EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
測試測量
測試測量 文章 進(jìn)入測試測量技術(shù)社區
吉時(shí)利發(fā)布基于LINUX的參數測試系統
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布關(guān)于其S600系列參數測試系統的一組升級功能。其最主要升級是在每套測試系統中的嵌入式控制電腦上移植Linux操作系統（OS）。本項升級為其控制電腦提供更穩定的OS和更長(cháng)的服務(wù)壽命，減少了用戶(hù)升級新工作站和軟硬件資源的開(kāi)銷(xiāo)。此外，此次固件升級相比原來(lái)基于UNIX的系統具有更高的測試產(chǎn)能。新軟件授權（license）方法采用USB棒作為每套測試器的硬件鑰匙，通過(guò)在不同工作站間的遷移縮短維護時(shí)間。 吉時(shí)利推出的該款采用Linux控制器的參數測試系統迎合了當
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 LINUX 吉時(shí)利 測試測量
安捷倫發(fā)布 U2000 系列基于USB的功率傳感器
- 安捷倫科技最新發(fā)布的 Agilent U2000 系列基于USB的功率傳感器，與典型功率計和類(lèi)似的功率探測解決方案相比，重量更輕，并有更高的性?xún)r(jià)比。由于使用這種功率傳感器進(jìn)行測量可不需要功率計或額外的硬件模塊，因此能節省工作臺空間，也使現場(chǎng)測試工作更簡(jiǎn)單、更容易。 U2000系列功率傳感器可與各種 Agilent 信號源、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò )分析儀配合使用，從而使這些儀器具有更精確的平均功率測試能力。除了USB設備即插即用的連通性所提供的簡(jiǎn)便、快速的設置外，U2000系列功率傳感器還通過(guò)與組合眾多功
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 安捷倫 U2000 功率傳感器 測試測量
科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案
- 科利登系統有限公司推出業(yè)界性?xún)r(jià)比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場(chǎng)領(lǐng)先的Sapphire測試平臺。 Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線(xiàn)的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環(huán)路測試、抖動(dòng)測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數測量。D-6432DFT的密度比同類(lèi)產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 科利登 D-6432DFT 測試測量
基于計算機的機床測試系統
- 在工業(yè)生產(chǎn)測試過(guò)程中，經(jīng)常要對溫度、流量、壓力等模擬量進(jìn)行采集，對繼電器、接觸器等開(kāi)關(guān)量進(jìn)行控制，此外還有步進(jìn)電機和伺服電機進(jìn)行精確的位移控制。開(kāi)發(fā)一種基于計算機的機床測試系統，把各種控制量集成在一起構成閉環(huán)控制系統很有必要。本文以一臺計算機為主控制器，采用Windows風(fēng)格接口軟件，計算和測試速度快，信息處理能力強，系統集成度高，工作界面友好，操作方便，實(shí)現了多參數測試過(guò)程自動(dòng)化，提高了測試效率和準確性。 系統主要功能及特點(diǎn) 系統以對機床性能影響大的參數集成測試為主要目的，具有以下功能
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 機床測試 嵌入式系統 單片機 測試測量
基于A(yíng)D8302芯片的新的幅相測量系統
- 引 言 傳統的幅度、相位差、阻抗測量需要采用多個(gè)中小規模集成電路，不僅電路復雜，測量精度低，而且適用的頻率范圍窄，只能測量低頻或中頻信號。本文介紹利用美國ADI公司最近推出的AD8302芯片測量RF／IF幅度和相位差并計算阻抗。此芯片是測量幅度、相位差的首款單片集成電路，可廣泛用于GSM(全球移動(dòng)通信系統)，電力系統的阻波器、結合濾波器等領(lǐng)域。 1 AD8302性能特點(diǎn) AD8302內含兩個(gè)精密匹配寬帶對數檢波器、一個(gè)相位檢波器、輸出放大器組、一個(gè)偏置單元和一個(gè)輸出參考電壓緩沖器等，能同時(shí)
