R&S先進(jìn)的IC測試方案,讓設計變得更簡(jiǎn)單
“中國集成電路設計業(yè)2015年會(huì )暨天津集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng )新發(fā)展高峰論壇”將于2015年12月10-11日在梅江會(huì )展中心舉辦。加快推動(dòng)我國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展是新一屆中央政府做出的戰略決策。本次年會(huì )以“協(xié)同創(chuàng )新,提質(zhì)增效,成就芯夢(mèng)想”為主題,深入探討集成電路產(chǎn)業(yè),特別是集成電路設計業(yè)面臨的機遇和挑戰;提升創(chuàng )新能力,增強中國集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的綜合能力,以滿(mǎn)足市場(chǎng)的需求和提高國際競爭力。大會(huì )將對促進(jìn)產(chǎn)業(yè)整合,提升核心競爭力,實(shí)現產(chǎn)業(yè)規?;焖侔l(fā)展產(chǎn)生深遠影響。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/283666.htm羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz,R&S)作為全球最大的電子和無(wú)線(xiàn)移動(dòng)通信測試設備廠(chǎng)商之一,將首次在IC年會(huì )上展示其領(lǐng)先的針對IC設計與測試的產(chǎn)品和解決方案,包括寬帶無(wú)線(xiàn)通信測試技術(shù),通用射頻微波芯片測試技術(shù),收發(fā)機芯片測試技術(shù),收發(fā)機芯片產(chǎn)線(xiàn)測試技術(shù),先進(jìn)相位噪聲測試技術(shù),先進(jìn)時(shí)域測試技術(shù)等方案。同時(shí),針對頻域,時(shí)域和信號域的測試,R&S公司帶來(lái)了4款明星產(chǎn)品用于現場(chǎng)的演示和交流:
R&S ZNB20 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀
R&S SMW200A 矢量信號發(fā)生器
R&S FSW43 信號與頻譜分析儀
R&S RTO1044 數字示波器
與此同時(shí),R&S公司將在“IC設計與封裝測試”專(zhuān)題論壇中,以“R&S先進(jìn)的IC測試方案,讓設計變得更簡(jiǎn)單”為主題,全面介紹R&S公司在IC設計與測試領(lǐng)域的產(chǎn)品和解決方案,特別包含可以助力IC 設計的獨有方案,期待與您分享,敬請關(guān)注。
通過(guò)參觀(guān)和交流,來(lái)賓將體驗到R&S公司的一流產(chǎn)品、服務(wù)以及先進(jìn)理念,領(lǐng)略R&S公司打造的全方位IC測試方案平臺,來(lái)共同推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的創(chuàng )新與發(fā)展。
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