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你的設計為什么出問(wèn)題？也許是嵌入式JTAG接口惹的禍
- 通常所說(shuō)的JTAG大致分兩類(lèi)，一類(lèi)用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問(wèn)題;一類(lèi)用于Debug;一般支持JTAG的CPU內都包含了這兩個(gè)模塊。 一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過(guò)JTAG接口訪(fǎng)問(wèn)CPU的內部寄存器和掛在CPU總線(xiàn)上的設備，如FLASH，RAM，SOC(比如4510B，44Box，AT91M系列)內置模塊的寄存器，象UART，TImers，GPIO等等的寄存器。 上面說(shuō)的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟件的配合，具體
- 關(guān)鍵字： JTAG 嵌入式
淺談嵌入式系統測試JTAG技術(shù)各個(gè)階段
- 引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱(chēng)為JTAG、1149.1或“dot 1”)是一種用來(lái)進(jìn)行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數復雜電子系統都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種方法，本文將探討在不同年代的系統開(kāi)發(fā)與設計中是如何使用JTAG的，通過(guò)借助過(guò)去有關(guān)JTAG接入的經(jīng)驗或投入，推動(dòng)設計向新一代發(fā)展?！ 〈蠖鄶祻碗s電子系統都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。如果系統采用的是復雜
- 關(guān)鍵字： JTAG
超越S參數測試
- 減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案--如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構，它不僅提供卓越的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數(S參數)的各種測量進(jìn)行配置。
- 關(guān)鍵字： 矢量網(wǎng)絡(luò )分析 S參數測試 PNA-X
數字圖像倍焦系統設計與實(shí)現綜合實(shí)例之：系統硬件配置方案
- FPGA作可編程器件，可以根據用戶(hù)的需要進(jìn)行現場(chǎng)可編程。系統可采用了JTAG模式和AS模式進(jìn)行FPGA編程配置。
- 關(guān)鍵字： 數字圖像倍焦系統 JTAG FPGA EPC1441PC8
基于DSP的嵌入式導航計算機系統中CPLD器件軟件更新的實(shí)現
- 針對嵌入式導航計算機系統中CPLD器件軟件更新需求，提出了通過(guò)串行方式基于DSP的CPLD軟件更新方案，通過(guò)DSP的I／O口模擬CPLD的JTAG時(shí)序邏輯，將由串口接收到的CPLD配置信息文件，移入到其內部邏輯中，從而實(shí)現軟件更新。分析研究了實(shí)現該方案需解決的硬件和軟件中的關(guān)鍵問(wèn)題，設計實(shí)現了提出的CPLD器件軟件更新方案，并在實(shí)際的導航計算機系統中進(jìn)行了驗證和應用。
- 關(guān)鍵字： CPLD器件軟件更新 DSP JTAG
關(guān)于HCS12(X)單片機AD的深層次的一些東西
- 關(guān)于A(yíng)D,一直有人問(wèn)一些東西,應該是屬于A(yíng)D比較深的東西,答應總結一個(gè)貼子大部分來(lái)自中電網(wǎng)陳剛版主的精典問(wèn)答,如果要用加速度傳感器,請看完
- 關(guān)鍵字： HCS12(X)單片機A
松下：力推阻容元件與開(kāi)發(fā)工具，開(kāi)關(guān)器件X-GaN效率更高
- 松下被動(dòng)元件展區，松下位于德國的器件解決方案部門(mén)被動(dòng)元件團隊產(chǎn)品市場(chǎng)經(jīng)理Mustafa Khan介紹了electronica期間剛剛問(wèn)世的導電性聚合物混合鋁電解電容器--ZK系列。相比之前的ZA和ZC系列性能更優(yōu)，例如比ZC系列更高的容量和高紋波電流?！ K和ZC產(chǎn)品在125C下可工作4000小時(shí)。三種類(lèi)型產(chǎn)品都有更低的ESR(等效串聯(lián)電阻)和LC，可用于LED、汽車(chē)、電力電子、電信等場(chǎng)合?！ ∷上录瘓F汽車(chē)&工業(yè)系統公司介紹了其網(wǎng)上工具--LC Simulator，可加速
- 關(guān)鍵字： 松下 X-GaN
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