- 關(guān)鍵字： AD8302 幅相測量 測試 測量 測試測量
中國移動(dòng)開(kāi)始測試TD手機 中興三星率先過(guò)關(guān)
- 知情人士獨家透露，備受關(guān)注的TD-SCDMA商用進(jìn)程出現全新進(jìn)展，中國移動(dòng)正組織20多款TD-SCDMA手機在8個(gè)奧運城市進(jìn)行測試，測試結果將直接影響9至10月的終端采購，目前，中興通訊、三星、LG等已在一些重要指標上率先過(guò)關(guān)，一些國產(chǎn)品牌手機還需努力。 中國移動(dòng)開(kāi)始手機測試 據悉，近日，中國移動(dòng)在結束了TD設備采購后，已經(jīng)開(kāi)始動(dòng)手測試TD終端的商用效果，該輪終端測試非常重要，結果將直接影響TD-SCDMA的商用進(jìn)程，號稱(chēng)TD商用前“最后一公里”沖刺測試。
- 關(guān)鍵字： 通訊 無(wú)線(xiàn) 網(wǎng)絡(luò ) 中國移動(dòng) TD手機 中興 三星 測試測量 無(wú)線(xiàn) 通信
KLA-Tencor 發(fā)布最新 HRP-350系統
- KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統 HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個(gè)新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產(chǎn)商能夠監控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關(guān)鍵性晶體管和互連應用中提升系統生產(chǎn)能力。 “隨著(zhù)半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學(xué)機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶(hù)需要一
- 關(guān)鍵字： 消費電子 測試 測量 HRP-350 測試測量 消費電子
意法半導體便攜設備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊、節能降耗
- 意法半導體宣布該公司的超小型“低g”線(xiàn)性加速計產(chǎn)品家族增加一個(gè)新的解決方案，新產(chǎn)品LIS244AL動(dòng)作傳感器在電路板占據一個(gè)面積很小的呈正方形位置，功耗極低，特別適合電池供電的便攜應用，如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個(gè)單封裝內集成了一個(gè)可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個(gè)CMOS接口芯片，該接口芯片提供兩個(gè)同步實(shí)時(shí)模擬輸出：一個(gè)是側向（橫向）運動(dòng)輸出信號，另一個(gè)是前后（縱向）運動(dòng)輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數值，需要
- 關(guān)鍵字： 消費電子 意法半導體 雙軸模擬加速計 測試 測量 測試測量 消費電子
ADI公司發(fā)布用于短距無(wú)線(xiàn)裝置開(kāi)發(fā)的新RF設計工具
- 美國模擬器件公司的 SRD Design Studio是針對短距裝置（short range device）無(wú)線(xiàn)連接設計和仿真的軟件工具。SRD Design Studio可以從ADI公司的網(wǎng)站上免費獲得，用于幫助用戶(hù)對基于A(yíng)DI公司的ADF70xx系列SRD發(fā)射機和收發(fā)機的短距無(wú)線(xiàn)通信裝置進(jìn)行評估、設計和故障排查。ADF70xx產(chǎn)品針對自動(dòng)抄表、工業(yè)自動(dòng)化、安全保衛、家庭自動(dòng)化、遙控以及其他低功率
- 關(guān)鍵字： 工業(yè)控制 測試 測量 ADI 無(wú)線(xiàn)裝置 RF設計工具 測試測量 工業(yè)控制
基于磁盤(pán)陣列的全數字遙測記錄系統的設計
- 引 言 我國遙測記錄設備經(jīng)歷了倍密度磁帶機和旋轉頭磁帶機兩代產(chǎn)品，目前仍在使用。從記錄原理上說(shuō)他們皆屬于模擬記錄設備，在長(cháng)期使用當中，已暴露出諸多缺陷： (1)磁帶耗材依賴(lài)進(jìn)口，價(jià)格昂貴且記錄容量小、重復使用率低、數據保存時(shí)間短。 (2)磁頭和機械運帶機構屬精密加工器件，調校過(guò)程相當復雜，長(cháng)期使用磨損嚴重，記錄性能顯著(zhù)惡化，給設備維護帶來(lái)極大不便。 隨著(zhù)計算機硬盤(pán)制造技術(shù)的飛速發(fā)展和數字存儲技術(shù)的問(wèn)世及不斷應用，采用大容量高速硬盤(pán)記錄模擬遙測信號的數字化
