電解電容芯子干枯失效的可靠性研究及應用

電解電容對電路的主要作用有：隔直流、去耦、耦合、濾波、儲能、自舉等，對避免保護電路過(guò)電壓擊穿有不可或缺的作用，是維護電路穩定工作的基石。電解電容失效會(huì )導致整個(gè)電控電路功能紊亂，最終導致電路失效。本文從器件結構、核心關(guān)鍵參數方面進(jìn)行分析，整改方案思路可以為同類(lèi)型電解電容失效分析整改提供借鑒和參考。

1   事件背景

空調控制器使用X、Y 廠(chǎng)家同型號的電解電容時(shí)，在使用X廠(chǎng)家電解電容時(shí)，用戶(hù)經(jīng)常反饋主板通電現象，核實(shí)故障原因為電解電容鼓包導致，主要集中在1 個(gè)月內失效，屬于早期故障，該問(wèn)題已經(jīng)嚴重影響售后質(zhì)量。焊接失效原因及失效機理分析

1）外觀(guān)核實(shí)，發(fā)現鼓包、底部防爆閥有電解液滲出痕跡、套管表面有受高溫燙傷破損異?，F象（如圖1）。

2）失效器件參數檢測分析：標稱(chēng)容量47 μF±20%/450 V，實(shí)際容值測試容量：317.3 nF，損耗3.4，容值小，都不符合標準要求。

3）X 光觀(guān)察未發(fā)現內部不良，芯子內部鋁箔位置無(wú)偏移，鉚接位置正確，內部結構無(wú)異常。

圖1 不良品電解電容

4）解剖異常樣品電容核實(shí)發(fā)現內部電解紙干燥，電解液揮發(fā)，且有電解液滲出現象。纏繞芯包的膠帶熱縮，底部外殼防爆閥打開(kāi)；解剖展開(kāi)電解紙，發(fā)現內部正負鋁箔電解紙無(wú)破損，內部無(wú)爆點(diǎn)及過(guò)電損傷痕跡（表1）。

表1 X廠(chǎng)家失效電解電容解剖

5）陽(yáng)極箔清洗后，采用TV 特性?xún)x進(jìn)行鋁箔耐壓檢測，陽(yáng)極箔耐壓標準：660 V 以上，實(shí)測陽(yáng)極耐壓達679 V，陽(yáng)極箔性能符合產(chǎn)品質(zhì)量標準。

綜上，從樣品本身分析，未發(fā)現明顯缺陷；從樣品的失效形式上看，屬于發(fā)熱過(guò)大造成失效。主要表現為PET 套管耐高溫在200 ℃以上，異常樣品套管已出現破洞，說(shuō)明外部溫度過(guò)高，燙破套管；纏繞芯包的膠帶溶點(diǎn)在160 ℃以上，膠帶已熱溶收縮，說(shuō)明樣品使用過(guò)程內部溫度過(guò)高，但樣品內部結構無(wú)異常，內部無(wú)擊穿。一般都是使用過(guò)程遇到較大紋波電流引起發(fā)熱，超過(guò)樣品所能承受的紋波電流，使內部發(fā)熱量過(guò)大，不足以應對因電網(wǎng)電壓波動(dòng)等情況帶來(lái)的紋波電流（因目前國內各個(gè)區域使用電網(wǎng)存在一定的差異性），而此方面因素是無(wú)法預測的，在長(cháng)期經(jīng)過(guò)一定的高壓脈沖后產(chǎn)品特性發(fā)生了變化，加劇了電介質(zhì)的電老化與熱老化，電解液的粘度逐漸增大且等效串聯(lián)電阻增大，發(fā)熱量增加沖破防爆閥，最終促使芯子干枯形成上述現象。

表2 X、Y廠(chǎng)家電解電容參數測試對比

3   電解電容可靠性分析

該型號電解電容同步使用的Y 廠(chǎng)家未發(fā)現異常，同比參考Y 廠(chǎng)家與X 廠(chǎng)家電解電容相關(guān)參數的核實(shí)對比優(yōu)化。

3.1 常規參數對比（如表2）

正負極鋁箔長(cháng)度差異：產(chǎn)品設計陰極箔一定要比陽(yáng)極箔長(cháng)，陰極箔長(cháng)一點(diǎn)對產(chǎn)品性能不會(huì )有影響；負極鋁箔面積比（正極鋁箔：負極鋁箔）X 廠(chǎng)家比Y 廠(chǎng)家小，正負極箔比不影響產(chǎn)品參數，減短負箔后可增加占比；膠塞材料成分有差異：X 廠(chǎng)家電解電容膠塞硬度高于Y 廠(chǎng)家，差值在15 ～ 20；

