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測試
測試 文章 進(jìn)入測試技術(shù)社區
ERS進(jìn)入中國的第六年：實(shí)驗室落戶(hù)上海
- 作為半導體從業(yè)者，我們都知道芯片制造程序大致有IC設計、晶圓制造和封裝三大環(huán)節，每個(gè)環(huán)節都會(huì )影響到產(chǎn)品的好壞?？偟膩?lái)說(shuō)，一顆設計完好的芯片的良率主要受到晶圓制造和封裝環(huán)節的影響，所以必須要通過(guò)測試環(huán)節來(lái)把控芯片質(zhì)量的優(yōu)劣。而半導體測試主要包括芯片設計環(huán)節中的設計驗證、晶圓制造中的晶圓針測以及成品測試。晶圓針測通常發(fā)生在晶圓加工完成后，封裝工藝進(jìn)行前，主要用到的設備是探針臺，用于晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測試。通過(guò)電學(xué)參數檢測等，測試晶圓上每個(gè)晶粒的有效性，標記異常的晶粒，減少后續
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車(chē)載以太網(wǎng)“無(wú)損”測試，為智能汽車(chē)傳輸網(wǎng)絡(luò )提速
- 汽車(chē)以太網(wǎng)正在成為新一代智能網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)信號互聯(lián)的主干道，主血管。如何準確的對汽車(chē)以太網(wǎng)進(jìn)行測試，為智能汽車(chē)傳輸網(wǎng)絡(luò )提速，保證汽車(chē)自動(dòng)駕駛和智能座艙系統的安全運轉，成為現代汽車(chē)工程師的頭等難題。 以太網(wǎng)應用成為汽車(chē)傳輸的趨勢 車(chē)載以太網(wǎng)是用于連接汽車(chē)內各種電氣設備的一種物理網(wǎng)絡(luò )。在傳統以太網(wǎng)協(xié)議基礎上，改變了物理接口的電氣特性，并結合車(chē)載網(wǎng)絡(luò )需求定制了一些新標準。通過(guò)汽車(chē)以太網(wǎng)，多個(gè)車(chē)載系統可以經(jīng)過(guò)一條非屏蔽單絞線(xiàn)電纜同時(shí)訪(fǎng)問(wèn)信息。對汽車(chē)制造商來(lái)說(shuō)，這一技術(shù)顯著(zhù)降低了聯(lián)網(wǎng)成本和線(xiàn)纜重量， 同時(shí)提高了信號帶寬與
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寬帶多通道調試信號分析利器，滿(mǎn)足RF新技術(shù)復雜測試要求
- RF復雜測試對測試設備提出更高需求無(wú)線(xiàn)通信系統的不斷更新產(chǎn)生了對先進(jìn)RF測試設備的需求，以滿(mǎn)足這項新技術(shù)的復雜測試要求。這些測試設備需要能夠處理更高的頻率、更寬的帶寬和更復雜的調制方案。? 波束成形：使用先進(jìn)的波束成形技術(shù)來(lái)提高信號強度和質(zhì)量。多通道測試應側重于測試系統的波束成形能力，包括波束控制、波束跟蹤和波束成形算法性能。? 大規模MIMO：大規模MIMO技術(shù)涉及使用大量天線(xiàn)來(lái)提高信號質(zhì)量和容量。多通道測試應側重于測試大規模MIMO系統的性能，包括天線(xiàn)放
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【汽車(chē)創(chuàng )新三大驅動(dòng)力】系列之二： 如何應對車(chē)輪上的數據中心測試挑戰攀升？
- 汽車(chē)行業(yè)技術(shù)創(chuàng )新的核心是三大發(fā)展趨勢：電氣化和電池、聯(lián)網(wǎng)汽車(chē)及其后續數據、自動(dòng)化。在上一篇文章中，我們討論了電氣化和電池，以及一次充電增加容量和續航里程的關(guān)鍵挑戰。在這篇文章中，我們將介紹智能網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)，它在車(chē)輪上創(chuàng )建了一個(gè)自動(dòng)數據中心。未來(lái)汽車(chē)電子架構趨向ECU集中化整合今天的現代汽車(chē)更像是一個(gè)有輪子的數據中心，到處都有傳感器將信息反饋給中央計算機。這些傳感器通常通過(guò)CAN網(wǎng)絡(luò )連接，構成一個(gè)內部的車(chē)載網(wǎng)絡(luò )。其中尤為重要的是，確保車(chē)輛運行和安全相關(guān)的數據得到優(yōu)先考慮。您肯定不希望音樂(lè )系統阻塞傳遞關(guān)鍵信息的信
