智能卡的自動(dòng)化測試平臺設計

PC／SC規范包含大量Scard為前綴的API，可以在 winscard．h中找到其原型。應用程序需要包含win—scard．1ib，所有函數的正常返回值都是SCARD—S—SUCCESS，在這些函數中常用的只有幾個(gè)。與智能卡的訪(fǎng)問(wèn)流程如下：

(1)初始化函數中調用SCardEstablishContext，建立資源管理器的上下文，獲得設備的連接句柄，若返回SCARD— S— SUCCESS，則調用成功；調用ScardLis—tReaders獲得系統中安裝的讀卡器列表，調用成功則獲取聯(lián)機的讀卡器名字。
(2)在響應函數中調用ScardConnect與卡片建立連接，此時(shí)能與卡片通信。
(3)與卡片連接后通過(guò)調用SCardTransmit來(lái)發(fā)送命令，得到由卡片返回的數據。
(4)卡片處于連接狀態(tài)時(shí)，可以調用SCardRecon—nect函數使卡片復位。
(5)完成了與卡片的命令發(fā)收后，調用SCardDis—connect函數斷開(kāi)與智能卡的連接。
項目已經(jīng)實(shí)現以上功能的編程接口，而且利用類(lèi)的方法進(jìn)行了封裝。

　　3 測試平臺的使用

　　3．1 測試流程

　　腳本的制定還是使用人工方式，測試人員通過(guò)測試平臺完成測試。自動(dòng)化測試不需要人工干預，縮短了測試時(shí)間。因而測試過(guò)程采用人工測試和自動(dòng)化測試相結合的方法進(jìn)行。

　　用戶(hù)可以編寫(xiě)測試腳本，快速發(fā)送測試命令和收集測試數據，可以單次執行或者循環(huán)執行，當滿(mǎn)足終止條件時(shí)，腳本執行結束，生成測試報告。圖5為測試流程圖。

　　3．2 功能測試

　　測試平臺能夠以APDU為基本單元完成針對智能卡的功能測試，下面分別對其進(jìn)行介紹。

　　3．2．1 測試基本單元

　　測試平臺與智能卡通信的基本單元是APDUL9 。應用層以APDU為單位進(jìn)行有序的數據交換，應用層交換的每一步都以命令應答對組成。APDU的命令應答對由以下部分組成：命令APDU包含一個(gè)必備的四字節頭(CLA，INS，P1，P2)和可選的命令體(Lc，Data，Le)。命令頭為命令的編碼，Lc為體內數據(data)長(cháng)度，Data為發(fā)送的數據，Le為應答APDU數據字段的最大字節數。應答APDU由可選長(cháng)度體和兩字節狀態(tài)字SW1一SW2組成。其中，體內的字節數由命令APDU 的Le指出。Data為卡片接受命令APDU后返回的數據。尾部狀態(tài)字指出卡的處理狀態(tài)。其中，61xx和9000為正常處理，6lxx的含義SW2指出仍然有效的應答字節數，9000代表正常處理。

　　3．2．2 單元測試

圖5 測試流程圖

　　同樣，智能卡內部程序也是以APDU為單位實(shí)現的，因此單元測試的對象就是APDU。發(fā)送一個(gè)APDU給智能卡，通過(guò)智能卡內部程序執行完后返回狀態(tài)字，判斷執行結果的正確與否。命令之間存在著(zhù)相互依賴(lài)關(guān)系，因此命令之間通常要相互配合才能完成測試任務(wù)。

　　3．2．3 集成測試

　　集成測試主要是通過(guò)命令之問(wèn)有序地執行完成智能卡的功能測試，根據不同的測試需要可以對測試腳本進(jìn)行分類(lèi)，例如FLASH 的讀／寫(xiě)，加密模塊的測試等。按照需要整理好相應的測試腳本后就可以在測試平臺上運行，通過(guò)腳本與智能卡程序的互測，達到測試目的。測試平臺支持自動(dòng)化測試，所以可以在測試平臺上不間斷地執行測試腳本，測試人員不需要實(shí)時(shí)跟蹤，只需要關(guān)心最后的測試結果，通過(guò)測試結果可以發(fā)現問(wèn)題，解決問(wèn)題。

　　4 結 語(yǔ)

　　該系統已經(jīng)通過(guò)測試，并且得到初步驗證。由于針對智能卡的測試項很多，通常需要多種測試工具的軟件和硬件設備交互使用，測試人員要熟悉各種軟件工具，相應地降低了工作效率。如果能將各種工具軟件集成在一起，形成一個(gè)多功能的測試平臺，支持多種通信接口的讀卡器，支持多種腳本格式，那么這將是下一步的工作重點(diǎn)。