從14到16管腳時(shí)電源地的轉換

因為測試芯片管腳從14位到16位不定，所以，存在電源地轉換的問(wèn)題。本設計中p1.6管腳是被轉換 的對象，用p1.7管腳電平的高低來(lái)控制p1.6接地與否，這個(gè)電路是利用晶體三極管來(lái)實(shí)現的。當SETB P1.7時(shí)，P1.6接地，此時(shí)能測14管腳的芯片；當CLR P1.7時(shí)，P1.6是正常的測試位，此時(shí)能測試16管腳的芯片。所以，只要在生個(gè)芯片測試子程序中將P1.7作相應的設置即可。

2.5 鍵盤(pán)顯示電路

本設計是采用8155并行擴展口構成的鍵盤(pán)、顯示電路。LED8位8段顯示器共陰極，8155 PB口提供段選碼，PA提供位選碼。鍵盤(pán)為3