元器件的連通性和絕緣電阻測試

　　在圖 3中，可使用7169A型20通道C型開(kāi)關(guān)卡以相對較高的電壓（最高500 V）測量絕緣電阻（對于最大1300 V的電壓，可使用7153型4×5高電壓小電流矩陣卡）。7169A型開(kāi)關(guān)卡具有位置敏感的繼電器，并只可用于7002型開(kāi)關(guān)主機中。

　　7169A型開(kāi)關(guān)卡上的兩個(gè)總線(xiàn)可將其配置為開(kāi)關(guān)或復用。若需測量插針1和2之間的絕緣電阻，需閉合通道1和22。

　　圖 3，測試任意兩個(gè)端子之間的絕緣電阻（IR）

　　電阻器（R）限制著(zhù)通過(guò)繼電器的充電電流。這些電阻器取代了開(kāi)關(guān)卡上出廠(chǎng)安裝的跳線(xiàn)，使電纜電容充電和放電電流達到最小。典型的R值為100 kΩ。

　　連通性和絕緣電阻組合測試

　　有些多插針裝置需要測量通過(guò)每一導線(xiàn)的通路電阻或連通性（低阻），并測量導線(xiàn)之間的絕緣電阻（高阻）。測試系統需要切換和測量低阻（ 1Ω）和非常高的電阻值（> 109Ω）。

　　該測試系統可被用于各種裝置，例如連接器、開(kāi)關(guān)、多芯電纜和印制板。

　　切換配置

　　圖4所示一套通斷性和IR組合測量系統，通過(guò)一臺4線(xiàn)DMM或源表測試多芯電纜。電阻R1～R20表示導線(xiàn)電阻.為了測量導線(xiàn)1的電阻R1，需要閉合通道1和21.電阻Ra和Rb表示導線(xiàn)之間的漏阻?？蓽y量任意兩根或多根導線(xiàn)之間的漏阻。若要測量漏阻Ra，需要閉合通道1和22。這實(shí)際上是導線(xiàn)1和2之間的漏阻，Ra遠遠大于R1。

　　圖4，通斷性和IR測試系統

　　單套包含7702型40通道差分放大器的2700型多用表/數據采集系統可測試最大20根導線(xiàn)。當利用DMM測量漏阻時(shí)，施加的最大電壓通常小于15 V。此外，測得的最大電阻往往不會(huì )高于100 MΩ。為了測試規定測試電壓下的IR，可以使用的測試配置如2400型源表和7001型或7002型開(kāi)關(guān)主機中的7011型1×10多路選通卡。

　　圖5，擴展的通斷性/IR測試系統

　　如果需要更高的測試電壓或必須測量更高的漏阻，則可使用圖5所示的電路。在該圖中，采用了兩塊7154型高壓掃描卡來(lái)將2410型源表和2010型數字多用表切換至8根導線(xiàn)。該系統能夠以高達1000 V的測試電壓測量低達0.1 mΩ的導線(xiàn)電阻和高達300 GΩ的漏阻。注意，2410型和2010型未被連接到開(kāi)關(guān)卡輸出，而是連接到插卡的指定通道。插卡的輸出，僅用來(lái)將系統擴展為可測量更多數量的導線(xiàn)。若要測量電阻R1的阻值，需閉合通道1、10、11和20。這樣將把2010型連接到R1兩端；若要測量Ra，也就是R1和R2之間的漏阻，需要閉合通道1、9、12和19。這樣將把2410型連接到漏阻（Ra）兩端。