性能參數：電容測試參數對比ESR、漏電流測試參數差異比較大，初步分析電解液存在差異。

3.2 X、Y 廠(chǎng)家鉚接點(diǎn)對比，未發(fā)現異常，正負極都是按照要求5 的點(diǎn)鉚接。

3.3 鋁殼入膠深度：X 廠(chǎng)家鋁殼無(wú)入膠（如圖2），Y廠(chǎng)家有入膠深度（如圖3）。

3.4 橡膠塞尺寸

對比X 廠(chǎng)家與Y 廠(chǎng)家引腳尺寸（表3），發(fā)現Y廠(chǎng)家弧度比X 廠(chǎng)家弧度半徑大2.46 mm；鋁殼束腰密封性能，由于X 光核實(shí)弧度一致，對比發(fā)現艾華的密封性比新元好。

3.5 導針尺寸：焊接引腳（0.8 mm）長(cháng)度X 廠(chǎng)家比Y廠(chǎng)家長(cháng)0.7 mm 左右；Y 廠(chǎng)家與橡膠塞接觸比X 廠(chǎng)家多0.7 mm左右，使其充分接觸增加密封性（如表4、圖4）。

圖4 電解電容導針外觀(guān)

4   電解電容優(yōu)化方案

●   性能核心參數對標Y 廠(chǎng)家優(yōu)化調整，如漏電流；

●   開(kāi)發(fā)引入與Y 廠(chǎng)家同樣材料膠塞（硬度相同、材質(zhì)成分相同），開(kāi)發(fā)完成后即可以對標Y 廠(chǎng)家調整縮腰深度、弧度、封口形貌；

●   導針長(cháng)度對標Y 廠(chǎng)家加長(cháng)。

5   整改效果驗證

5.1 對電解電容內部電解液進(jìn)行調整，電解電容測試漏電流數據明顯下降，X 廠(chǎng)家新制品對比X 廠(chǎng)家舊制品提升-88.99%，為Y 廠(chǎng)家的一半（如表5）。

表5 X廠(chǎng)家整改后性能參數測試

5.2 新開(kāi)發(fā)X 廠(chǎng)家電解電容橡膠塞材料已經(jīng)調整，將混合丁基膠改為丁基膠；相關(guān)尺寸測試如下。

1）新制品橡膠塞厚度增加：由3.78 mm 提升到5.11 mm；

2）橡膠塞弧度減?。喊霃接芍暗?.55 mm 提升到7.1 mm，在束腰時(shí)增加密封性能；

3）橡膠塞孔徑減?。河?.87 mm 提升到0.82 mm；

4）開(kāi)發(fā)完成后，使用X 光觀(guān)察束腰更加緊密。

5.3 鉚接柱尺寸調整，提高鉚接柱與橡膠塞密封性：新制品鉚接柱直徑由2.00 mm 增加到2.17 mm；新制品鉚接柱長(cháng)度由3.65 mm 提升到3.77 mm。

5.4 可靠性試驗驗證：對X 廠(chǎng)家電解電容整改后制品進(jìn)行專(zhuān)項型式試驗，加電耐久、高溫實(shí)驗后測試容值變化率即漏電流都符合要求（表6）。

表6 可靠性試驗驗證

6   可靠性整改總結及意義

通過(guò)對電解電容單體失效分析，從電解電容失效機理、失效因素、結構可靠性、工藝等核實(shí)參數的收集，對比其他相關(guān)器件參數，找出差異點(diǎn)，對產(chǎn)品單體結構可靠性對比論證。從器件本身進(jìn)行整改，改善后進(jìn)行對比分析，整改后效果明顯。對電解電容失效分析方法提供分析思路，對分析評估類(lèi)似失效電解電容可靠性有良好借鑒作用。

經(jīng)過(guò)此次整改，電解電容在引入開(kāi)發(fā)時(shí)需對電解電容關(guān)鍵參數進(jìn)行對比驗證，進(jìn)行充分評估，并持續跟蹤收集整理生產(chǎn)過(guò)程數據，以提高產(chǎn)品的可靠性。

參考文獻：

[1] 陳錦輝.關(guān)于紋波影響電容鼓包的分析研究[J].日用電器,2018(10):86-89.

[2] 周慧德.開(kāi)關(guān)電源中鋁電解電容可靠性的研究[D].哈爾濱:哈爾濱工業(yè)大學(xué),2010.

[3] 黃兆軍,范凌云.電解電容加速壽命試驗的研究與應用探討[J].日用電器,2013(8):26-28,43.

[4] 項永金,李帥.鋁高壓電解電容陽(yáng)極箔氯離子腐蝕失效分析與研究[J].電子產(chǎn)品世界,2020(12):37-41.

（本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2021年10月期）