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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> crc-32

以Talus Vortex和Talus Vortex FX解決32/28納米IC

  • 前言目前的高端ASIC/ASSP/SoC器件開(kāi)發(fā)商可考慮分為三大類(lèi)：主流、早期采用者和技術(shù)領(lǐng)導者。在寫(xiě)這篇文章的時(shí)候，主流開(kāi)發(fā)商正致力于65納米技術(shù)節點(diǎn)設計，早期采用者開(kāi)發(fā)商正專(zhuān)注于45/40納米節點(diǎn)設計，而技術(shù)領(lǐng)導者開(kāi)
  • 關(guān)鍵字： Vortex  Talus  32  28    

在小尺寸DSP上實(shí)現2D條形碼解碼

  • 條形碼一般被用于將關(guān)鍵的字母數字信息轉換為數字系統能夠掃描和讀取的符號信息，而無(wú)需每次都要將信息錄...
  • 關(guān)鍵字： 2D條形碼  DSP  CRC  解碼  

CRC算法及工作原理

  • CRC算法及工作原理,　　CRC檢驗　　CRC校驗實(shí)用程序庫 在數據存儲和數據通訊領(lǐng)域，為了保證數據的正確，就不得不采用檢錯的手段。在諸多檢錯手段中，CRC是最著(zhù)名的一種。CRC的全稱(chēng)是循環(huán)冗余校驗，其特點(diǎn)是:檢錯能力極強，開(kāi)銷(xiāo)小，易于
  • 關(guān)鍵字： 原理  工作  算法  CRC  

CRC標準及計算過(guò)程

  • CRC標準及計算過(guò)程,標準　　根據應用環(huán)境與習慣的不同，CRC又可分為以下幾種標準：　?、貱RC-12碼;　?、贑RC-16碼;　?、跜RC-CCITT碼;　?、蹸RC-32碼?！　RC-12碼通常用來(lái)傳送6-bit字符串?！　RC-16及CRC-CCITT碼則是用來(lái)傳送8-bit
  • 關(guān)鍵字： 過(guò)程  計算  標準  CRC  

CRC校驗源碼學(xué)習

  • CRC校驗源碼學(xué)習,CRC 根據”權”(即多項表達式)的不同而相應的源代碼也有稍許不同。以下是各種常用的權?！　RC8=X8+X5+X4+1　　CRC-CCITT=X16+X12+X5+1　　CRC16=X16+X15+X5+1　　CRC12=X12+X11+X3+X2+1　　CRC32=X32+X2
  • 關(guān)鍵字： 學(xué)習  源碼  校驗  CRC  

在Virtex-5 FPGA芯片中使用CRC硬模塊

  • 數據損壞是與數據傳輸和存儲有關(guān)的首要問(wèn)題。只要是在通道上傳輸數據，就總會(huì )有出現某些錯誤的有限概率。...
  • 關(guān)鍵字： FPGA  Virtex  Xilinx  CRC  

基于GP32的直流電機控制器測試系統

  • 1．系統的整體設計本系統用于測試直流電機控制器的功能和性能。測試內容主要包括測試控制器的電流 值、速度值和PWM 輸出的波形變化等。測試系統采集到這些值后，通過(guò)串口發(fā)送給PC 方 顯示，能夠方便用戶(hù)監看、分析。
  • 關(guān)鍵字： GP  32  直流電機  控制器    

Semico研究認為2010年全球IC業(yè)將強勁增長(cháng)

  • 　　Semico總裁Jim Feldhan在奧斯汀舉行的ISMI討論會(huì )上表示，明年半導體工業(yè)將有20%的高增長(cháng)，因而設備制造商有望得到未來(lái)數年的好年景。 　　與在兩天會(huì )議中部分經(jīng)濟學(xué)家認為未來(lái)5年全球經(jīng)濟將是暗淡的看法大相徑庭，Jim Feldhan認為今年第四季度前景尚好，即使明年第一季是傳統的淡季，也能有驚奇的增長(cháng)。所以工業(yè)將呈現V型復蘇，其中部分產(chǎn)品的市場(chǎng)相當搶眼。下圖為部分終端電子產(chǎn)品的增長(cháng)趨勢;   　　Semico看到寬帶、無(wú)線(xiàn)及社會(huì )網(wǎng)絡(luò )將是未來(lái)IC消費的推動(dòng)者。 　　如
  • 關(guān)鍵字： GlobalFoundries  15納米  32  45納米  

