高性能接觸電阻測試系統

　　接觸電阻是對通過(guò)閉合觸點(diǎn)對的電流的阻抗。這種類(lèi)型的測量是針對例如連接器、繼電器和開(kāi)關(guān)這樣的器件進(jìn)行的。該電阻通常非常小，范圍從微歐到幾個(gè)毫歐，因此需要采用4線(xiàn)測量法?？删幊虙呙鑳x通過(guò)將一組測試儀器切換至多個(gè)觸點(diǎn)，大大縮短了測量時(shí)間。例如測試多插針連接器或自動(dòng)測試環(huán)境艙中的多個(gè)觸點(diǎn)時(shí)。

　　圖 1，測量20個(gè)觸點(diǎn)的接觸電阻

　　如圖1所示，為防止測試線(xiàn)、通路和開(kāi)關(guān)的接觸電阻被疊加到測量值，歐姆表的全部4個(gè)端子都通過(guò)開(kāi)關(guān)進(jìn)行切換。注意，電源 HI和LO端子被連接到一組雙刀開(kāi)關(guān)，而測量HI和LO端子則被連接到另一組雙刀開(kāi)關(guān)。若要測量觸點(diǎn)1的電阻，需要閉合通道1和21，然后利用歐姆表測量電阻；若要測量觸點(diǎn)2，需要開(kāi)路通道1和21，閉合通道2和22，然后再次測量電阻。

　　Keithley 2750型多用表/開(kāi)關(guān)系統能夠測量低于1 mΩ的電阻，并具有偏移補償和干電路（Dry Circuit）測試能力，所以可用來(lái)測量接觸電阻。

　　小功率應用中的觸點(diǎn)通常是在干電路條件下進(jìn)行測試的，在這種情況下，電流和電壓均被限制到不會(huì )引起點(diǎn)接觸結的物理和電氣條件發(fā)生變化。通常而言，干電路的開(kāi)路電壓非常低，一般為20 mV或更低，短路電流被限制為100 mA或更低。