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四種射頻器件設計的TCAD仿真方法分析比較

  • 計算機輔助設計技術(shù)(TCAD)應用到設計領(lǐng)域最通常的目的就是預測,仿真能使工程師了解設計。
  • 關(guān)鍵字: 方法  分析  比較  仿真  TCAD  器件  設計  射頻  

器件的散熱

  • 1、 散熱的原理與重要性   各種功率器件的核心是PN結,而PN結的性能與溫度密切相關(guān)。為了保證器件正常工作,必須規定最高允許結溫TjM。當器件流過(guò)較大的電流時(shí),在芯片上產(chǎn)生相應的功率損耗,引起芯片溫度增加,與最高結溫對應的器件耗散功率即為器件的最大允許耗散功率。器件正常工作時(shí)不應超過(guò)最高結溫和功率的最大允許值,否則,器件特性將要發(fā)生變化,甚至導致器件產(chǎn)生永久性的損壞現象。   芯片溫度的高低與器件內部功耗的大小、芯片到外界環(huán)境的傳熱條件(傳熱機構、材料、冷卻方式等)及環(huán)境溫度有關(guān)。設法減小器件的內部
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外圍設備或器件軟件仿真的方法及建議

  • 外圍設備軟件仿真可以方便單片機程序的調試,在程序涉及外圍設備時(shí)不必做任何處理直接運行,仿真軟件會(huì )自動(dòng)處理對它的訪(fǎng)問(wèn)。
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電子知識:半導體器件鑒定試驗技術(shù)的研究

  • 1 引言      眾所周知,可靠性鑒定工作對保證半導體器件質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要,無(wú)論是新品研制,還是成熟產(chǎn)品(老品)生產(chǎn),無(wú)不以鑒定試驗作為檢驗其質(zhì)量和可靠性的重要手段。不考慮抗輻照性能的鑒定試驗,半導體器件鑒定工作共有各類(lèi)試驗20余組,需要樣品100余個(gè)??疾閮热莅▔勖?、耐各種惡劣環(huán)境能力等反映半導體器件質(zhì)量和可靠性的所有指標。   鑒定試驗不僅對半導體器件質(zhì)量,對半導體器件生產(chǎn)方提出了高要求,也對試驗方,即鑒定方同樣提出了高要求。半導體領(lǐng)域長(cháng)期對前者十分重視,投入了大量人力、物力進(jìn)行研究,然而
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基于rfPIC無(wú)線(xiàn)發(fā)射器件的環(huán)形天線(xiàn)的設計

  • 本文基于MICROCHIP公司生產(chǎn)的rfPIC12F675芯片,提出了一種微小型天線(xiàn)的設計方法及其調試技術(shù)。通過(guò)設計rfPIC12F675的天線(xiàn)原理圖和PCB板圖,闡述了PCB板上環(huán)形天線(xiàn)的設計方法、參數確定途徑、調試方法和設計PCB板時(shí)應該注意的問(wèn)題。
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功率驅動(dòng)器件與MCU/DSC的接口電路設計技巧

  • 本文介紹了一些方法和技巧,可將MCU或DSC的邏輯層輸入/輸出口(I/O)與功率電子驅動(dòng)電路接口,并講述了如何正確地進(jìn)行相關(guān)硬件及軟件開(kāi)發(fā)的方法。
  • 關(guān)鍵字: MCU  DSC  功率驅動(dòng)  器件    

Ramtron推出汽車(chē)級16Kb SPI接口FRAM器件

  • Ramtron推出汽車(chē)級16Kb SPI 接口FRAM  器件FM25C160 滿(mǎn)足汽車(chē)電子AEC-Q100標準認證 此款產(chǎn)品豐富了適用于嚴苛汽車(chē)環(huán)境的汽車(chē)級產(chǎn)品陣容 Ramtron International 公司宣布其16Kb、5V、SPI FRAM存儲器件FM25C160已經(jīng)獲得AEC-Q100標準認證 (汽車(chē)電子設備委員會(huì )針對集成電路而設的測試標準)。FM25C160是第三款達到AEC-Q100標準認證的FRAM器件,
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飛兆推出用于鎮流器的DPAK SuperFET™

