史密斯英特康推出最新高頻測試插座Joule 20

全球領(lǐng)先的半導體測試插座和測試應用解決方案供應商史密斯英特康宣布推出其應用于外圍IC測試的Joule 20高頻測試插座。

當前隨著(zhù)5G等高速通訊標準的升級，新的RF芯片廣泛應用于手機，平板，可穿戴設備，無(wú)人駕駛汽車(chē)等移動(dòng)設備，對RF射頻測試插座的需求越來(lái)越多，標準也越來(lái)越高。Joule 20出色的接觸技術(shù)和高頻能力有效的保證了信號傳輸的可靠性和完整性。此外，其創(chuàng )新的設計結構可允許拆卸測試插座外殼而無(wú)需將其從PCB板上卸下，在設備測試期間仍然可進(jìn)行清潔和維護工作，從而大大減少了設備停機時(shí)間并提高了測試產(chǎn)量。

Joule 20射頻測試插座具有出色的機械和電氣性能：

• 插入插槽，匹配現有的PCB插槽尺寸

• 極短的信號路徑，可提供高達20 GHz的高帶寬

• 芯片和PCB之間的接觸電阻非常低，從而提高了測試良率

• 高頻能力確保信號完整性和可靠性

• 散熱能力支持從-40°C到+125°C

• 接觸壽命長(cháng)，最多插拔次數可達到500,000次

 “近年來(lái)數字時(shí)代的加速發(fā)展，對新的消費電子產(chǎn)品以及自動(dòng)駕駛汽車(chē)產(chǎn)生了巨大的需求。集成電路的速度變得越來(lái)越快，功能越來(lái)越復雜，這就要求更高的測試可靠性和更少的測試時(shí)間以將產(chǎn)品快速推出市場(chǎng)?！?nbsp;史密斯英特康半導體測試業(yè)務(wù)部副總裁兼總經(jīng)理Bruce Valentine說(shuō)。 “史密斯英特康的研發(fā)腳步也不敢懈怠，Joule 20射頻測試插座的解決方案可以大大提高測試生產(chǎn)量以及滿(mǎn)足對外圍封裝技術(shù)（QFN，QFP和SOIC）更快，更可靠且可重復的測試需求?！?/p>