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摘要：本文介紹了一種以單片機為核心,對3碟DVD和CD機的機架性能進(jìn)行相關(guān)參數測試的儀器，詳細介紹了該儀器的研制思路，測量原理和系統軟硬件結構。關(guān)鍵詞： C52；DVD；CD；測試前言近兩年來(lái),單牒DVD已逐漸發(fā)展到3碟甚至5碟DVD。機芯的選片機構也變得日益復雜,為此,機芯廠(chǎng)家趨向于為客戶(hù)提供完整的機架組件,包含機芯和全套托盤(pán)傳動(dòng)及控制機構。但由于該機架組件各主要傳動(dòng)部件為塑膠件,易發(fā)生形變,在批量生產(chǎn)時(shí)傳動(dòng)性能不易進(jìn)行控制, 使系統軟件的編寫(xiě)較難確定合適的參數，致使成品整機常出現碟盤(pán)轉不到位
關(guān)鍵字： C52 CD DVD 測試

2004年，安捷倫為”火星探測漫游者”號通信設備提供測試界面

　　2004年，安捷倫的 Visual Engineering Environment (VEE) Pro 系統開(kāi)發(fā)軟件為”火星探測漫游者”號車(chē)內的通信設備提供了測試界面。
關(guān)鍵字： Agilent 測試

2003年8月，英特爾宣布在成都建立封裝和測試半導體產(chǎn)品的工廠(chǎng)

　　2003年8月，英特爾宣布在四川省成都市投資建立封裝和測試英特爾半導體產(chǎn)品的工廠(chǎng)。
關(guān)鍵字： Intel 封裝測試

線(xiàn)卡的環(huán)路測試

在制造電信線(xiàn)路卡時(shí)，必須保證它們符合各種標準，必須使每一線(xiàn)卡的接收器經(jīng)受抖動(dòng)和低功率信號的考驗，其發(fā)送器必須能夠提供足夠的功率以最小的抖動(dòng)實(shí)現跨長(cháng)距離傳送，同時(shí)還必須對該線(xiàn)卡是否正確復用和解復用數據流進(jìn)行測試。表1是電信線(xiàn)路卡主要測試一覽表。進(jìn)行線(xiàn)卡測試時(shí)，必須把線(xiàn)卡安裝到模擬電信網(wǎng)絡(luò )的測試臺中。圖1示出利用回送信號進(jìn)行線(xiàn)卡測試的典型測試過(guò)程。借助回送法，通過(guò)由電信測試裝置產(chǎn)生的光測試信號對線(xiàn)卡的接收器進(jìn)行測試。線(xiàn)卡的接收器把光信號轉換成電信號，并將它沿背板回送給另一線(xiàn)卡，將測試信號環(huán)回到測試裝置。接收器
關(guān)鍵字：測試線(xiàn)卡

全國電子測試工程系統學(xué)術(shù)報告會(huì )召開(kāi)

由中國電子學(xué)會(huì )測試與儀器分會(huì )、中國計量測試學(xué)會(huì )國外儀器技術(shù)專(zhuān)業(yè)委員會(huì )和電子計量專(zhuān)業(yè)委員會(huì )聯(lián)合組織的“2002年全國計量、儀器、測控工程系統學(xué)術(shù)報告會(huì )”10月中旬在武夷山舉行。來(lái)自全國儀器儀表、測量測試行業(yè)、大學(xué)及產(chǎn)業(yè)界的100多名專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員參加了大會(huì )。第二炮兵工程學(xué)院教授、工程院院士黃先祥先生到會(huì )并講話(huà)。哈爾濱工業(yè)大學(xué)孫圣和教授介紹了儀器儀表及測試測量技術(shù)，從模擬到數字，再到標準化模塊的發(fā)展趨勢及現狀。
關(guān)鍵字：測試測試測量

2002年5月，英特爾宣布在中國組裝和測試英特爾奔騰4處理器

　　2002年5月，英特爾宣布在中國組裝和測試英特爾奔騰 4 處理器。
關(guān)鍵字： Intel 處理器組裝測試

測試技術(shù)發(fā)展趨勢

　　IC測試、通信測試、網(wǎng)絡(luò )測試和虛擬儀器的發(fā)展已出現一些新的勢態(tài)。降低測試成本成為發(fā)展IC測試的首要目標　　對體積更小、功能更強的芯片的需求正推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，同時(shí)也推動(dòng)著(zhù)IC設計和測試的發(fā)展。對于系統芯片（SOC）的測試，其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據英特爾公司副總裁提出的測試摩爾定律，未來(lái)幾年，每一晶體管的硅投資成本將低于其測試成本。因此未來(lái)IC測試設備制造商面臨的最大挑戰是如何降低測試成本。過(guò)去的集成電
關(guān)鍵字：測試測試測量

1997年，Maxim首家自主的測試工廠(chǎng)在菲律賓的Cavite投入使用

　　1997年，Maxim首家自主的測試工廠(chǎng)在菲律賓的Cavite投入使用。
關(guān)鍵字： Maxim 測試 Cavite

1995年6月，上海阿法泰克電子公司在上海浦東成立

　　1995年6月，由中、泰、美三方合資的上海阿法泰克電子公司在上海浦東成立，這是國家重點(diǎn)工程“集成電路專(zhuān)項工程”的兩大關(guān)鍵項目之一，主要從事集成電路的封裝和測試。
關(guān)鍵字：集成電路封裝測試

1994年11月，英特爾位于上海的芯片測試和封裝工廠(chǎng)破土動(dòng)工

　　1994年11月，英特爾位于上海的芯片測試和封裝工廠(chǎng)破土動(dòng)工。
關(guān)鍵字： Intel 測試封裝

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測試介紹

　　中文名稱(chēng)：　　測試　　英文名稱(chēng)：　　test 　　定義1：　　對在受控條件下運動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。　　應用學(xué)科：　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗。　　應用學(xué)科：　　通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細 ]