東芝小型光繼電器: 高速導通助力縮短半導體測試設備的測試時(shí)間
中國上海,2023年5月25日——東芝電子元件及存儲裝置株式會(huì )社(“東芝”)今日宣布,推出采用S-VSON4T封裝的光繼電器——“TLP3476S”,其導通時(shí)間與東芝當前產(chǎn)品TLP3475S相比縮短了一半。該產(chǎn)品于今日開(kāi)始支持批量出貨。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202305/446950.htm與東芝當前的產(chǎn)品TLP3475S相比,TLP3476S運行速度更快、結構更緊湊。該產(chǎn)品通過(guò)提高紅外LED的光輸出并優(yōu)化光電探測器件(光電二極管陣列)的設計,可實(shí)現高效的光耦合,也提高了運行速度,將導通時(shí)間最大值縮短至0.25ms,時(shí)間為TLP3475S的一半。此外,由于采用了尺寸更小、外形更纖薄的S-VSON4T封裝(最大厚度為1.4mm),TLP3476S的厚度比當前產(chǎn)品減小了20%。這有助于減少需要多個(gè)電路板的設備的尺寸。
TLP3476S適用于繼電器數量多,并需要更短開(kāi)關(guān)時(shí)間的半導體測試設備電路。
? 應用
- 半導體測試設備(高速存儲器測試設備、高速邏輯測試設備等)
- 探測卡
- 測量設備
? 特性
- 小型S-VSON4T封裝:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=1.4mm(最大值)
- 高速導通時(shí)間:tON=0.25ms(最大值)
? 主要規格
(Ta=25℃)
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