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CADENCE硬件仿真器在Ethernet交換芯片驗證中的應用

作者: 時(shí)間:2008-02-20 來(lái)源: 收藏

  隨著(zhù)網(wǎng)絡(luò )通信的高速發(fā)展,集成多種內容的以太網(wǎng)交換芯片在網(wǎng)絡(luò )通信中起著(zhù)越來(lái)越重要的作用,如何加快以太網(wǎng)交換芯片的開(kāi)發(fā)速度,縮短驗證的周期,是我們面臨的重要課題,為此,我們選用了硬件仿真器Palladium作為驗證加速平臺。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/79028.htm

  1 概述

  隨著(zhù)網(wǎng)絡(luò )通信的高速發(fā)展,集成多種內容的以太網(wǎng)交換芯片在網(wǎng)絡(luò )通信中起著(zhù)越來(lái)越重要的作用,如何加快以太網(wǎng)交換芯片的開(kāi)發(fā)速度,縮短驗證的周期,是我們面臨的重要課題,為此,我們選用了Cadence硬件仿真器Palladium作為驗證加速平臺。

  Cadence硬件仿真器Palladium的邏輯硬件電路由高速處理器陣列所構成,芯片設計被映射成大量并行計算引擎,上萬(wàn)個(gè)處理器以極快的速度并發(fā)仿真,極大地加速了仿真速度,成為IC驗證業(yè)界一種新型高效的驗證工具。

  2 以太網(wǎng)交換芯片ZX27x1在以太交換網(wǎng)中的應用

  

ZX27x1在以太交換網(wǎng)中的應用

 

  圖1 ZX27x1在以太交換網(wǎng)中的應用

  如圖1所示,我們設計的芯片為ZX27x1,它以10/100M的速率通過(guò)MII接口和PHY層相連;另外它還有一個(gè)千兆上聯(lián)口,通過(guò)公司的內部總線(xiàn)Zlink和上位芯片相連,從而組成一個(gè)數據交換系統。

  3 系統驗證分析

  為了有效驗證ZX27x1芯片功能,我們抽象圖1系統為圖2所示的驗證模型。

  

ZX27x1驗證模型

 

  圖2 ZX27x1驗證模型

  分析一下圖2中的結構,待驗證芯片為ZX27x1,該芯片對外有兩個(gè)接口,MII接口,這是標準的以太網(wǎng)接口;Zlink接口,這是公司內部的接口,為以太網(wǎng)交換芯片套片所用,該接口可支持多個(gè)ZX27X1芯片之間的數據和信息交換,并且允許cpu通過(guò)該接口對芯片進(jìn)行隨機訪(fǎng)問(wèn)。

  為了驗證該芯片zx27x1的功能,我們需要建立MII的接口模型和Zlink接口模型。如何實(shí)現這兩種接口模型呢?很自然的想到用軟件或硬件或軟硬件結合的方式來(lái)實(shí)現,這樣就派生多種驗證方法(模式),見(jiàn)表1。模式1是我們最常用的純軟件仿真的方法,其驗證速度很慢。其它3種模式都是基于硬件仿真器 Palladium的硬件仿真加速方法。下面對這三種硬件加速方法的實(shí)現分別加以介紹。

  表1 四種驗證模式列表

  

四種驗證模式列表

 

  SA模式(Simulation Acceleration mode),利用Palladium加速仿真性能,可綜合的DUT設計(包括芯片內存設計)被移到仿真器中,行為級的不可綜合的測試激勵仍然留在工作站上在ncsim中運行。雖然硬件仿真器中DUT運行非???,但受限于不可綜合的測試激勵所占的比例和palladium與ncsim交互通訊的頻度,整個(gè) performance的提高比較有限,通常在數倍至數十倍之間。

  ICE模式(In-Circuit Emulation mode),可以在仿真器內自動(dòng)生成一個(gè)與DUT邏輯功能完全等價(jià)的虛擬芯片(就好像你的芯片已生產(chǎn)出來(lái)了),把它連接到的目標應用系統中,在真實(shí)的應用環(huán)境中驗證你的芯片,即在系統上下文環(huán)境中驗證整個(gè)設計,故可以大大提高功能驗證完整性和有效性。其驗證速度可達數百千赫茲。同時(shí),由于有了現成的應用平臺,你還可以在投片前即開(kāi)始開(kāi)發(fā)和調試軟件,進(jìn)行軟硬件聯(lián)合驗證。

  SAT模式(Simulation Acceleration with Target mode),綜合了SA和ICE兩種仿真模式。DUT放在palladium中,一部分testbench由與palladium相連的真實(shí)的目標系統產(chǎn)生,另一部分無(wú)法從真實(shí)系統中獲得的testbench仍由驗證工程師用代碼編寫(xiě)在ncsim中實(shí)現。故它綜合了SA和ICE兩種模式的優(yōu)點(diǎn),既能提高驗證速度,也能提高驗證覆蓋率。

