如何選擇開(kāi)關(guān)故障診斷工具

　　一、概述

　　開(kāi)關(guān)系統是任何的測試系統中的關(guān)鍵的部分，它們允許客戶(hù)通過(guò)不用的方式來(lái)連接測試儀器和被測件，從而確保了在測試的過(guò)程中被測件的不同的部分可以連接到測試儀器中，從而減少了需要用來(lái)測試的儀器設備。

　　很多用戶(hù)可能會(huì )想到開(kāi)關(guān)系統作為系統中的關(guān)鍵的部分，會(huì )由于各種原因而損壞，而不是因為開(kāi)關(guān)系統本身不可靠。因為開(kāi)關(guān)系統所處的位置是非常容易受損的，所以，意外的發(fā)生的可能性就更大了。

　　開(kāi)關(guān)系統是基于繼電器開(kāi)關(guān)的，是屬于機械裝置，所以是有一定的使用壽命的，但是高性能的繼電器的使用壽命是很長(cháng)的。典型的電磁繼電器(EMR)在小負載的情況下，壽命一般在1000萬(wàn)次，儀器級的簧片繼電器擁有超過(guò)10億次的操作次數。影響壽命的主要的因素是測試系統中的負載的特征還有開(kāi)關(guān)的切換的位置的信號特征。不管是電子設備或者是繼電器切換的信號是非常高的電壓或者是電流，或者是在熱切換(切換的時(shí)候，開(kāi)關(guān)是帶有信號)的情況下，將會(huì )產(chǎn)生電弧，從而腐蝕開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)。

　　熱切換對繼電器的使用壽命影響很大，冷切換和熱切換的影響往往是想差3個(gè)數量級的。研發(fā)者嘗試著(zhù)減少熱切換的影響，但是事實(shí)上，很多測試由于時(shí)間方面的限制，是需要進(jìn)行熱切換的，這樣可以防止在測試的過(guò)程中系統的重新啟動(dòng)或者是確?？梢阅M間歇性的故障。熱切換是研發(fā)者避免不了的。

　　其實(shí)測試系統中很多的故障不是由于繼電器的正常壽命已經(jīng)到了而引起，一些故障是在生產(chǎn)的階段就無(wú)法進(jìn)行檢測而引起的。很多的故障是在測試系統中的一些意外的情況而引起的。一個(gè)經(jīng)常發(fā)生的情況是系統的集成而引起的，例如由于不該連接的地方連接，如與電源之間的短路或者是在電容性的負載上進(jìn)行熱切換，從而引起的布線(xiàn)和軟件方面的故障，從而影響到繼電器。繼電器可以阻擋部分的損害，但是隨著(zhù)系統的使用，繼電器使用的壽命將會(huì )大大地縮短。就算正確地操作系統，但是如果進(jìn)行一些故障的設備測試，這個(gè)也會(huì )給開(kāi)關(guān)系統造成很大的壓力。

　　二、開(kāi)關(guān)故障診斷方法

　　由于開(kāi)關(guān)系統的易損性，這就要求用戶(hù)采用一些針對開(kāi)關(guān)系統的測試檢驗的方式。在一些平臺上，例如VXI，就曾經(jīng)提供過(guò)一些繼電器的檢測的方法。這個(gè)方法包括了能夠一些不太協(xié)調的自檢方式，有時(shí)候它只是檢測控制系統，而不是繼電器的連接(其實(shí)這部分是很容易損壞的)。一些產(chǎn)品也可以檢測繼電器的連接，但是不能檢測隔離繼電器。VXI的產(chǎn)品包括了這方面的功能，是因為VXI的主要用戶(hù)是軍工和航空航天方面，這些測試的環(huán)境是非常差的，而且很少有空間可以進(jìn)行自主檢測。

　　其他的產(chǎn)品，如PXI，PCB板的大小有限，就很難提供自檢工具。在自檢工具的設計研發(fā)階段，這些工具占用了很大的空間，這就減少了模塊的密度，同時(shí)增加了成本。

