<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></s></dfn><small id="yhprb"></small><dfn id="yhprb"></dfn><small id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></small><small id="yhprb"></small><small id="yhprb"></small> <delect id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></delect><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><s id="yhprb"><noframes id="yhprb"><small id="yhprb"><dfn id="yhprb"></dfn></small><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><small id="yhprb"></small><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn> <small id="yhprb"></small><delect id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></delect><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></s></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>
首頁(yè)  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會(huì )展  EETV  百科   問(wèn)答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動(dòng)中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測試

2009年全球半導體設備銷(xiāo)售額達159.2億美元

  •   SEMI報告顯示2009年全球半導體設備銷(xiāo)售額達159.2億美元,年降46%,其中日本銷(xiāo)量降幅最大,中國臺灣地區以43.5億美元設備銷(xiāo)售額位居銷(xiāo)量第一。   國際半導體設備及材料協(xié)會(huì )(SEMI)3月10日消息,2009年全球半導體制造設備銷(xiāo)售總額達到159.2億美元,較2008年下降了46%。這些數據收錄入于《全球半導體設備市場(chǎng)統計報告》(Worldwide Semiconductor Equipment Market Statistics(SEMI)Report, WWSEMS)。   該報告由
  • 關(guān)鍵字: 半導體設備  測試  晶圓加工  

衛星通訊的通道仿真和測試解決方案(圖)

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
  • 關(guān)鍵字: 衛星通訊  Aeroflex寬帶通道  仿真  測試  

基于BIST的編譯碼器IP核測試

  • 1 引言  隨著(zhù)半導體工藝的發(fā)展,片上系統SOC已成為當今一種主流技術(shù)?;贗P復用的SOC設計是通過(guò)用戶(hù)自定義邏輯(UDL)和連線(xiàn)將IP核整合為一個(gè)系統,提高了設計效率,加快了設計過(guò)程,縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。但是隨著(zhù)設
  • 關(guān)鍵字: BIST  編譯碼器  IP核  測試    

雙絞線(xiàn)傳輸器橫紋干擾模擬測試實(shí)驗和解決辦法

  • 在使用雙絞線(xiàn)傳輸器時(shí),有時(shí)因為環(huán)境的因素,造成監視器上會(huì )出現網(wǎng)紋干擾的現象,為此,優(yōu)特普做了如下模擬實(shí)驗進(jìn)行分析,并提出解決的辦法。一、實(shí)驗設備:前端設備攝像機、后端設備監視器、雙絞線(xiàn)傳輸器UTP101
  • 關(guān)鍵字: 實(shí)驗  解決  辦法  測試  模擬  傳輸  干擾  絞線(xiàn)  視頻信號  

LTE測試解決方案:滿(mǎn)足LTE開(kāi)發(fā)需求

  • 2009年底,歐洲電信運營(yíng)商TeliaSonera宣布開(kāi)通LTEFDD商用網(wǎng)絡(luò ),從而揭開(kāi)了LTEFDD商用的大幕。2010年中國移動(dòng)將...
  • 關(guān)鍵字: LTEFDD  LTE  信號  商用網(wǎng)絡(luò )  測試  方案  

力科在發(fā)布PCIe 3.0綜合測試解決方案

  •   第一個(gè)支持PCIe 3.0的高性能通訊發(fā)生器和練習器 Summit Z3-16 Exerciser   同步2臺WaveMaster 8 Zi 在4通道上同時(shí)提供30GHz帶寬的Zi-8CH-SYNCH同步器   第一個(gè)針對PCIe集成了示波器和協(xié)議分析儀的ProtoSync PE   第一個(gè)嵌入到仿真軟件的PCIe協(xié)議分析儀SimPASS   2010年2月2日,力科在DesignCon 2010上首次公布將PCIe 3.0測試解決方案延伸到芯片開(kāi)發(fā)的所有階段。此外,力科還發(fā)布了Zi-8CH
  • 關(guān)鍵字: 力科  PCIe 3.0  測試  

淺談TD-SCDMA智能天線(xiàn)基本原理和測試方法

  • 1 引言作為第三代移動(dòng)通信系統標準之一的TD-SCDMA,采用了兩項最為關(guān)鍵的技術(shù),即智能天線(xiàn)技術(shù)和聯(lián)合檢測技術(shù)。其中智能天線(xiàn)對于系統的作用主要包括:(1)通過(guò)多個(gè)天線(xiàn)通道功率的最大比合并以及陣列信號處理,明顯
  • 關(guān)鍵字: 原理  測試  方法  基本  天線(xiàn)  TD-SCDMA  智能  淺談  

