科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案

　　科利登系統有限公司推出業(yè)界性?xún)r(jià)比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場(chǎng)領(lǐng)先的Sapphire測試平臺。

　　Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線(xiàn)的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環(huán)路測試、抖動(dòng)測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數測量。D-6432DFT的密度比同類(lèi)產(chǎn)品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯著(zhù)降低高速半導體器件的總體成本并縮短上市時(shí)間。

　　這一新設備是與領(lǐng)先的微處理器生產(chǎn)廠(chǎng)商AMD公司合作開(kāi)發(fā)的。目前，AMD的工程師正采用Sapphire平臺和D-6432DFT加速其最先進(jìn)產(chǎn)品的測試和上市周期。在全球數以百計的Sapphire平臺裝機量中，已有200多個(gè)D－6432DFT設備安裝在了屢獲殊榮的Sapphire平臺中，進(jìn)行生產(chǎn)測試。

　　AMD公司自動(dòng)測試設備（ATE）技術(shù)經(jīng)理兼高級技術(shù)工程師Pete Hodakievic表示：“市場(chǎng)對高速總線(xiàn)接口測試和快速數據傳輸率提出了越來(lái)越高的要求，迫切需要一種比簡(jiǎn)易承載板環(huán)路測試技術(shù)更為強勁的測試方法。同時(shí)，我們又因為需要控制測試成本，而無(wú)法采用傳統的測試設備和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我們用單次插入即可完成對最先進(jìn)的微處理器芯片進(jìn)行高速環(huán)路測試、DC參數測試，以及掃描和功能測試。相比全功能測試，D-6432DFT不僅有更好的測試覆蓋，還可以顯著(zhù)降低測試成本?！?/P>

　　為了實(shí)現更高的數據速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越來(lái)越多的應用。然而，高速總線(xiàn)對傳統“功能”測試方法的成本、復雜性和周期都提出了挑戰。這些不確定因素在低速測試時(shí)能運作無(wú)誤，但速度高于6 Gbps以上時(shí)，則有可能產(chǎn)生風(fēng)險。目前的“近端”環(huán)路（即利用設備來(lái)輸出測試數據，再回收數據至設備以進(jìn)行識別）技術(shù)簡(jiǎn)單、性?xún)r(jià)比高，但難以有效地處理抖動(dòng)、信號變異和協(xié)議性能，從而導致測試不完全或測試死角。集成電路制造商需要采用可測性設計方法，才能對那些影響設備和系統性能的關(guān)鍵變量進(jìn)行靈活、全面的測試。

　　遠端環(huán)路：卓越的抖動(dòng)測量和控制，提供更高的價(jià)值Sapphire D-6432DFT有效地應用了創(chuàng )新的遠端環(huán)路技術(shù)，既具有可測性設計的靈活性，又有功能測試所具備的深層診斷能力。通過(guò)將待測器件置于高性?xún)r(jià)比的智能測試設備通道中，延長(cháng)了反饋路徑，也首次實(shí)現了高速總線(xiàn)在生產(chǎn)級的測試。與以往那種投資多臺設備測試少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了廣泛的功能，可在單臺設備上測試多達16個(gè)通道。其優(yōu)勢包括：

.每一通道通過(guò)集成電路實(shí)現同時(shí)的、并行的抖動(dòng)注入和抖動(dòng)測量，并不需要附加設備
.電壓和時(shí)間域中的全封閉眼圖測試
.除了極低成本的差分測試，還集成了用于掃描/功能性測試的400/800 Mbps數據子系統
.增加了解決信號完整性問(wèn)題的靈敏度覆蓋檢測
.接收器和發(fā)送器通道可用來(lái)為內核邏輯和協(xié)議堆棧提供測試向量
.用于全面DC參數測試的器件管腳存取

　　科利登副總裁兼自動(dòng)測試設備總經(jīng)理Chetan Desai表示：“與AMD這樣的行業(yè)領(lǐng)先企業(yè)合作，使我們能夠提供滿(mǎn)足市場(chǎng)需求的方案，幫助客戶(hù)充滿(mǎn)信心地進(jìn)行技術(shù)創(chuàng )新并應對上市周期和成本的雙重挑戰。我們很高興推出Sapphire D-6432DFT，這是業(yè)界唯一用于高速器件生產(chǎn)測試的可行方案。它不僅能滿(mǎn)足今天的市場(chǎng)需求，還可靈活適應未來(lái)幾代的產(chǎn)品發(fā)展?！?/P>

　　Sapphire D－6432DFT設備現已投放市場(chǎng)。在7月17日至18日舉辦的Semicon West 展會(huì )期間, 科利登技術(shù)中心展出了Sapphire D-6432DFT設備，還現場(chǎng)展示了科利登完整的測試解決方案，包括曾經(jīng)獲獎的Sapphire平臺和Diamond 平臺。