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以Talus Vortex和Talus Vortex FX解決32/28納米IC

作者: 時(shí)間:2010-12-09 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏

前言

目前的高端ASIC/ASSP/SoC器件開(kāi)發(fā)商可考慮分為三大類(lèi):主流、早期采用者和技術(shù)領(lǐng)導者。在寫(xiě)這篇文章的時(shí)候,主流開(kāi)發(fā)商正致力于65納米技術(shù)節點(diǎn)設計,早期采用者開(kāi)發(fā)商正專(zhuān)注于45/40納米節點(diǎn)設計,而技術(shù)領(lǐng)導者開(kāi)發(fā)商正力求超越/納米及更小尺寸節點(diǎn)設計。隨著(zhù)技術(shù)采用開(kāi)發(fā)步伐的日益加快,下一代的早期采用者過(guò)渡到/納米節點(diǎn)的時(shí)間將不會(huì )很久,而他們的主流開(kāi)發(fā)商同行也將緊隨其后。

進(jìn)行/納米節點(diǎn)設計時(shí)會(huì )遇到許許多多的問(wèn)題,包括:低功耗設計、串擾效應、工藝變異及操作模式和角點(diǎn)數量的顯著(zhù)增加。本文首先會(huì )為您呈現微捷碼® 1.2物理實(shí)現流程的高層次視圖,接著(zhù)將介紹32/28納米節點(diǎn)設計所包含的一些問(wèn)題并描述 1.2是如何解決的這些問(wèn)題。

除了上述技術(shù)問(wèn)題以外,32/28納米節點(diǎn)日益提高的設計規模和復雜性還造成了工程資源(在不擴大團隊規模的前提下取得更大成果,同時(shí)還保持甚至縮短現有時(shí)間表)、硬件資源(無(wú)須增加內存或購買(mǎi)全新設備,利用現有設備和服務(wù)器處理更大型設計)、滿(mǎn)足日益緊張的開(kāi)發(fā)時(shí)間表等方面相關(guān)問(wèn)題的增加。為了解決這些問(wèn)題,本文還將描述通過(guò) FX創(chuàng )新性的Distributed Smart Sync™(分布式智能同步)技術(shù), Talus Vortex顯著(zhù)地提高了其容量和性能。Talus Vortex FX 提供了首款且唯一一款分布式布局布線(xiàn)解決方案。

Talus Vortex 1.2物理實(shí)現流程介紹

圖1所展示的是標準Talus Vortex 1.2物理流程的高層次視圖。從圖中,您不難觀(guān)察到它先假設了芯片級網(wǎng)表的存在,此網(wǎng)表可能已通過(guò)微捷碼或第三方的設計輸入和綜合工具而生成。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/191447.htm
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圖 1. 標準Talus Vortex 1.2流程高級視圖
第一步,準備好網(wǎng)表;這包括了各種任務(wù),如:如確定輸入/輸出焊盤(pán)(I/O pad)及所有宏單元的位置。第二步,進(jìn)行標準單元 布局(這是與全局布線(xiàn)同時(shí)進(jìn)行,因為布線(xiàn)可能影響到單元布局,而單元布局也會(huì )對布局造成影響)。

在完成初始單元布局之后,第三步是綜合時(shí)鐘樹(shù), 將其添加到設計中。多數時(shí)鐘樹(shù)綜合工具并非執行真正的多模多角(MMMC)時(shí)鐘樹(shù)實(shí)現,而是將時(shí)序環(huán)境分為best-case(最佳情況)和worst- case(最差情況)角點(diǎn)。但這種做法過(guò)于的悲觀(guān),會(huì )導致性能一直處于“毫無(wú)起色”的狀態(tài)。在32/28納米節點(diǎn),實(shí)現真正的MMMC時(shí)鐘樹(shù)勢在必行(另見(jiàn)后文32/28納米主題中“MMMC問(wèn)題”部分)。 因此Talus 1.2的時(shí)鐘樹(shù)綜合部署了完整的MMMC分析,以平均10%的延遲性改善和10% 的面積縮小實(shí)現了更為先進(jìn)的魯棒性時(shí)鐘系統,如圖2所示
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圖2. 全MMMC時(shí)鐘樹(shù)綜合實(shí)現了更為先進(jìn)的魯棒性時(shí)鐘系統
一旦時(shí)鐘樹(shù)添加成功,那么第四步是執行復雜的優(yōu)化工作。而接下來(lái)的第五步則是進(jìn)行詳細布線(xiàn)。Talus 1.2流程的收斂特性確保了詳細布線(xiàn)結束時(shí)的時(shí)序可與流程早期所見(jiàn)到的時(shí)序密切吻合,甚至在考慮到串擾時(shí)也是如此(另見(jiàn)后文32/28納米主題中 “串擾問(wèn)題”部分)。
32/28納米低功耗問(wèn)題
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圖3. 功耗是目前芯片設計最為關(guān)心的問(wèn)題
工程師能夠部署各種各樣的技術(shù)來(lái)控制器件的動(dòng)態(tài)(開(kāi)關(guān))功耗和漏電功耗。這些技術(shù)包括(但不限于)多開(kāi)關(guān)閾值(multi-Vt)晶體管的使用、多電源多電壓(MSMV)、動(dòng)態(tài)電壓與頻率縮放(DVFS)及電源關(guān)斷(PSO)。

