吉時(shí)利宣布對4200-SCS半導體特征分析系統進(jìn)行全面升級

　　先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器公司，日前宣布對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統進(jìn)行全面的硬件、固件和軟件升級。吉時(shí)利測試環(huán)境交互式軟件(KETI)V7.2版經(jīng)過(guò)升級囊括九種新的太陽(yáng)能電池測試庫，擴展了系統電容-電壓(C-V)測量功能的頻率范圍，支持該公司最新九槽4200-SCS儀器架構。

　　KTEI V7.2新增測試庫增強了4200-SCS進(jìn)行太陽(yáng)能電池I-V、C-V和電阻測試的功能，隨著(zhù)市場(chǎng)對可替代能源技術(shù)更加關(guān)注、政府支持力度加大的情況下，此類(lèi)測試功能將變得更加重要。本次軟件升級支持最新太陽(yáng)能電池測試技術(shù)DLCP(Drive-Level Capacitance Profiling，激勵電平電容壓型)，而采用原來(lái)的測試方案很難精確測試。DLCP能提供薄膜太陽(yáng)能電池上的缺陷密度信息，2007年11月份推出的4200-CVU型電容-電壓測試卡經(jīng)過(guò)改動(dòng)可直接支持這一測試技術(shù)。KTEI V7.2版對現有4200-SCS用戶(hù)免費。

　　為支持DLCP測試，4200-CVU的頻率范圍從10kHz～10MHz擴展到1KHz～10MHz。經(jīng)擴展的頻率范圍也擴大了系統的應用領(lǐng)域，支持平板LCD和有機半導體(例如有機發(fā)光二極管OLED)測試。

　　隨著(zhù)I-V、脈沖和C-V特征分析應用的不斷增長(cháng)，需要更大測試靈活性和更強功能的4200-SCS用戶(hù)逐漸發(fā)現主機有些擁擠不堪。為滿(mǎn)足這一需要，本次V7.2版升級支持九槽主機架構。以前的4200-SCS有八個(gè)插槽，安裝越來(lái)越多的源測量單元(SMU)、脈沖發(fā)生器和示波器卡以及電容-電壓測量卡?，F在的4200-SCS系統經(jīng)過(guò)升級可以支持九個(gè)插槽;所有新的主機都將提供九個(gè)插槽。

　　為支持V7.2版的升級，吉時(shí)利推出一款新的高性能三同軸線(xiàn)纜套件，用于連接4200-SCS和探測器，能大大簡(jiǎn)化在直流I-V、C-V和脈沖測試配置之間轉換的過(guò)程。本款新的線(xiàn)纜套件無(wú)需用戶(hù)重新進(jìn)行布線(xiàn)即能消除由于布線(xiàn)誤差導致的測量誤差。其中包括兩種線(xiàn)纜套件——一種適用于Cascade Microtech探測器，另一種適用于SUSS MicroTec探測器。

　　不斷增強的系統功能確保產(chǎn)能不斷增長(cháng)

　　吉時(shí)利4200-SCS以一套緊密集成的特征分析解決方案取代了多種分離的電氣測試工具，是可靠性實(shí)驗室、材料與器件研究實(shí)驗室進(jìn)行半導體技術(shù)研究、工藝研發(fā)和材料研究的理想選擇，能滿(mǎn)足所有需要臺式直流或脈沖測試儀的實(shí)驗室的需要。自推出4200-SCS系統以來(lái)，吉時(shí)利不斷增強其硬件和軟件功能。吉時(shí)利對系統不斷更新的承諾確保用戶(hù)能夠獲得高性?xún)r(jià)比的升級途徑，用戶(hù)無(wú)需因為原有儀器過(guò)時(shí)而購買(mǎi)新的參數分析儀。系統通過(guò)高性?xún)r(jià)比的升級能滿(mǎn)足業(yè)界不斷增長(cháng)的測試需求，相比競爭對手的測試方案，用戶(hù)對4200-SCS的固定資產(chǎn)投資有效期更長(cháng)。

　　吉時(shí)利儀器公司作為半導體器件特征分析和參數測試系統領(lǐng)先供應商，為全球各地用戶(hù)提供電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測量與分析所需的各種靈活解決方案。產(chǎn)品涵蓋從臺式儀器到成套系統，應用于材料分析、器件特征分析、圓片級可靠性分析、工藝控制監測等領(lǐng)域。吉時(shí)利通過(guò)其龐大的現場(chǎng)服務(wù)中心網(wǎng)絡(luò )以及具有半導體專(zhuān)業(yè)技術(shù)知識的應用工程師，為全球半導體用戶(hù)提供密切的服務(wù)。