基于PIC32MX的液晶觸摸屏人機界面設計

  • 介紹Microchip公司的32位單片機PIC32MX460F512L及其并行接口模塊；基于該模塊與所羅門(mén)公司的SSD1926芯片接口，設計了具有觸摸和顯示功能的5．7 in TFT彩色液晶觸模屏；給出了控制策略、硬件接口電路和相關(guān)的程序流程，以及在噴水織機中的應用。實(shí)踐證明，效果良好。
  • 關(guān)鍵字： PIC  32  MX  液晶觸摸屏    

STM32F1 0x在應用中編程的實(shí)現方法

  • 對于基于閃存的嵌入式系統，一個(gè)重要的要求就是，當該系統安裝在終端產(chǎn)品上后具有更新固件的能力，即在應用中編程(In－Application Programming，IAP)。本文介紹了STM32F10x處理器的特點(diǎn)及內存映射；詳細論述了IAP功能的基本原理和IAP驅動(dòng)流程；給出了在STM32F10x處理器中實(shí)現IAP功能的方法。
  • 關(guān)鍵字： STM  32F  32  F1    

TMS 32OF2812與DIP-IPM的通用電路設計

  • 結合三相電機的調速控制原理，對高速數字信號處理器(DSP)TMS320F2812和三菱智能功率模塊DIP-IPM進(jìn)行了詳細的介紹，提出了完整的的通用變頻電路設計方案。實(shí)驗結果表明，該方法控制精度高，工作穩定，能夠實(shí)現多種類(lèi)型變頻調速。
  • 關(guān)鍵字： DIP-IPM  2812  TMS  32    

Modbus RTU協(xié)議在MCF51QE128上的實(shí)現

突破性的 KLA-Tencor 技術(shù)--通過(guò)識別可印刷缺陷實(shí)現高等級光罩檢測

  • 　　【加州圣何塞市 2008 年 4 月 24 日訊】KLA-Tencor 公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今天推出其稱(chēng)為“晶片平面光罩檢測” (Wafer Plane Inspection, WPI) 的最新光罩檢測技術(shù)。該技術(shù)系業(yè)界首次在單一系統上提供既可查找光罩上的所有缺陷，又能顯示只印刷在晶片上的缺陷的多功能性，堪稱(chēng)獨一無(wú)二的光罩檢測突破性技術(shù)。WPI不但征服了對優(yōu)良率至關(guān)重要的 32 納米光罩缺陷檢測的挑戰，它的運行速度也比先前的檢測系統快達40%，從而有望縮短檢測光罩
  • 關(guān)鍵字： KLA-Tencor   光罩檢測  32 納米  

如何用FPGA實(shí)現算法的硬件加速

價(jià)格因素是現在制約國內32位MCU發(fā)展的一方面,但是其高性能使得其發(fā)展趨勢勢不可擋

  • 　　1.?What are the characteristics of China's MCU market? 　　 　　-?發(fā)展重點(diǎn)在消費電子和汽車(chē)領(lǐng)域 　　-?中國的MCU 市場(chǎng)對價(jià)格非常敏感，在選擇MCU 時(shí)，客戶(hù)考慮的是整個(gè)材料清單的成本，而非僅是MCU的成本。要產(chǎn)品取得成功，討論MCU材料清單的優(yōu)點(diǎn)是非常重要的。 　　-?大部分客戶(hù)仍然不預計需要支付軟件費用。使用許可或使用計費的軟件模式在中國還沒(méi)有普遍受落。 　　-?另一方面，客戶(hù)要
  • 關(guān)鍵字： 32-bit MCU  愛(ài)特梅爾  
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