- 關(guān)鍵字： 消費電子 測試 測量 磁盤(pán)陣列 數字遙測 測試測量 消費電子
ST便攜設備用雙軸模擬加速計尺寸緊湊節能降耗
- 意法半導體宣布該公司的超小型“低g”線(xiàn)性加速計產(chǎn)品家族增加一個(gè)新的解決方案，新產(chǎn)品LIS244AL動(dòng)作傳感器在電路板占據一個(gè)面積很小的呈正方形位置，功耗極低，特別適合電池供電的便攜應用，如手機、便攜多媒體播放器或遙控器。 新的加速計在一個(gè)單封裝內集成了一個(gè)可靠的雙軸MEMS加速計傳感器和一個(gè)CMOS接口芯片，該接口芯片提供兩個(gè)同步實(shí)時(shí)模擬輸出：一個(gè)是側向（橫向）運動(dòng)輸出信號，另一個(gè)是前后（縱向）運動(dòng)輸出信號。 新產(chǎn)品LIS244AL能夠在極低的噪聲下提供加速數值，需要的功耗非常低，這在電池供電的便
- 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù) 電源技術(shù) ST 雙軸模擬加速計 測試 測量 測試測量
基于FPGA系統易測試性的研究
- 引 言 現代科技對系統的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術(shù)在電子系統中應用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設計調試和檢驗變成設計中最困難的一個(gè)流程。另一方面，當前幾乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的總線(xiàn)，除了提供高速并行總線(xiàn)接口外，正迅速向高速串行接口的方向發(fā)展，FPGA也不例外。每一條物理鏈路的速度從600 Mbps到10 Gbps，高速I(mǎi)／O的測試和驗證更成為傳統專(zhuān)注于FPG
- 關(guān)鍵字： 嵌入式系統 單片機 測試 測量 FPGA 測試測量
KLA-Tencor 發(fā)布高分辨率表面輪廓測量系統 HRP-350
- KLA-Tencor日前發(fā)布業(yè)界最先進(jìn)的高分辨率表面輪廓測量系統 HRP-350，使測量能力擴展至 45 納米半導體器件。這個(gè)新設備配備半徑低至 20 納米的鉆石探針和低噪音平臺，從而提高了測量靈敏度，并使芯片生產(chǎn)商能夠監控極其細微的橫向和縱向尺寸。除這些突破之外，該系統還擁有更高的掃描速度，因而能在多種關(guān)鍵性晶體管和互連應用中提升系統生產(chǎn)能力。 “隨著(zhù)半導體器件的更新?lián)Q代，在重要的蝕刻和化學(xué)機械拋光工藝中，形貌控制要求也越發(fā)嚴格。我們的客戶(hù)需要一種單一系統解決方案，既可支持影響良率的納米級應
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 KLA-Tencor 表面輪廓測量系統 HRP-350 測試測量
tektronix發(fā)布HDMI一致性測試軟件1.3b版
- 泰克公司日前宣布，其TDSHT3軟件已經(jīng)升級，支持HDMI一致性測試規范1.3b版。泰克TDSHT3軟件現在支持最新CTS1.3b文件中規定的所有HDMI一致性測試要求。通過(guò)現在提供的這一升級軟件，泰克為客戶(hù)執行HDMI 1.3b一致性測試提供了最完整、最經(jīng)濟的測試套件。 泰克現在支持使用實(shí)時(shí)示波器、取樣示波器、信號發(fā)生器、差分探頭和測試夾具，根據CTS 1.3b規范執行物理層一致性測試。TDSHT3是裝在泰克示波器上的一種HDMI一致性測試軟
- 關(guān)鍵字： 測試 測量 tektronix HDMI TDSHT3軟件 測試測量
測試測量介紹
電子測試測量?jì)x器：示波器（數字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調頻調幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量?jì)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬(wàn)用表、光源、光電話(huà)、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線(xiàn)電綜合測試儀、數字電纜分析測試
儀、電纜故障測 [ 查看詳細 ]
測試測量研討會(huì )推薦
測試測量電路
測試測量相關(guān)帖子
測試測量資料下載
測試測量視頻
測試測量專(zhuān)欄文章
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473