EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
測試測量
測試測量 文章 進(jìn)入測試測量技術(shù)社區
S參數測量基礎- 入門(mén)
- 為什么使用 S參數？為什么要使用S參數這個(gè)問(wèn)題經(jīng)常會(huì )被問(wèn)到。其實(shí)在技術(shù)演進(jìn)的過(guò)程不僅僅有S參數，但是最終科學(xué)家和工程師們發(fā)現使用S參數能更加方便地描述一個(gè)無(wú)源鏈路。從模擬的角度捕獲數字信號數字信號 vs.模擬信號數字信號 = 模擬信號 (包含正弦波）正弦波的變化 - 輸出是什么？什么是 S參數？S參數是一個(gè)復數矩陣，反映了在頻域范圍內的反射信號 / 傳輸信號的特性（幅度/相位）。S參數表達式Smith Chart - 史密斯圓圖：更直觀(guān)地進(jìn)行阻抗變換Smith Chart - 史密斯圓圖在某個(gè)頻率點(diǎn)，可以
- 關(guān)鍵字： 模擬電路 測試測量 S參數
DDR3單元測試規范
- 一、測試目的DDR3的測試分為三類(lèi)：1、直流參數測試（DC Parameter Testing）：校驗工作電流、電平、功率、扇出能力、漏電流等參數特性。內存的工作電流與功耗、負載有關(guān)，工作電流過(guò)高時(shí)，將造成功耗過(guò)高，給系統造成的負載過(guò)大，嚴重情況下將造成系統無(wú)法正常工作。存儲芯片也存在漏電流，當漏電流超出閾值時(shí)可能造成系統無(wú)法正常工作。2、交流參數測試（AC Parameter Testing）：檢測諸如建立時(shí)間、保持時(shí)間、訪(fǎng)問(wèn)時(shí)間等時(shí)間參數特性。3、可靠性測試（Functional Testing）：測
- 關(guān)鍵字： 內存 DDR3 測試測量
面向現代數據中心的測試和測量
- 在現代數據中心中，需要應對的更棘手的問(wèn)題之一是通過(guò)越來(lái)越多的高速鏈接進(jìn)出數據。要測試這些高速鏈路和PCB，您需要像Rohde & Schwarz R&S ZNB 3000這樣的高端網(wǎng)絡(luò )分析儀。據說(shuō)它是市場(chǎng)上最快的生產(chǎn)測試產(chǎn)品之一，具有非常低的本底噪聲。除了速度之外，R&S ZNB3000 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀還具有精度和多功能性，具有行業(yè)領(lǐng)先的動(dòng)態(tài)范圍、快速的測量速度和可擴展的升級，可應對要求苛刻的應用。R&S RTP 高性能示波器是另一個(gè)有用的工具，將高級信號完整性與
- 關(guān)鍵字： 現代數據中心 測試測量
DC-DC導致EMI輻射超標案例
- 分享一個(gè)EMI整改文檔，對于EMC來(lái)說(shuō)，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓，總結經(jīng)驗，避免設計中出現同樣的問(wèn)題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個(gè)頻點(diǎn)的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品，對于主頻--有意輻射頻率來(lái)說(shuō)是有豁免權的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標帶寬較寬，可以肯定非時(shí)鐘、晶振輻射超標引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過(guò)最后的結果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點(diǎn)
- 關(guān)鍵字： EMI測試 測試測量
示波器觸發(fā)方式大全和參數選型
- 示波器是最重要也是最基礎的工具?；旧想娮訉?zhuān)業(yè)都會(huì )問(wèn)到這個(gè)問(wèn)題。尤其做硬件測試的時(shí)候，示波器更是需要如同使用筷子一樣的熟練度。示波器最重要的三個(gè)參數：帶寬、采樣率、存儲深度。一、示波器的帶寬：輸入信號衰減 3dB 所在的最低頻率稱(chēng)為示波器的帶寬。（帶寬定義：示波器帶寬的定義沒(méi)有變，就是輸入一個(gè)正弦波，保持幅度不變，增加信號頻率，當示波器上顯示的信號是實(shí)際信號幅度的70.7%(即3dB衰減)的時(shí)候，該對應的頻率就等于示波器帶寬。）使用正弦波信號發(fā)生器，在掃描頻率上測試示波器的帶寬和頻率響應。信號 -3 dB
- 關(guān)鍵字： 示波器 測試測量
一個(gè)高端電流檢測方案
