Mentor推出1500A功率循環(huán)測試設備

　　聚焦可靠性

　　IGBT等大功率的電力電子器件通常需要大電流，例如地鐵需要800A，新能源汽車(chē)需要600A，風(fēng)能需要1500A及以上。同時(shí)電力電子器件的可靠性非常關(guān)鍵，例如機車(chē)牽引的期望壽命超過(guò)三十年，功率器件通常需上萬(wàn)次甚至百萬(wàn)次的功率循環(huán)要求，對新型IGBT等電力電子器件的可靠性提出了巨大的挑戰。

　　功率循環(huán)和熱量導致與熱相關(guān)的器件老化降級，容易導致焊線(xiàn)老化降級，金屬層錯位，焊接失效，硅芯片和基板的分層等問(wèn)題。因此需要精密的實(shí)驗設備對電力電子器件的可靠性進(jìn)行評估。

　　傳統的功率循環(huán)測試和失效分析有諸多短板。傳統工藝流程會(huì )運行多次功率循環(huán)，這種功率循環(huán)/實(shí)驗室失效分析的工藝流程非常耗時(shí);傳統上是在實(shí)驗室進(jìn)行失效分析，重復功率循環(huán)/實(shí)驗室失效分析直至器件完全損壞，在實(shí)驗室確定失效原因，因此在工藝過(guò)程中不僅不能“在線(xiàn)”指出器件的失效——只能在事后識別，而且失效原因需要實(shí)驗分析——通常從封裝內部尋找原因(見(jiàn)下圖)。

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設備的優(yōu)勢

　　Mentor Graphics的MicReD 1500A功率循環(huán)測試設備，主要用于IGBT等電力電子器件的可靠性測試，它利用MicReD經(jīng)業(yè)界驗證的T3Ster瞬態(tài)熱測試技術(shù)，達到了實(shí)驗室級的精度，具有高準確性。由于獨特的結構函數功能，具有實(shí)時(shí)診斷器件的降級過(guò)程和失效原因，因此失效分析精準，并可縮短總的測試時(shí)間，只需原來(lái)測試時(shí)間的1/10及以下。由于加熱電流達到1500A，并采用3電流通道的架構，可以在同一臺設備上可同時(shí)進(jìn)行多種樣品測試。

　　Mentor Graphics公司MAD(機械分析部門(mén))MicReD產(chǎn)品經(jīng)理Andras Vass-Varnai稱(chēng)，MicReD的技術(shù)指標堪稱(chēng)完美，例如采樣分辨率可達1μs，“相比離我們最接近的競爭對手，MicReD的指標是它們的1/50。”加熱電流控制完美，不會(huì )出現尖峰，脈沖寬度從500ms起，直至無(wú)窮大。

　　應用

　　大功率器件可應用于電機驅動(dòng)、UPS、光伏逆變器、電動(dòng)/混合動(dòng)力汽車(chē)、機車(chē)牽引、風(fēng)力發(fā)電的風(fēng)力渦輪機、工業(yè)應用、消費類(lèi)電子等。

　　MicReD 1500A功率循環(huán)測試設備可用于電力電子器件生產(chǎn)商，一級模組設計和制造商，高可靠性產(chǎn)品制造商。