元器件的連通性和絕緣電阻測試

　　各種各樣的裝置都需要進(jìn)行通斷性檢查，包括電纜成套件、印制板和連接器，以確保這些元件具有預期的連續通路。在設置通斷性測試時(shí)，工程師必須規定電阻最大為多少時(shí)裝置是可用的。例如，若測得的電阻為1Ω或更小，則表示裝置良好。通斷性檢查需要測量低阻，因此通常使用4線(xiàn)歐姆表進(jìn)行測量，從測量值中消除測量線(xiàn)和開(kāi)關(guān)電阻。

　　除進(jìn)行通斷性測試外，往往還會(huì )進(jìn)行隔離電阻或絕緣電阻測試。尤其對于多芯電纜，每根導線(xiàn)都形成兩端之間的連續通路，并且還要求每根導線(xiàn)與其它所有導線(xiàn)隔離。

　　圖1，通斷性測試系統

　　既然通斷性測試往往涉及到多導線(xiàn)裝置，因此利用一套開(kāi)關(guān)系統將歐姆表自動(dòng)連接到每根導線(xiàn)就非常有用。

　　圖 1所示為一個(gè)典型的通斷性測試電路。使用兩組雙刀開(kāi)關(guān)對20根導線(xiàn)進(jìn)行4線(xiàn)電阻測量。在2700型多用表/數據采集系統中，為了測量導線(xiàn)1的電阻，需閉合通道1（Ch.1）。在4線(xiàn)歐姆模式下，將自動(dòng)閉合通道21。對每根導線(xiàn)重復以上動(dòng)作。

　　為了測量20根導線(xiàn)，就需要2700型帶有7702型40通道差分復用器模塊。如果同時(shí)測量的導線(xiàn)超過(guò)40根，就需要帶有7702型模塊的2750型多用表/開(kāi)關(guān)系統。

　　絕緣電阻測試

　　直流絕緣電阻（IR）為施加到兩根由絕緣層隔離的導線(xiàn)之間的電壓與這兩根導線(xiàn)之間通過(guò)的總電流之比。在測量電流之前，施加一定時(shí)間周期的測試電壓。測得的電流通常非常小，因此往往需要使用皮安計或靜電計進(jìn)行測量。

　　有時(shí)候測量一個(gè)樣本的絕緣電阻僅僅是為了確認大于規定的一個(gè)最小值。例如，大于10 MΩ的任何電阻值都認為是可接受的。測量的準確度并不關(guān)鍵，重要的是測得的電阻值大于一個(gè)規定值。

　　測量絕緣電阻的例子包括測量印制板上走線(xiàn)之間的通路，或多芯電纜中導線(xiàn)之間的電阻。由于IR測量往往涉及到多芯導線(xiàn)，所以通常需要一套切換系統來(lái)將皮安計和源切換至測試電路中的所有導線(xiàn)。

　　IR測試系統中采用的開(kāi)關(guān)卡的設計和類(lèi)型取決于多個(gè)因素，包括測試電壓、電阻數量級、準確度、共用連接，等等。以下部分介紹兩種IR測試系統。

　　圖2所示為一套用來(lái)測量IR的測試系統，它通過(guò)7001型開(kāi)關(guān)主機中的7111-S型40通道C型開(kāi)關(guān)卡來(lái)測量多芯連接器中每個(gè)端子與其它所有端子之間的絕緣電阻。在去激勵位置，電壓源被連接到被測的所有插針。當選中了任意指定通道時(shí)，則測量該插針至其它所有插針的漏流。7111-S型開(kāi)關(guān)卡的偏移電流指標100 pA。當測試電壓為100 V時(shí)，則說(shuō)明漏阻為1 TΩ。將該系統連入實(shí)際電路時(shí)，可非常容易地檢測到大于10 GΩ的漏阻。

　　圖 2，測量多芯連接器中任意插針至其它所有插針的絕緣電阻（IR）

　　圖 3所示的系統中，可以對一個(gè)或多個(gè)插針施加測試電壓，同時(shí)測量來(lái)自于一個(gè)或多個(gè)插針的電流。注意，每個(gè)插針上都連接有兩組獨立的開(kāi)關(guān)。一組將測試電壓連接到插針，而另一組測量漏流。因此就可以測量任意插針和另外任意一個(gè)插針或所有插針之間的IR。注意，在測試周期的有些時(shí)間點(diǎn)，所有的開(kāi)關(guān)都將承受測試電壓。所以，兩組開(kāi)關(guān)都必須能夠承受預期的測試電壓，并應該具有良好的通道間隔離，以防止測試信號劣化。