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益萊儲2023新年展望：高適應性是新時(shí)代的競爭力
- 也許你陽(yáng)過(guò)了，或者正在辛苦經(jīng)歷中，或者還陰著(zhù)，無(wú)論身處何種狀態(tài)，我們是在欣喜中告別計劃趕不上變化的舊年或抗疫的三年，迎來(lái)更自由奔放、更篤定和更值得慶賀的2023新兔年！我們終將擺脫病毒的困擾，重新?lián)肀г?jīng)熟悉的一切。益萊儲亞太區高級副總裁潘海夢(mèng)數字技術(shù)在潤物細無(wú)聲中改變著(zhù)我們的工作/學(xué)習方式、生活習慣，乃至文化習俗等。從居家遠程辦公、線(xiàn)上網(wǎng)課走進(jìn)千家萬(wàn)戶(hù)，到疫情防控大數據，到共享單車(chē)、新能源汽車(chē)/高級輔助駕駛及出行相關(guān)的各種支付方式，再到購物、買(mǎi)菜、物流及日常通訊方式等等，數字化滲透到人們日常的每個(gè)角落。
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從測試角度看寬禁帶技術(shù)的挑戰，泰克為工程師提供簡(jiǎn)化工具
- ? 氮化鎵和碳化硅如何增強性能？? 測試和測量的進(jìn)步如何幫助應對當前的挑戰？? 如何為工程師簡(jiǎn)化測試過(guò)程的技術(shù)和工具？? ……從測試的角度來(lái)看寬禁帶技術(shù)帶來(lái)的諸多挑戰，例如如何篩選不同廠(chǎng)家的器件及必要性，如何解決目前寬禁帶器件應用測試和驅動(dòng)測試的難題，如何能充分發(fā)揮器件的性能等。泰克針對性的測試解決方案覆蓋了從半導體材料、生產(chǎn)、可靠性到電源設計應用的全流程，幫助用好寬禁帶技術(shù)，推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步。 &n
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研討會(huì )訊息：Teradyne/筑波科技寬能帶半導體整合測試與應用
- 電動(dòng)車(chē)、快充帶動(dòng)第三代半導體碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)國際市場(chǎng)快速發(fā)展趨勢、儲能設備及高效能控制機臺，需要更多強韌的運算芯片與電源管理IC功率組件，專(zhuān)注為高精準、高穩定度，高速測試、低單位IC測試成本與強大工程經(jīng)驗支持能力是攸關(guān) POWER IC 研發(fā)及OSAT 測試成功的關(guān)鍵能力。 筑波科技與美商泰瑞達Teradyne合作，攜手推廣Eagle Test System (ETS)設備系列。因應測試芯片機臺需求逐年成長(cháng)，Teradyne提供高質(zhì)量檢驗、快速精準，降低測試成本、提升產(chǎn)能的ET
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分布式VNA架構 有效解決毫米波OTA測試難題
- 對于無(wú)線(xiàn)數據帶寬的快速成長(cháng)需求，正加速擴大并推動(dòng)行動(dòng)數據的用戶(hù)體驗，這對于現有網(wǎng)絡(luò )的可用頻譜使用上也造成了一定的壓力。為了克服通訊產(chǎn)業(yè)不斷增加的需求，通訊產(chǎn)業(yè)正在研究可用于開(kāi)發(fā)新的5G無(wú)線(xiàn)技術(shù)，以推動(dòng)毫米波市場(chǎng)成長(cháng)的其他頻段。5G NR發(fā)展現況目前5G的應用偏重在FR1頻段，FR2頻段幾乎還看不到，最主要的問(wèn)題還是在于天線(xiàn)耗能，以及FR2的穿透力等問(wèn)題。目前5G NR的標準演進(jìn)，正持續超越傳統的增強型行動(dòng)寬帶（eMBB）通訊，以支持超可靠低延遲通訊（URLLC）的應用。URLLC 的目標鎖定在1毫秒甚至更
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[未來(lái)可測]系列之二:憶阻器單元基礎研究和性能研究測試方案