Intersil推出微功率實(shí)時(shí)時(shí)鐘/日歷器件

  •   Intersi公司宣布推出兩款全新的微功率實(shí)時(shí)時(shí)鐘/日歷器件。全新ISL1219/21是單一事件時(shí)間戳的理想解決方案,例如拆卸外殼導致質(zhì)保失效的時(shí)刻或安全門(mén)開(kāi)關(guān)等重復性事件。        這些器件能夠通過(guò)發(fā)出輸出信號或在事件發(fā)生時(shí)停止實(shí)時(shí)時(shí)鐘(RTC)寄存器以完成針對某一事件的時(shí)間戳。輸出信號中包含觸發(fā)信號的事件發(fā)生的時(shí)間,具體到年、月、日、小時(shí)、分鐘和秒。        ISL1219/21提供兩種電源選項,即正常電源和備用電池電源。除了
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Linear推出新型低電源電壓監視器件

  •   凌力爾特公司推出具 8 通道欠壓監視輸入的低電源電壓監視器件 LTC2910。LTC2910 在整個(gè)溫度范圍內具有門(mén)限為 0.5V 和門(mén)限準確度為嚴格的 1.5% 的可調輸入,極大地簡(jiǎn)化了最新一代多電源系統的電壓監視。每輸入通道兩個(gè)外部電阻為欠壓監視器決定所需跳變點(diǎn),同時(shí)三態(tài)選擇引腳對輸入門(mén)限極性組合編程,從而允許監視負電源。在任一電源低于工作范圍時(shí),兩個(gè)互補復位輸出信號,同時(shí)輸入干擾濾波器確保不會(huì )出現錯誤或噪聲觸發(fā)。&n
  • 關(guān)鍵字: 8通道  Linear  單片機  低電源電壓  監視  器件  欠壓監視輸入  嵌入式系統  通訊  網(wǎng)絡(luò )  無(wú)線(xiàn)  模擬IC  電源  

擴展TINI的IO性能

  • 本應用筆記逐步演示了如何使用復雜可編程邏輯器件(CPLD)來(lái)配置硬件和開(kāi)發(fā)軟件,從而為T(mén)INIs400插座板額外提供...
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2006年模擬半導體器件可實(shí)現15%增長(cháng)

  •       市場(chǎng)調研公司Databeans Inc.的數據顯示,在消費應用和電信領(lǐng)域的推動(dòng)下,2006年模擬半導體器件市場(chǎng)有望增長(cháng)15%。Databeans公司沒(méi)有給出上述預測的詳細理由。分析師普遍預測2006年總體半導體市場(chǎng)增長(cháng)大約10%?! ?nbsp;   Databeans公司預測2005年模擬芯片市場(chǎng)增長(cháng)2%,從2004年的313.7億美元上升到319.2億美元。該增長(cháng)率低于多數市場(chǎng)調研公司的預估值,這些公司預測2005年模擬
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Microchip推出適用于無(wú)線(xiàn)獨立模擬器件

  •   Microchip發(fā)布其首款適用于智能化125 kHz低頻無(wú)線(xiàn)識別應用的獨立模擬前端(AFE)器件。MCP2030這一新款模擬前端器件配備三通道的應答器,具有可編程天線(xiàn)調節功能,調制深度低至8%,性能堪稱(chēng)業(yè)界最佳。該器件是被動(dòng)無(wú)鑰門(mén)禁、胎壓監測系統(TPMS)、數據采集及其他無(wú)線(xiàn)識別應用的理想解決方案。    MCP2030模擬前端器件還具備高達3 mVpp的可調節的輸入靈敏度。其三通道輸入的架構實(shí)現了三維接收,從而可顯著(zhù)改善覆蓋范圍、天線(xiàn)方向和環(huán)境噪聲等方面的性能。新器
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ACTEL最新推出一百萬(wàn)系統門(mén)PROASIC3器件

  •      Actel公司宣布正式運付其低成本的一百萬(wàn)系統門(mén)ProASIC3器件,以滿(mǎn)足業(yè)界對具成本效益和功能齊全FPGA的需求。與以SRAM為基礎的產(chǎn)品比較,ProASIC3 A3P1000能提供更優(yōu)異的總系統成本、性能、功耗和安全性。ProASIC3器件充分發(fā)揮了Actel以Flash為基礎架構的優(yōu)勢,還支持軟ARM7處理器內核的執行,是講求功耗、成本和尺寸系統設計的最佳解決方案。    Actel的ProASIC3系列產(chǎn)品省去了系統
  • 關(guān)鍵字: ACTEL  PROASIC3  器件  系統門(mén)  
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