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三星Galaxy Watch FE進(jìn)軍入門(mén)智能手表市場(chǎng)
- 三星樂(lè )觀(guān)看待智慧手表市場(chǎng)成長(cháng)趨勢，今日宣布推出全新Galaxy Watch FE，集結耐用的藍寶石玻璃設計及亮眼外型、完善的運動(dòng)追蹤與全方位健康監測功能，以親民價(jià)格即享眾多優(yōu)異體驗。Galaxy Watch FE（藍牙版）共推出「曜石黑」、「玫瑰金」、「星夜銀」三款顏色，建議售價(jià)NT$5,990，自6月下旬起于全臺各大通路正式上市，消費者凡于7月16日前在全通路購買(mǎi)三星不限型號手機或平板，即可現折NT$1,000加購Galaxy Watch FE，五千有找輕松入手，開(kāi)啟嶄新智慧生態(tài)圈體驗。三星電子行動(dòng)通訊
- 關(guān)鍵字： 三星 Galaxy Watch FE 智能手表
五位半導體行業(yè)專(zhuān)家對芯片缺陷分析
- 在圓桌會(huì )議上，半導體工程專(zhuān)家們就“半導體和封裝技術(shù)日益增加的復雜性將如何推動(dòng)故障分析方法的轉變”展開(kāi)了討論，討論嘉賓包括Bruker Nano Surfaces&Metrology應用與產(chǎn)品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企業(yè)業(yè)務(wù)部產(chǎn)品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程師Kamran Hakim、賽默飛世爾科技高級產(chǎn)品專(zhuān)家Jake Jensen以及賽默飛世爾科技高級營(yíng)銷(xiāo)經(jīng)理Paul Kirby。以下是這場(chǎng)討論的精彩摘錄。[從左到右]
- 關(guān)鍵字： 先進(jìn)封裝，FA SEM TEM
更小、更快、更節能，半導體芯片迎大突破
- 最先進(jìn)的電子硬件在大數據革命面前都顯得有些“捉襟見(jiàn)肘”，這迫使工程師重新思考微芯片的幾乎每一個(gè)方面。隨著(zhù)數據集的存儲、搜索和分析越來(lái)越復雜，這些設備就必須變得更小、更快、更節能，以跟上數據創(chuàng )新的步伐。鐵電場(chǎng)效應晶體管（FE-FETs）是應對這一挑戰的最有趣的答案之一。這是一種具有鐵電性能的場(chǎng)效應晶體管。它利用鐵電材料的非易失記憶性質(zhì)，在其中植入場(chǎng)效應和電荷積累，實(shí)現了長(cháng)期穩定的記憶效應。與傳統存儲器相比，它具有低功耗、高速度、高密度等優(yōu)勢。因此，一個(gè)成功的FE-FET設計可以大大降低傳統器件的尺寸和能量使
- 關(guān)鍵字： 半導體芯片 FE-FET
是德科技為低壓高分辨率 FE-SEM 系統增添完全集成的 EDS 功能
- 是德科技公司日前宣布，其最新型場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術(shù)領(lǐng)先的緊湊型低電壓 FE-SEM(場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡)，可以為科學(xué)家提供強大的能譜分析功能。 這款場(chǎng)即插即用型發(fā)射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡(jiǎn)單，只需連接交流電源插座即可使用，是各類(lèi)實(shí)驗室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。 最新 8500B 系統具有完全集成的硅漂移 x 射線(xiàn)探測器、數字多通道分析儀和直
- 關(guān)鍵字： 是德科技 FE-SEM
艾瑞：受北美SEM市場(chǎng)發(fā)展啟發(fā) 中國SEM市場(chǎng)始動(dòng)
- adSage繼2007年底在北美地區推出ad Intelligence和ad Management引起北美SEM行業(yè)重視后，在2008年2月，adSage（中國）公司與百度合作，最先推出百度競價(jià)排名廣告系統管理工具 adSage for Baidu，成為基于百度API的第一款搜索營(yíng)銷(xiāo)（SEM）工具，這也標志著(zhù)中國SEM市場(chǎng)受北美SEM市場(chǎng)發(fā)展的影響，迅速進(jìn)入到與國際接軌的時(shí)代。 而2008年3月，百度與美國網(wǎng)絡(luò )業(yè)務(wù)優(yōu)化軟件提供商O(píng)mniture開(kāi)展戰略合作，百度將向Omniture開(kāi)放AP
- 關(guān)鍵字： SEM
應用材料公司推出全新SEMVision G4缺陷再檢測系統
- 近日，應用材料公司推出最先進(jìn)的缺陷再檢測SEM(掃描電子顯微鏡)SEMVision™ G4系統，它將應用材料公司非常成功的SEMVision系統的技術(shù)和生產(chǎn)能力提升到45納米及更小的技術(shù)節點(diǎn)。SEMVision G4系統的關(guān)鍵在于全新的SEM聚焦離子槍技術(shù)和增強的多視角SEM成像系統(MPSI)，他們具有卓越的2納米物理精度，能提供無(wú)與倫比的成像質(zhì)量，其每秒一個(gè)缺陷的檢測速度也設定了新的基準。 應用材料公司工藝診斷和控制事業(yè)部SEM部門(mén)總經(jīng)理Ronen Benzion表示：“45納米
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 應用材料 EMVision G4 SEM 測量工具
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