一種準確地預測由泄漏電流引起的PLL基準雜散噪聲之簡(jiǎn)單方法（上）
作者：Due To Leakage Current
時(shí)間：2014-04-01
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
收藏
加入技術(shù)交流群
掃碼加入
和技術(shù)大咖面對面交流
海量資料庫查詢(xún)
本文給出了一種簡(jiǎn)單的模型，可用來(lái)在PLL系統中準確地預測由于充電泵和/或運算放大器泄漏電流引起的基準雜散噪聲的大小。知道如何預測這類(lèi)噪聲有助于在PLL系統設計的早期明智地選擇環(huán)路參數。
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/235712.htmPLL快速回顧
鎖相環(huán)(PLL)是一種負反饋系統，將一個(gè)相位和頻率隨溫度和時(shí)間變化不夠穩定的較高頻電路(通常是一個(gè)壓控振蕩器VCO)的相位和頻率鎖定到一個(gè)比較穩定和頻率較低的電路(通常是一個(gè)溫度補償或恒溫晶體振蕩器，即TCXO或OCXO)上。作為一個(gè)黑盒子，PLL可以看作是一個(gè)頻率倍增器。
當需要高頻本機振蕩(LO)源時(shí)，會(huì )使用PLL。應用實(shí)例有很多，包括無(wú)線(xiàn)通信、醫療設備和儀表。
評論