　　由于成本和空間大小的限制，很多繼電器的供應商會(huì )增加一種工具來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題，如繼電器的操作次數的統計軟件。在這個(gè)軟件中，會(huì )統計繼電器的操作的次數，從而在將要接近操作壽命的時(shí)候，將繼電器更換掉。但是這種工具存在著(zhù)以下的問(wèn)題：

　　由于切換的信號的類(lèi)別的不同，繼電器的使用壽命將有3個(gè)級別的差距，但是這個(gè)軟件不知道切換的信號的類(lèi)型是什么，也就無(wú)法進(jìn)行準確統計;

　　這個(gè)軟件沒(méi)有統計系統故障的能力，如被測件的故障，這個(gè)對繼電器的壽命的影響很大;

　　簧片繼電器是在不同的批次之中有不同的壽命，這個(gè)就增加了使用的不確定性。

　　根據以上的原因，開(kāi)關(guān)系統就會(huì )有比開(kāi)關(guān)的操作壽命相對長(cháng)一點(diǎn)或者短一點(diǎn)的使用壽命，并且故障會(huì )產(chǎn)生數量級的影響而不是單純的百分點(diǎn)的差別。所以如果用戶(hù)基于這個(gè)軟件來(lái)判別開(kāi)關(guān)系統的壽命，那么將會(huì )帶來(lái)不良的影響?，F代的一些器件一般會(huì )比它們的理論的壽命更長(cháng)。早期的預防性的措施將會(huì )替代來(lái)自其他部分的影響，特別是在前面接口部分的影響。所以就有一句哲學(xué)名言這樣說(shuō)的“如果在它工作的時(shí)候，你對它置之不理，那么當你開(kāi)始懷疑它的時(shí)候，問(wèn)題就出現了”。

　　三、系統級的測試

　　系統的集成電路中一般會(huì )包括系統水平的自主檢測，特別是在系統是用來(lái)按照信號路徑反饋的時(shí)候，自主檢測的工具就可以執行了，例如，使用一個(gè)萬(wàn)用表來(lái)測試不同的路徑的時(shí)候。在這方面的投入應該是很大的，而且會(huì )使系統變得復雜，路徑的檢測也變得復雜。系統集成商需要理解的路徑的選擇是在線(xiàn)纜接口和開(kāi)關(guān)內部結合起來(lái)實(shí)現的。這樣的工具可以確定在連接的過(guò)程中的故障的數目，但那是它們不能找到間歇性的部分或者故障的隔離，比如那個(gè)開(kāi)關(guān)是否在系統中，或者是分辨不出是繼電器或者是線(xiàn)纜的故障。

　　四、BIRST-內置繼電器檢測工具

　　自檢工具已經(jīng)發(fā)生了很大的變化。Pickering在2009年發(fā)布了PXI平臺的第一代包括內置繼電器自檢工具的矩陣模塊，名字叫做BIRST(Built In Relay Self Test)。這個(gè)工具是一個(gè)非常緊湊的PXI平臺的計算機附件，它允許通過(guò)軟件來(lái)檢測在矩陣中的每個(gè)通道的阻抗，是通過(guò)不斷的測試來(lái)完成的，往往是幾個(gè)毫歐級的分辨率。每一個(gè)繼電器都可以檢測，如果有焊接短路或者是開(kāi)路的繼電器都可以快速地被找到，軟件的分辨能力允許連接變量的變化。每一個(gè)獨立的故障繼電器都可以被快速地定位。下面是BIRST的用戶(hù)界面：

　　用戶(hù)需要做的是斷開(kāi)PXI模塊，然后打開(kāi)pickering提供的程序。測試的過(guò)程是很快的，每一個(gè)繼電器大概就需要幾十毫秒的時(shí)間。然后，軟件會(huì )用圖表來(lái)顯示檢測的結果，上面就是矩陣模塊的形狀，并且突出故障的繼電器(如下圖的紅色標注的部分)，這就方便用戶(hù)快速地找到繼電器的位置，并進(jìn)行更換。