在多開(kāi)關(guān)閾值晶體管情況下,非關(guān)鍵時(shí)序路徑上的單元可由漏電量較低、功耗較少、開(kāi)關(guān)速度較慢的高開(kāi)關(guān)閾值(high-Vt)晶體管來(lái)組成;而關(guān)鍵時(shí)序路徑上的單元則可由漏電量較高、功耗較多、開(kāi)關(guān)速度顯著(zhù)加快的低開(kāi)關(guān)閾值(low-Vt)晶體管來(lái)組成。

多電源多電壓(MSMV)所包括的芯片可分為不同區域(有時(shí)稱(chēng)為“電壓島”或“電壓域),不同區域擁有不同的供電電壓。分配到較高電壓島的功能塊將擁有較高性能和較高功耗;而分配到較低電壓島的功能塊則將擁有較低性能和較低功耗。

動(dòng)態(tài)電壓與頻率縮放(DVFS)技術(shù)的使用是通過(guò)改變一個(gè)或多個(gè)功能塊的相關(guān)電壓或頻率來(lái)優(yōu)化性能與功耗間折衷權衡。例如:1.0V的額定電壓在功能塊活動(dòng)率低時(shí)可降至0.8V以降低功耗,或在需要時(shí)它也可以提至1.2V以提高性能。同樣地,額定時(shí)鐘頻率可在功能塊活動(dòng)率相對低時(shí)減至一半,或它也可增強一倍以滿(mǎn)足短時(shí)間爆發(fā)的高性能需求。

顧名思義,電源關(guān)斷(PSO)系指切斷選定的目前不在使用中的功能塊的電源。盡管這項技術(shù)在省電方面效果非常好,但它需要考慮到的問(wèn)題真的很多,如:為避免造成電流浪涌,要按特殊順序給相關(guān)功能塊的供電和關(guān)電。

Talus Vortex 1.2提供了一款完整的集成化低功耗解決方案,包括一種自動(dòng)化低功耗綜合方法,可與跨多電壓和頻率區域的并行分析與優(yōu)化功能結合使用。 Talus 1.2不僅不會(huì )對所使用的不同晶體管開(kāi)關(guān)閾值的數量進(jìn)行限制,同時(shí)還支持無(wú)限的電壓、頻率和電源切斷區域。此外,Talus 1.2完全支持通用功率格式(CPF)和統一功率格式(UPF)。這兩種格式讓設計團隊能夠先從功耗角度出發(fā)把握設計意圖,然后再推動(dòng)下游規劃、實(shí)現和驗證策略(見(jiàn)側邊欄)。
32/28納米串擾問(wèn)題

時(shí)鐘頻率的持續提高與供電電壓的日益降低意味著(zhù)對串擾型延時(shí)變化、功能失效等信號完整性(SI) 效應的敏感度在不斷提高。在32/28納米節點(diǎn),由于更近的相鄰軌道、橫截面(32/28納米節點(diǎn)的軌道的高度可能大于其寬度,如圖4 所示,它增大了相鄰軌道耦合電容)以及金屬化的軌道和通孔的電阻的提高(相對而言),因此這些效應也進(jìn)一步增強。
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圖4. 32/28納米節點(diǎn)軌道的高度可能超過(guò)其寬度。
Talus 1.2以基于軌道的復雜優(yōu)化算法而著(zhù)稱(chēng),它使得用戶(hù)在流程更早期的全局布線(xiàn)期間就可解決串擾問(wèn)題。Talus 1.2解決串擾相關(guān)問(wèn)題的方式有很多,最基本的方式是使用最佳層分配和通過(guò)可用資源的擴散布線(xiàn);它會(huì )有效管理這種擴散以避免對線(xiàn)長(cháng)或通孔數量造成的顯著(zhù)負面影響。此外,全局布線(xiàn)器自帶有多線(xiàn)程功能,可獲得超高的性能水平。
為了獲得高性能,所有全局布線(xiàn)器會(huì )先做假設。如 :在“桶(bucket)”中放置導線(xiàn),每個(gè)“桶”中的導線(xiàn)都設置于相互的頂部,因此一開(kāi)始就可以直觀(guān)地看到。在多數環(huán)境中,流程下游的軌道的真正排序和布局工作是留待詳細布線(xiàn)器來(lái)完成。而解決流程下游的串擾問(wèn)題要花費多上一個(gè)數量級的精力,而且按需修復(如:上調單元的尺寸會(huì )伴隨面積和漏電功耗的相應增加)可能不是最佳、乃至可完成的方法。
事實(shí)上,只有在知道軌道排序及其空間關(guān)系時(shí)才有可能精確評估潛在的串擾效應。因此Talus 1.2將全局軌道區段轉換為空間上可布局的區段,然后再使用這一區段在流程更早期就對潛在的串擾問(wèn)題進(jìn)行評估;這樣通過(guò)在全局布線(xiàn)階段對線(xiàn)路的重新排序和設置, 所有的串擾問(wèn)題都可以在流程的更早階段得到解決。在全局布線(xiàn)階段所做的這些修改接下來(lái)還可用于為流程下游的詳細布線(xiàn)器提供指導,這樣便可以少得多的計算工作獲得更優(yōu)的解決方案。
32/28納米工藝變異問(wèn)題

