NI聯(lián)合泰克等公司主辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”

繼2004和2005年連續在中國地區成功舉辦兩屆“設計、驗證及測試論壇”（Design Validation Test Forum，即DVTF）之后，美國國家儀器中國有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）宣布即將于今年9月21日在北京天鴻科園大酒店主辦第三屆DVTF活動(dòng)。除了兩年來(lái)王牌的自動(dòng)化測試主題，嵌入式系統設計也將成為今年的亮點(diǎn)。

延承以往的傳統，DVTF 2006聯(lián)合了泰克科技、EWB（Electronics WorkBench）、聲望聲電，以及北京中科泛華、上海聚星儀器等行業(yè)知名公司共同參與，力求將DVTF打造成一個(gè)測試測量自動(dòng)化以及設計行業(yè)權威的品牌活動(dòng)，為廣大測試測量行業(yè)的工程技術(shù)人員提供一個(gè)絕佳的平臺，不但可以與行業(yè)專(zhuān)家面對面地交流，了解最新的技術(shù)趨勢，而且還可以同時(shí)觀(guān)摩多家參與企業(yè)的演示從而獲得最佳的解決方案。

全天的活動(dòng)將分為嵌入式系統設計和測試專(zhuān)題與自動(dòng)化測試專(zhuān)題兩個(gè)板塊同時(shí)進(jìn)行。嵌入式系統設計和測試專(zhuān)題包括：“如何縮短嵌入式系統的設計周期”，“無(wú)需掌握VHDL，體驗圖形化的FPGA編程 ”，“電路設計與仿真最新技術(shù)介紹”等；自動(dòng)化測試專(zhuān)題包括：“最新PCI Express和測試測量總線(xiàn)技術(shù)”，“射頻領(lǐng)域和多種行業(yè)領(lǐng)域內NI的解決方案”，“支持多種傳感器信號的便攜式數據采集系統”等。所有議程主題均是充分考慮到設計和測試兩個(gè)領(lǐng)域工程師的實(shí)際需求和未來(lái)挑戰而準備的。

除了兩項專(zhuān)題之外，本次DVTF還特設“測試經(jīng)理高峰論壇”專(zhuān)場(chǎng)，邀請各領(lǐng)域公司的高級測試經(jīng)理參與交流討論，共同應對和解決市場(chǎng)快速發(fā)展下產(chǎn)生的各種挑戰。該專(zhuān)場(chǎng)座席有限，憑確認函入場(chǎng)。