球柵陣列封裝（英語(yǔ)：BGA、Ball Grid Array，以下簡(jiǎn)稱(chēng)BGA）技術(shù)為應用在集成電路上的一種表面黏著(zhù)封裝技術(shù)，此技術(shù)常用來(lái)永久固定如微處理器之類(lèi)的的裝置。
BGA焊接失效問(wèn)題往往直接關(guān)系到器件的質(zhì)量?；诖?，下文針對BGA焊接出現開(kāi)裂問(wèn)題作出了分析。
1.外觀(guān)分析
說(shuō)明：一焊點(diǎn)（左）整體開(kāi)裂（如放大圖所示），另一焊點(diǎn)無(wú)異常（右），且二者都呈現向內扭偏的狀態(tài)。
說(shuō)明：由于芯片PAD與PCB 焊盤(pán)未中心對齊，整體焊球向內扭偏。
說(shuō)明：開(kāi)裂焊點(diǎn)特征是從IMC層開(kāi)裂，開(kāi)裂面有契合齒紋，斷面平整。Ni層狀態(tài)良好，無(wú)腐蝕異常。
說(shuō)明：未開(kāi)裂焊點(diǎn)特征是IMC厚度主要在1μm左右，呈現晶枝狀特征，符合客戶(hù)提供標準要求。
說(shuō)明：對焊點(diǎn)IMC層的成分分析表明其成分主要為Ni、Cu、Sn，含量比正常。Ni層P含量6.28%，在正常范圍內。
從上述檢測分析結果判斷， BGA有形成IMC層，焊點(diǎn)斷口平齊，在1.65μm左右，且有契合齒特征，因此可推斷焊點(diǎn)應是在成型后，受到外部應力的作用，導致IMC整體脆斷。同時(shí)應力點(diǎn)集中于FPC焊盤(pán)側，表明應力可能是由FPC側傳導而來(lái)。
注：由于送樣切片樣品（僅兩個(gè)焊點(diǎn)）只能顯示一個(gè)剖面的狀態(tài)，焊點(diǎn)受到何種應力作用需要從原始外觀(guān)或者整體斷面上分析斷裂痕跡。
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