對于以180納米及更高技術(shù)節點(diǎn)制造的硅芯片來(lái)說(shuō),所需的只是解決些少量晶圓間變異,即源自不同晶圓的晶粒在時(shí)序(性能)、功耗等特征方面的差異。這種差異可能是由于從一家代工廠(chǎng)到另一家代工廠(chǎng)的制程變異和儀器及操作環(huán)境微小差異所造成,如:爐溫、摻雜程度、蝕刻濃度、用以形成晶圓的光刻掩膜等等。

在較高技術(shù)節點(diǎn)時(shí),所有晶粒間工藝變異(同一晶圓上各晶粒間差異)和晶粒內工藝變異(同一晶粒上各區域間差異)相對來(lái)說(shuō)并沒(méi)那么重要。(晶粒間變異也被稱(chēng)之為“全局”、“芯片到芯片”、“晶粒到晶粒”變異。)例如:如果一個(gè)芯片的核心電壓為2.5V,那么在多數情況下會(huì )假設整個(gè)晶粒擁有一致和穩定的 2.5V電壓; 同樣的也會(huì )假設整個(gè)晶粒上擁有統一的芯片溫度。

隨著(zhù)尺寸越來(lái)越小的新技術(shù)節點(diǎn)浮出水面,晶粒間與晶粒內工藝變異變得日益重要。這些變異中有些是系統變異,這意味著(zhù)它會(huì )隨著(zhù)單元級電路功能而改變。例如:晶圓片中心附近所制造的芯片與朝向晶圓片邊緣所制造的芯片相比,其相關(guān)的某些參數可能會(huì )有所不同;在這種情況下,可以預測所有參數都將受到類(lèi)似影響;而一些參數還會(huì )在隨機變異的情況下獨立地波動(dòng),據說(shuō)這可能是基于區域的變異(相對于基于距離的變異)。
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圖5.在32/28納米節點(diǎn),晶粒間與晶粒內變異極為重要。
晶粒間與晶粒內工藝變異統稱(chēng)為片上變異 (OCV),在32/28納米節點(diǎn)變得極為重要。這是由于隨著(zhù)每個(gè)新技術(shù)節點(diǎn)的推出,控制如晶體管結構的寬度和厚度、軌道和氧化層等關(guān)鍵尺寸變得更為困難,最終導致相對變異百分率(與某些中值相比較)會(huì )隨著(zhù)每個(gè)新的技術(shù)節點(diǎn)而變得更大。
解決OCV的傳統方式是使用一階方案(first-order approach),包括在整個(gè)芯片上應用一攬子容限。不過(guò)在32/28納米節點(diǎn),這種方法過(guò)于悲觀(guān),會(huì )導致過(guò)度設計、設計性能降低和時(shí)序收斂周期變長(cháng)。因此Talus 1.2部署了復雜的高級OCV (AOCV)算法,基于單元和軌道的鄰近性(如:兩個(gè)相鄰單元與位于晶粒相反兩端的兩個(gè)單元相比較,相互間相關(guān)潛在變異會(huì )更少)來(lái)應用上下文特定的降額值。這種更為實(shí)際的模式可降低超額的容限,進(jìn)而減少悲觀(guān)的時(shí)序違規并提高器件性能。

32/28納米多模多角(MMMC)問(wèn)題

除了前文主題中所提及的制造工藝的變異以外,我們還必須解決芯片使用的環(huán)境條件(如:電壓和溫度)存在的潛在變異問(wèn)題。所有這些變異均可歸入PVT(工藝、電壓和溫度)項目范圍。