  4 硬件加速驗證系統的搭建

  如何在真實(shí)應用環(huán)境中快速全面的驗證芯片邏輯功能正確性是該芯片驗證的難點(diǎn)。

  解決的方式是采用ICE模式和SAT模式驗證。雖然硬件仿真器比軟件仿真速度有上千倍的提高,可達數百千赫茲,但和真實(shí)環(huán)境下的芯片運行的速度相比,還有上千倍的差距,因此要將硬件仿真器所仿真的芯片放在真實(shí)(live)的環(huán)境中,必須對真實(shí)環(huán)境到硬件仿真器的信號降速處理,相反從硬件仿真器到真實(shí)環(huán)境中的信號需做加速處理。在此,我們采用Cadence公司的Ethernet Speedbridge速度匹配橋(以太網(wǎng)橋)來(lái)完成這種轉換。

  圖3是zx27x1的ICE模式驗證模型,圖4是zx27x1的SAT模式驗證模型。

  

ICE模式驗證模型

 

  圖3 ICE模式驗證模型 圖4 SAT模式驗證模型

  由 于人力資源和時(shí)間的限制,與Zlink接口相關(guān)的目標系統的降速實(shí)現存在一定的困難,故在ICE模式下,我們將Zlink接口屏蔽掉,只驗證MII接口功能。在驗證MII接口時(shí),我們采用業(yè)界公認的Smartbits儀器作為MII接口的激勵源和接收端,利用其提供的Smartwindow軟件自動(dòng)產(chǎn)生各種各樣的以太幀發(fā)送到palladium中的ZX27x1芯片,并自動(dòng)分析ZX27x1芯片轉發(fā)出的以太幀的正確性。圖3是zx27x1的ICE模式驗證模型,

  但是,僅僅MII接口的驗證是不夠的。為了驗證整個(gè)芯片的功能,我們搭建了SAT驗證環(huán)境。同ICE模式一樣,MII接口的驗證仍然是通過(guò) Smartbits驗證,Zlink接口的驗證則是由驗證工程師用verilog語(yǔ)言編寫(xiě)testbench在ncsim中實(shí)現。圖4是zx27x1的 SAT模式驗證模型。

  5 實(shí)驗結果

  表2 四種工作模式實(shí)驗結果

  

四種工作模式實(shí)驗結果

 

  試驗結果見(jiàn)表2,其中,ICE模式可長(cháng)時(shí)間連續驗證,直到Smartbits停止發(fā)包,目標系統關(guān)閉。因此,運行時(shí)間未測。

  由于palladium具有FullVision功能,設計的內部節點(diǎn)全部可見(jiàn),并且具有ncsim類(lèi)似的force/release功能,故調試能力也很強。

  雖然跟ncsim比,基于硬件的驗證模式編譯速度較慢,但由于palladium是基于cpu的硬件仿真器,其編譯速度相對其他基于fpga的硬件仿真器的編譯速度快的很多。

  另外,在ICE模式下,除了接Smarbits的驗證方法外,我們還將palladium中的DUT通過(guò)以太網(wǎng)橋的RJ45接口接入公司局域網(wǎng)中,正確地實(shí)現了網(wǎng)絡(luò )互連。

  同時(shí),palladium系統支持多用戶(hù)方式,我們的SA模式,SAT模式和ICE模式同時(shí)獨立并發(fā)實(shí)現,大大加快了驗證速度。

  6 結論

  通過(guò)4種驗證模式的實(shí)驗,我們建立了基于硬件仿真器Palladium的多種驗證平臺,得出這樣的經(jīng)驗,對于大規模芯片和功能復雜芯片的驗證:

  a. 系統設計階段,要全盤(pán)考慮驗證計劃,特別是硬件加速驗證中的ICE環(huán)境。因為系統驗證時(shí)期采用ICE驗證可大大提高驗證效率和覆蓋率。

  b. 當用Ncsim純軟件驗證調試整個(gè)系統時(shí),驗證速度很慢且需要很長(cháng)時(shí)間才能找出新bug時(shí),要開(kāi)始采用SA,ICE和SAT等基于硬件大驗證加速模式;

  c. 硬件加速模式的選擇:

  1) 當芯片的目標應用系統可以降頻時(shí),應首選采用ICE模式;

  2) 當目標系統降頻太困難無(wú)法實(shí)現時(shí),應盡量編寫(xiě)可綜合的testbench,采用STB驗證模式以獲得與ICE相同的驗證速度。

  3) 當編寫(xiě)可綜合的testbench也無(wú)法做到時(shí),采用SA或SAT方式獲得驗證加速。

  試驗證明,基于Cadence硬件仿真器Palladium的高效驗證平臺的建立,可以大大加快功能驗證速度,提高功能測試覆蓋率,縮短IC研發(fā)周期,加快產(chǎn)品投放市場(chǎng)的進(jìn)程,提高芯片的一次性投片成功率。



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