- 隨著(zhù)過(guò)去傳統的“開(kāi)環(huán)”系統被智能和高效率“閉環(huán)”設計所取代，準確的電流檢測在多種應用中變得越來(lái)越重要。常見(jiàn)的電流檢測方法，需要將檢流電阻串聯(lián)進(jìn)被測電流通路，再用放大電路放大檢流電阻上的壓降。這個(gè)放大電路常被稱(chēng)之為電流檢測放大器，其越來(lái)越被廣泛地運用于汽車(chē)、通信、消費電子等領(lǐng)域。分立方案集成方案對于電流檢測放大器電路設計目前主要可以分為分立方案以及集成方案下面小編主要為大家梳理比較一下分立及集成方案的特點(diǎn)基礎知識01分立運放搭建的差分放大器方案這是一個(gè)分立運放搭建的差分放大器（下文簡(jiǎn)稱(chēng)為分立方案）增益當滿(mǎn)足
- 關(guān)鍵字： 電流 測試測量
示波器探頭的作用及工作原理
- 示波器因為有探頭的存在而擴展了示波器的應用范圍，使得示波器可以在線(xiàn)測試和分析被測電子電路，如下圖：示波器探頭的作用探頭的選擇和使用需要考慮如下兩個(gè)方面：其一：因為探頭有負載效應，探頭會(huì )直接影響被測信號和被測電路；其二：探頭是整個(gè)示波器測量系統的一部分，會(huì )直接影響儀器的信號保真度和測試結果。01探頭的負載效應當探頭探測到被測電路后，探頭成為了被測電路的一部分。探頭的負載效應包括下面3部分：阻性負載效應；容性負載效應；感性負載效應。探頭的負載效應阻性負載相當于在被測電路上并聯(lián)了一個(gè)電阻，對被測信號有分壓的作用
- 關(guān)鍵字： 示波器 測試測量 探頭
使用電流檢測電阻精確測量電流的設計技巧！原理、選型、設計都有
- 什么是電流檢測電阻？在許多通用電子應用中，通常都需要電流感應來(lái)監控和控制應用。例如：電池充電器電路需要電流感應技術(shù)從驅動(dòng)器、控制器的角度確定充電電流。不同類(lèi)型的電流傳感器具有不同的電流傳感技術(shù)，用來(lái)測量或者檢測電流。電流檢測最常用且最具成本效益的解決方案是分流電流傳感器，也就是檢測電阻。電流檢測電阻類(lèi)似于普通電阻，但具有非常低的電阻額定值和高額定功率。這些具有已知電阻值 (R) 的分流電阻放置在電流傳導路徑中，可以讓要測量的全部電流 (I) 流過(guò)電阻。電流檢測電阻電流檢測電阻工作原理分流意味著(zhù)為電路提供不
- 關(guān)鍵字： 電流 測試測量
拆個(gè)示波器無(wú)源探頭，看看里面到底有啥秘密
- 01哪根筋搭錯了要去研究一下無(wú)源探頭一切都起源于一個(gè)問(wèn)題：能不能把1X的無(wú)源探頭當同軸線(xiàn)去匹配50歐姆或者75歐姆的系統？有經(jīng)驗的人會(huì )立刻回答不能，因為就算是1X的探頭上面也串接了一個(gè)不小的電阻。我手邊正好有一個(gè)報廢的探頭，拿萬(wàn)用表測了一測，內芯的電阻有300多歐姆！外導體倒是正常的零點(diǎn)幾歐姆。這樣一條“同軸線(xiàn)”顯然不能拿去匹配50歐姆或者75歐姆的系統。問(wèn)題看起來(lái)是解決了，可這又加深了我對無(wú)源探頭的疑問(wèn)：?jiǎn)?wèn)什么探頭上要串那么大的電阻，又為什么1X探頭的帶寬比10X探頭小那么多？02拆根探頭看看里面有啥要
- 關(guān)鍵字： 示波器 測試測量
升維打擊！用示波器排查CAN的各種錯誤幀
- 摘要：CAN的BusOff源于錯誤幀的積累，而錯誤幀這個(gè)東西，是一個(gè)接收節點(diǎn) 認為數據有誤 故意打斷通信，好讓發(fā)送節點(diǎn)感知到 并重發(fā)報文的設計。注意這里邊有個(gè)“我覺(jué)得你有病”的認知陷阱，讓CAN的診斷變得近似玄學(xué)。本文分享一種用CAN波形的幅度和脈寬信息來(lái)精確定位錯誤幀來(lái)源的方法，來(lái)自知乎的大燈。我們先從基礎的講起。CAN節點(diǎn)的電路一般如下圖所示，MCU內置了CAN控制器用來(lái)將MCU的數據封裝為CAN幀格式，同時(shí)它也負責CAN幀的校驗和錯誤幀的處理?？刂破鞣庋b好的邏輯報文經(jīng)TX RX送到CAN收發(fā)器，將邏
- 關(guān)鍵字： CAN總線(xiàn) 測試測量 示波器
如何用示波器測量串口波特率？
- 如何確定時(shí)基假如要測量的波特率為9600, 則每一比特位的時(shí)間為：1/9600 ≈ 104 μs，一般示波器橫向上每個(gè)大格子里5個(gè)小格子，要想看清一比特位一般需要一個(gè)小格子就夠了，則時(shí)基為：104 μs * 5 = 520 μs, 也就是說(shuō)時(shí)基要500 μs。注意：測量時(shí)選擇的耦合方式為直流，邊沿類(lèi)型為下降沿，所測串口的電平為T(mén)TL 電平，該電平的串口在不傳輸數據時(shí)電平為高，靠拉低判斷起始位。下圖是測9600波特率，所發(fā)數據為0x55:所用示波器為漢泰的 IDSO1070。從光標測量可以看出AB之間的時(shí)間
- 關(guān)鍵字： 示波器 測試測量
分析一個(gè)電磁兼容，無(wú)非從這幾個(gè)方面入手