對于以更早期技術(shù)節點(diǎn)所創(chuàng )建的器件來(lái)說(shuō),晶粒間與晶粒內PVT差異可以忽略不計。先做假設,然后基于整個(gè)芯片表面具有一致的工藝變異這一事實(shí)、基于整個(gè)晶粒上具有穩定的核心電壓和溫度等環(huán)境條件這一事實(shí)來(lái)簡(jiǎn)化工作是有可能的?;谶@些假設,通過(guò)采用一系列bese-case條件(最高允許電壓、最低允許溫度等),確定每條路徑bese-case(最?。┭訒r(shí)會(huì )相對容易;同樣的,通過(guò)采用一系列worst-case條件(最低允許電壓、最高允許溫度等),確定每條路徑worst-case(最大)延時(shí)也會(huì )相對容易。
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圖6. 在 32/28納米節點(diǎn)需要解決大量模式和角點(diǎn)。
如worst-case和best-case PVT等特定系列條件就是我們俗稱(chēng)的“角點(diǎn)”。在32/28納米技術(shù)節點(diǎn),晶粒間與晶粒內PVT差異十分明顯,解決大量模式和角點(diǎn)的工作是必不可少的。而且,前文提過(guò)的低功耗設計技術(shù)還會(huì )讓這一問(wèn)題進(jìn)一步復雜化。例如:在多電源多電壓(MSMV)技術(shù)情況下,可能一個(gè)電壓島的電壓值為其允許電壓范圍內最低電壓,另一個(gè)電壓島的電壓值為其允許電壓范圍內最高電壓,而其余電壓島的電壓值則會(huì )在這兩者之間 。又如:有的芯片具有不同操作模式、擁有的一個(gè)或多個(gè)電路模塊位于在電源切斷的晶粒中心都將導致所需分析的角點(diǎn)情況顯著(zhù)增加。

目前工具的問(wèn)題在于:實(shí)現期間 ,芯片必須可在MMMC前景下進(jìn)行優(yōu)化 。許多現有系統通過(guò)先考量已假設的worst-case情景、然后對別的條件進(jìn)行優(yōu)化的方式來(lái)著(zhù)手處理優(yōu)化問(wèn)題。遺憾的是,這可能導致過(guò)度悲觀(guān)主義,造成次優(yōu)性能。甚至更糟的是,如果這些關(guān)于哪些是worst-case情景的假設是錯誤的,那么結果可能是得到完全不管用的芯片。 Talus 1.2內置有自帶MMMC處理功能,這意味著(zhù)優(yōu)化過(guò)程不會(huì )漏掉任何情景。此外,Talus 1.2的高速度和大容量還意味著(zhù),它能夠考慮到的不只是較小子集的實(shí)現情景,而是這款工具需要處理的整個(gè)系列的簽核情景。因此,Talus 1.2可提供更好的性能和更短的實(shí)現周期。

以 Distributed Smart Sync技術(shù)增強Talus Vortex的性能

前文所提及的物理實(shí)現流程每個(gè)步驟都是屬于計算密集型問(wèn)題。而且為了解決伴隨技術(shù)節點(diǎn)而增加的復雜性,每個(gè)節點(diǎn)必須執行的計算量也在提高。此外,當器件中所集成的功能越來(lái)越多時(shí), 設計的規模和復雜性會(huì )隨著(zhù)每個(gè)節點(diǎn)而提高,物理實(shí)現相關(guān)的計算需求也會(huì )相應增加。

再有一個(gè)因素就是:功能模塊的尺寸(為實(shí)現模塊功能所需的單元數量)也會(huì )隨著(zhù)每項功能中包裝進(jìn)越來(lái)越多特性而不斷增加。一些物理實(shí)現團隊偏愛(ài)層次化方案,而另外一些團隊則更喜歡使用“扁平化”方案,因為他們感覺(jué)在使用層次化方案時(shí)放棄了太多東西。

如果工具具有處理更大型電路模塊的能力,那么生產(chǎn)率就可得到即時(shí)的提升。例如:定義和微調層次化模塊間約束是極為耗時(shí)的資源密集型工作。如果這些工具具有處理更大型電路模塊的能力,那么就不需要定義子模塊間約束,因為不會(huì )有任何子模塊存在。這會(huì )大大提高生產(chǎn)率。

問(wèn)題在于:多數布局布線(xiàn)解決方案都局限于只能處理幾百萬(wàn)個(gè)單元。這常迫使物理實(shí)現工程師由于工具的局限性而不得不人工將電路模塊進(jìn)行分割。而這也對工程師生產(chǎn)率造成了影響。.
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