泰克在09IDF上展示最新的高速串行測試解決方案

　　中國北京, 2009年4月8日 – 全球領(lǐng)先的測試、測量和監測儀器提供商--泰克公司日前宣布將在2009年4月8日北京富力萬(wàn)麗酒店舉行的2009年英特爾信息技術(shù)峰會(huì )(IDF 2009 Beijing)上展示最新的高速串行測試解決方案。作為領(lǐng)先的先進(jìn)高速串行技術(shù)測試解決方案提供商，泰克將演示其為USB3.0、PCI Express 3.0、第三代串行ATA和10G以太網(wǎng)開(kāi)發(fā)的尖端測試解決方案。

　　泰克在信號完整性及復雜的高速測量和分析中擁有業(yè)內無(wú)可比擬的技術(shù)力量。英特爾公司最近授予了泰克首選優(yōu)質(zhì)供應商(PQS)獎，以表彰其在2008年為英特爾作出的重要貢獻。泰克一直為英特爾提供驗證測試設備，幫助英特爾產(chǎn)品開(kāi)發(fā)團隊向市場(chǎng)上推出下一代產(chǎn)品。

　　SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性測試解決方案

　　生產(chǎn)型SuperSpeed USB接口IC預計將在2010年初開(kāi)始出貨。泰克USB測試解決方案為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)人員提供了一整套完善的工具，保證其物理層(PHY)設計滿(mǎn)足最新的USB規范。

　　泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于多種儀器，包括實(shí)時(shí)示波器、采樣示波器、任意波形發(fā)生器等，提供了杰出的測量性能，滿(mǎn)足了高速串行標準需求。例如，DSA71254實(shí)時(shí)示波器擁有五倍于串行信號時(shí)鐘速率的帶寬，這個(gè)“五階諧波”對眼圖分析具有關(guān)鍵性的意義。類(lèi)似的，AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復雜的波形，包含著(zhù)模擬傳輸路徑劣化效應的壓力，支持接收機測試。這些硬件工具與專(zhuān)家應用軟件配套使用，如DPOJET抖動(dòng)和眼圖分析工具和SerialXpress高級抖動(dòng)生成工具，為設計人員檢驗和調試設計提供了所需的工具。

　　PCI Express 3.0、第三代串行ATA 和10G以太網(wǎng)測試解決方案

　　PCI Express 3.0規范提供了一條8GT/s鏈路，通過(guò)數據加擾功能，使數據速率較2.0時(shí)提高一倍。憑借DSA72004B實(shí)時(shí)示波器、串行數據鏈路分析軟件、DPOJET抖動(dòng)和眼圖分析工具及P7520 TriMode三模差分探頭，泰克為數據處理層、鏈路層和物理層測試提供了最強大、最完整的測試系列。

　　第三代串行ATA存儲接口規范將最大傳送速度從3 Gb/s提高到6 Gb/s，為實(shí)現更高性能的存儲解決方案鋪平了道路，包括新興的固態(tài)驅動(dòng)器和企業(yè)商務(wù)存儲需求。通過(guò)泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器系列和泰克DSA/DPO70000B示波器系列，泰克為串行ATA Gen 3提供了業(yè)內領(lǐng)先的物理層測試功能。

　　隨著(zhù)以太網(wǎng)標準被迅速采用，工程師們一直面臨著(zhù)驗證物理層以太網(wǎng)設備和改善效率的壓力。泰克為模擬驗證、一致性測試和設備檢定提供了一整套完善的集成工具，包括10BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T和10GBASE-T技術(shù)。這套工具包括D