- 如何分析一個(gè)電磁兼容的問(wèn)題？分析一個(gè)電磁兼容的問(wèn)題需要從三個(gè)方面入手：騷擾源敏感源耦合路徑找到這三個(gè)因素后，再決定去掉哪一個(gè)。只要去掉一個(gè)，電磁兼容的問(wèn)題就解決了。例如，當騷擾源是雷電，敏感源是電子線(xiàn)路時(shí)，我們能做的就是消除耦合路徑（因為沒(méi)法去掉騷擾源，我們沒(méi)法讓自然界不產(chǎn)生雷電吧）。耦合路徑分為傳導耦合路徑和空間耦合路徑。最容易判斷的是電磁騷擾的敏感源，實(shí)際上大部分的電磁兼容的問(wèn)題都是先從發(fā)現干擾的現象起因的，因此，最先關(guān)注的應該是敏感源。比較容易判斷的是電磁騷擾源，我們通過(guò)實(shí)驗和分析，可以確定導致電磁
- 關(guān)鍵字： 電磁兼容 信號調理 測試測量
關(guān)于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會(huì )
- 當一個(gè)產(chǎn)品無(wú)法通過(guò)EMI 測試﹐首先就要有一個(gè)觀(guān)念﹐找出無(wú)法通過(guò)的問(wèn)題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬(wàn)不能有主觀(guān)的念頭﹐要在那些地方下對策。常常有許多有經(jīng)驗的 EMI 工程師﹐由于修改過(guò)許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對于產(chǎn)品可能造成 EMI 問(wèn)題的地方也非常了解﹐而習慣直接就下藥方﹐當然一般皆可能 非常有效﹐但是偶而也會(huì )遇到很難修改下來(lái)﹐最后發(fā)現問(wèn)題的關(guān)鍵都是起行認為不可能的地方﹐之所以會(huì )種疏失﹐就是由于太主觀(guān)了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認一次﹐甚而多次確認。這是因為造成EMI 的問(wèn)題往往是錯綜復雜﹐并非單一點(diǎn)所造成。故反
- 關(guān)鍵字： EMI測試 測試測量
優(yōu)化簡(jiǎn)易PCB電路板的大規模測試，提高生產(chǎn)效率
- 摘要隨著(zhù)各行業(yè)對高效完成大批量生產(chǎn)的需求日益增強，構建穩健的測試策略也變得至關(guān)重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探討簡(jiǎn)易電路板生產(chǎn)制造領(lǐng)域中適用的創(chuàng )新測試方法，力求在保障質(zhì)量的前提下，實(shí)現生產(chǎn)效率的最優(yōu)化。本文探討了制造商在PCBA（印刷電路板組件）電路板批量測試環(huán)節中所面臨的種種挑戰，并揭示了創(chuàng )新技術(shù)如何重塑電子制造業(yè)的格局。文章通過(guò)聚焦前沿測試方法、先進(jìn)測試裝備及經(jīng)過(guò)優(yōu)化的精簡(jiǎn)測試流程，系統闡述了促使PCBA測試理念革新的核心要素。通過(guò)這些改進(jìn)，制造商有望提升測試效率、節約時(shí)間與成本、提高工作效率、提
- 關(guān)鍵字： PCB 電路設計 測試測量
地線(xiàn)要短——測試開(kāi)關(guān)電源紋波時(shí)
- 我們在測試的時(shí)候，希望能夠測試準確，不希望其他頻段的干擾引入導致測試數據異常。所以在用同軸電纜或者探頭測試紋波的時(shí)候，地線(xiàn)的處理都尤為關(guān)鍵，否則會(huì )通過(guò)地線(xiàn)引入不必要的噪聲。探頭的GND和信號兩個(gè)探測點(diǎn)的距離也非常重要，當兩點(diǎn)相距較遠，會(huì )有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中，示波器觀(guān)察的波形包括了其他信號分量，導致錯誤的測試結果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點(diǎn)間距，減小環(huán)路面積。為避免過(guò)多的噪聲耦合到紋波測試，應用盡可能小的環(huán)路，避免耦合的噪聲過(guò)大。一般的示波器探頭不能直接使用，需用專(zhuān)用示波器探頭或
- 關(guān)鍵字： 測試測量 電源管理 電源
測試測量介紹
電子測試測量?jì)x器：示波器（數字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調頻調幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量?jì)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬(wàn)用表、光源、光電話(huà)、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線(xiàn)電綜合測試儀、數字電纜分析測試
儀、電纜故障測 [ 查看詳細 ]
測試測量研討會(huì )推薦
測試測量電路
測試測量相關(guān)帖子
測試測量資料下載
測試測量視頻
測試測量專(zhuān)欄文章
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473