- _____憶阻器英文名為memristor, 用符號M表示，與電阻R，電容C，電感L構成四種基本無(wú)源電路器件，它是連接磁通量與電荷之間關(guān)系的紐帶，其同時(shí)具備電阻和存儲的性能，是一種新一代高速存儲單元，通常稱(chēng)為阻變存儲器（RRAM）。憶阻器備受關(guān)注的重要應用領(lǐng)域包括：非易失存儲（Nonvolatile memory），邏輯運算（Logic computing），以及類(lèi)腦神經(jīng)形態(tài)計算（Brain-inspired neuromorphic computing）等。這三種截然不同又相互關(guān)聯(lián)的技術(shù)路線(xiàn)，為發(fā)展信息
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蓄電系統的設計與實(shí)現*
- 摘 要：本文研究了一種基于LT8714的蓄電系統。該蓄電系統由六個(gè)模塊組成，工作時(shí)結合系統象限控制原 理，通過(guò)輸出電感電流檢測信號和誤差放大器的輸出口信號展開(kāi)對比，進(jìn)而實(shí)現占空比的控制輸出。最后對所 研究的蓄電系統展開(kāi)調試。測試數據表明，該系統輸出電壓精度較高。關(guān)鍵詞：系統；電路；功能；測試*基金項目：福建省2020年中青年教師教育科研項目（JAT201066）。0 引言?隨著(zhù)綠色能源概念的倡導，蓄電池 [1] 在電動(dòng)汽車(chē)、 便攜式電子 [2] 設備、無(wú)線(xiàn)充電 [3] 等應用中具有廣闊的
- 關(guān)鍵字： 202209 系統 電路 功能 測試
【未來(lái)可測】系列之一：碳基芯片將成未來(lái)主流，半導體材料及電子器件測試是研究基礎
- 碳基半導體材料，是在碳基納米材料的基礎上發(fā)展出來(lái)的。所謂的納米材料，是指三維空間尺度至少有一維處于納米量級(1-100nm)的材料，包括：零維材料 – 量子點(diǎn)、納米粉末、納米顆粒；一維材料 – 納米線(xiàn)或納米管；二維材料 – 納米薄膜，石墨烯；三維材料 -? 納米固體材料。按組成分，納米材料又可以分為金屬納米材料、半導體納米材料、有機高分子納米材料及復合納米材料。由于納米材料某一維度達到納米尺寸，其特性將表現出異于宏觀(guān)尺寸的材料，這些特性包括：表面與界面效應 - 熔點(diǎn)降低，比熱增大；小尺寸效應 -
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是德科技推出基于云的端到端 O-RAN 測試解決方案
- 是德科技（Keysight Technologies,Inc.）近日宣布，是德科技開(kāi)放無(wú)線(xiàn)架構（KORA）解決方案正在向著(zhù)基于云的部署轉型，旨在提高靈活性，實(shí)現快速部署。此外，是德科技用于測試 5G 核心網(wǎng)（5GC）的 LoadCore 軟件現已進(jìn)入 AWS Marketplace，作為按需計量付費（PAYG）解決方案提供，方便客戶(hù)按照實(shí)際使用情況投入相應的資金。是德科技提供先進(jìn)的設計和驗證解決方案，旨在加速創(chuàng )新，創(chuàng )造一個(gè)安全互聯(lián)的世界。Keysight LoadCore 軟件通過(guò)仿真 5G UE 特性，
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Enics Chameleon系列測試平臺
- 復雜設備的測試一般會(huì )面臨很多挑戰—它通常需要進(jìn)行多階段的測試，而且每階段都會(huì )需要大量的測試設備和儀器。同時(shí)，復雜設備的測試過(guò)程也較為復雜，耗時(shí)較長(cháng)。在許多情況下如果轉換產(chǎn)品，則需要從頭開(kāi)始重新進(jìn)行設置。艾尼克斯的Chameleon系列測試平臺是一款模塊化設計的終端測試解決方案，能夠幫助客戶(hù)簡(jiǎn)單快速的構建測試環(huán)境。測試范圍廣Chameleon系列測試平臺可廣泛應用于：· 射頻測試· 音頻測試· 觸摸屏測試· 相機+閃光燈測試· 側鍵測試· 物理按鈕測試· 鏈接器測試· 傳感器測試· GPS測試·震動(dòng)測試·藍
- 關(guān)鍵字： Enics 測試
測試介紹
中文名稱(chēng)：
測試
英文名稱(chēng)：
test
定義1：
對在受控條件下運動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。
應用學(xué)科：
航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗。
應用學(xué)科：
通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科)
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