　　BIRST工具解決了老式的自檢工具和繼電器次數統計軟件的缺點(diǎn)。它允許用戶(hù)在沒(méi)有額外的費用的情況下，快速地找到大量的繼電器中的已經(jīng)損壞的繼電器，這可以避免不必要的拆卸或者關(guān)閉系統。這個(gè)工具也可以在繼電器還沒(méi)有損壞之前，通過(guò)檢測到它的高阻抗，從而提前進(jìn)行更換，這樣對系統來(lái)說(shuō)是一件好事。

　　BIRST工具同時(shí)支持系統級的測試檢測，在運行系統級的測試的時(shí)候，可以集中精力與電纜和開(kāi)關(guān)系統的測試。

　　五、BIRST數據表

　　用戶(hù)關(guān)心的是怎么樣將這個(gè)工具的結果跟數據表聯(lián)系起來(lái)。BIRST通過(guò)不同的路徑來(lái)檢測故障，有些用戶(hù)會(huì )用到儀表板。這些路徑一般擁有比用戶(hù)本身使用的線(xiàn)纜長(cháng)度更長(cháng)的長(cháng)度，同時(shí)也包含了更多的繼電器，所以阻抗往往會(huì )表現得非常的高。

　　另外，數據表中制定的路徑的阻抗是生產(chǎn)過(guò)程中的焊接點(diǎn)的阻抗。跟隨著(zhù)繼電器的使用，阻抗會(huì )變大，這些也受開(kāi)關(guān)位置和開(kāi)關(guān)類(lèi)型的影響的，所以，當阻抗變化很大的時(shí)候，也就說(shuō)明了開(kāi)關(guān)已經(jīng)步入了生命周期的晚期了。

　　六、使用范圍

　　為什么BIRST只能用在矩陣上呢?因為它依靠的是兩端連接(四端，用于雙刀開(kāi)關(guān)系統中)到系統中，是通過(guò)完整的路徑來(lái)進(jìn)行判斷的。這個(gè)是一個(gè)復雜的過(guò)程，因為它要求這個(gè)工具通過(guò)僅有的這幾個(gè)連接端來(lái)判斷矩陣中的故障。一些隔離開(kāi)關(guān)將會(huì )使得部分開(kāi)關(guān)不能被檢測到，這個(gè)時(shí)候就需要外接設備。配置別的矩陣的時(shí)候，由于會(huì )需要增加別的開(kāi)關(guān)，也就會(huì )增加了一些問(wèn)題。

　　在2015年，一種外部的測試工具叫eBIRST發(fā)布了，支持更多的矩陣面板，并且還支持非矩陣的模塊，如通用的開(kāi)關(guān)模塊等。

　　七、BIRST解決方案

　　BIRST是在2009年發(fā)布的新一代的自檢工具，它支持矩陣模塊，這些矩陣模塊的特點(diǎn)是擁有很多的繼電器，有些擁有高達4406個(gè)繼電器。升級版的是在后綴有一個(gè)大寫(xiě)的A字母，而且在未來(lái)，大部分的電流矩陣開(kāi)關(guān)也將可以在BIRST中使用，而且不會(huì )增加額外的費用，因為舊版的工具可以作為贈品贈送。

　　在支持BIRST的產(chǎn)品中，它們說(shuō)明書(shū)中會(huì )有BIRST的標志的。如下所示：

　　綜上所述，可以看出BIRST作為一種開(kāi)關(guān)模塊的內置繼電器自主檢測工具，大大地提高了系統的自我檢測能力，同時(shí)減少了故障排除的時(shí)間，提高了用戶(hù)的使用效率，相信未來(lái)將會(huì )有更多的用戶(hù)會(huì )用上這個(gè)工具的。