電子可靠性技術(shù):最壞情況分析方法（一）

　　圖2：典型值為1,200uF的電容的最壞情況器件參數變化。

　　下面對圖1中的帶通濾波器進(jìn)行案例分析，給出WCCA分析的性能和結果。對電路的中心頻率放大器增益進(jìn)行分析。假設U6是一個(gè)理想放大器(RIN=∞, ROUT=0, AVOL=∞)，不考慮它，電路的放大增益計算公式如下，Eq1

　　性能要求Af0最小值為7V/V，電阻和電容的典型值和初始容差如下：

　　將器件的典型值代入Eq1得到Af0=11.08V/V，顯示結果是滿(mǎn)足要求的。如果考慮較差的情況，代入每個(gè)器件參數的初始容差(±1%)，得到Af0=7.84V/V，也在要求范圍內。必須注意，器件電阻和電容的初始容差是電路在典型設計和分析時(shí)經(jīng)常采用的，但是，這些值并不表示電路在實(shí)際環(huán)境中的真正情況。

　　最壞情況器件參數變化庫

　　器件供應商設定器件的初始容差(采購容差)，這僅僅保證器件在采購時(shí)，所有器件的各個(gè)批次都在初始容差范圍內，并不保證器件參數會(huì )一直在這個(gè)容差范圍內。器件在工作環(huán)境中，其參數會(huì )偏移初始值。在許多情況下，特別是在長(cháng)時(shí)間使用后，器件參數偏移會(huì )大于初始容差。每種可能的最大偏移都累加在初始容差上，如圖2所示。

　　圖3：電阻和電容的最壞情況最大最小值。

　　WCCA是假設器件使用后，其參數已經(jīng)處在初始容差值。同時(shí)又假設電路中的所有器件同時(shí)處于最大偏移值。雖然這種情況似乎不可能發(fā)生，但它是可能存在的一個(gè)最壞情況。比較可能的情況是一些器件的部分參數超過(guò)了初始容差，但不會(huì )都達到最大偏移值。如果在最壞情況下，所有器