TD-HSDPA PS異系統間重試及外場(chǎng)測試疏導擁塞

  •  作為T(mén)D-SCDMA無(wú)線(xiàn)資源管理的關(guān)鍵算法之一,準入控制(AC:AccessControl)是通過(guò)建立一個(gè)無(wú)線(xiàn)接入承載(RB:RadioBearer)來(lái)接納或拒絕一個(gè)請求。當RB建立或發(fā)生改變的時(shí)候,需要執行接入控制算法。當系統負載比較高的
  • 關(guān)鍵字: TD-HSDPA  系統  測試    

電池電量的兩種測試方法

  • 檢測普通鋅錳干電池的電量是否充足,通常有兩種方法。第一種方法是通過(guò)測量電池瞬時(shí)短路電流來(lái)估算電池的內阻,進(jìn)而判斷電池電量是否充足;第二種方法是用電流表串聯(lián)一只阻值適當的電阻,通過(guò)測量電池的放電電流計算
  • 關(guān)鍵字: 方法  測試  電量  電池  

TD-LTE系統組網(wǎng)測試中下行流量的測試

  • 無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )側用戶(hù)數據處理的流程 圖1-1 3GPP LTE網(wǎng)絡(luò )的用戶(hù)面協(xié)議?! D1-1是3GPP LTE網(wǎng)絡(luò )的用戶(hù)面協(xié)議棧 [1]。左邊藍色框內是無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )側的用戶(hù)面協(xié)議棧。下行數據從核心網(wǎng)傳輸到基站側后,經(jīng)過(guò)PDCP層、RLC層和MAC層
  • 關(guān)鍵字: TD-LTE  測試  系統  流量    

電磁兼容設計及測試

  • 摘要:針對當前嚴峻的電磁環(huán)境,分析了電磁干擾的來(lái)源,通過(guò)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)流程的分解,融入電磁兼容設計,從原理圖設計、PCB設計、元器件選型、系統布線(xiàn)、系統接地等方面逐步分析,總結概括電磁兼容設計要點(diǎn),最后,介紹了
  • 關(guān)鍵字: 電磁兼容設計  測試    

為存儲器測試開(kāi)發(fā)低成本的解決方案

  • 便攜式技術(shù)的發(fā)展使人們越來(lái)越依賴(lài)蜂窩電話(huà)、PDA和導航系統這類(lèi)便攜式裝置。隨著(zhù)處理器技術(shù)的不斷進(jìn)步,過(guò)去幾年中大容量存儲器件的設計和開(kāi)發(fā)呈指數級增長(cháng)。例如,從蘋(píng)果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano產(chǎn)品
  • 關(guān)鍵字: 存儲器  測試  方案    

TD測試儀器:市場(chǎng)需求看好 國內企業(yè)爭先

  •   TD技術(shù)本身有自己不同于其他標準的特點(diǎn),比如其頻譜利用率比較高,而頻譜資源是有限的,隨著(zhù)無(wú)線(xiàn)通信業(yè)務(wù)的開(kāi)展,大家對頻譜的需求會(huì )越來(lái)越多。因此,TD的優(yōu)勢很明顯,但其技術(shù)復雜度也相對高很多。   作為3G通信產(chǎn)業(yè)鏈中必不可少的一環(huán),在3G市場(chǎng)逐漸走暖的大背景下,3G特別是TD-SCDMA(以下簡(jiǎn)稱(chēng)TD)測試儀器市場(chǎng)需求不斷增加。測試儀器廠(chǎng)商相對集中的北京已經(jīng)成為T(mén)D測試儀器技術(shù)和市場(chǎng)的高地。   TD漸熱測試儀器市場(chǎng)看好   北京星河亮點(diǎn)通信軟件有限責任公司執行副總裁張小慶在接受《中國電子報》記者
  • 關(guān)鍵字: TD-SCDMA  測試  
共2423條 74/162 |‹ « 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 » ›|

測試介紹

  中文名稱(chēng):   測試   英文名稱(chēng):   test   定義1:   對在受控條件下運動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測。   應用學(xué)科:   航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗。   應用學(xué)科:   通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細 ]
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì )員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473
国产精品自在自线亚洲|国产精品无圣光一区二区|国产日产欧洲无码视频|久久久一本精品99久久K精品66|欧美人与动牲交片免费播放
<dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></s></dfn><small id="yhprb"></small><dfn id="yhprb"></dfn><small id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></small><small id="yhprb"></small><small id="yhprb"></small> <delect id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></delect><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><s id="yhprb"><noframes id="yhprb"><small id="yhprb"><dfn id="yhprb"></dfn></small><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><small id="yhprb"></small><dfn id="yhprb"><delect id="yhprb"></delect></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn> <small id="yhprb"></small><delect id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></delect><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn><dfn id="yhprb"></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"><strike id="yhprb"></strike></s></dfn><dfn id="yhprb"><s id="yhprb"></s></dfn>