第四代低功耗動(dòng)態(tài) DRAM 與其延展版的車(chē)輛應用解決方案
日本計劃在東京奧運會(huì )上展示無(wú)人駕駛技術(shù),展現了近年來(lái)汽車(chē)智能化的成果。隨著(zhù)5G技術(shù)與人工智能( AI)的發(fā)展,車(chē)載通訊技術(shù)已慢慢從早期的娛樂(lè )影音播放以及導航系統,發(fā)展到現在的深度學(xué)習與車(chē)聯(lián)網(wǎng)( V2X),并朝著(zhù)無(wú)人駕駛的目標前進(jìn)。而實(shí)現此目標的關(guān)鍵因素正是半導體。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202007/416382.htm目前,先進(jìn)駕駛輔助系統(ADAS)是車(chē)載通訊中最普遍的應用之一,它包含不同的子功能主動(dòng)式巡航控制、自動(dòng)緊急煞車(chē)、盲點(diǎn)偵測以及駕駛人監控系統等。車(chē)輛制造商一直試著(zhù)添加更多主動(dòng)式安全保護,以達到無(wú)人駕駛的最終目標。因此,越來(lái)越多的半導體產(chǎn)商與車(chē)輛制造商合作,以提高裝置的可靠度。
許多半導體已經(jīng)實(shí)際應用于汽車(chē)內,如電動(dòng)車(chē)(含油電混合車(chē))所使用的功率半導體、車(chē)身與被動(dòng)安全裝置使用的微控制器、數字信號處理器、半導體傳感器、不同種類(lèi)的內存(包括NOR與 DRAM),以及影音播放與整合系統等。根據 IHS Markit統計,整體車(chē)用半導體過(guò)去幾年產(chǎn)值平 均以每年約 7%的速度增長(cháng)。
隨機存取內存
(DRAM)在車(chē)輛內的應用作為處理器重要的零組件,DRAM負責儲存程序代碼的重要工作,并且在越來(lái)越多通訊功能(包括但不限于個(gè)人計算機、服務(wù)器、行動(dòng)裝置)與車(chē)輛應用中,扮演著(zhù)重要的角色。目前主要使用內存的車(chē)內應用包括與息娛樂(lè )系統與 ADAS,兩者幾乎占整個(gè)車(chē)用 DRAM產(chǎn)值80%以上。
在信息娛樂(lè )系統方面,座艙Cockpit 控制器、車(chē)載通訊 Telematics 是 DRAM的主要應用。而在 ADAS應用中, DRAM主要使用在雷達與光達感測,以及鏡頭感測。此外,它也有許多與域 Domain 控制器搭配的應用。
域控制器應用要求計算帶寬與容量來(lái)處理各個(gè)傳感器上的信息,因此隨著(zhù)傳感器分辨率的提升, DRAM在容量以及帶寬上也需要有相應提升。為了符合這一需求,第四代低功耗隨機存取內存( LPDDR4)及其延展版 LPDDR4x)變得越來(lái)越普遍,其數據傳輸率可高達4266Mbps。由于信息娛樂(lè )系統發(fā)展較早,因而長(cháng)年使用 DDR DDR2/DDR3)系列,但隨著(zhù)汽車(chē)對省電的需求逐漸增加,低功耗內存( LPDDR)也慢慢有了取代 DDR的趨勢。除了容量以外,效能也是
DRAM最主要的應用原因之一。雖然車(chē)內應用種類(lèi)廣泛,但并非每種應用都需要使用大容量 DRAM,更常見(jiàn)的是需要計算的效能應用。如車(chē)內的各種感測技術(shù),需要通過(guò)高速運算來(lái)產(chǎn)生實(shí)時(shí)結果,以提供車(chē)用電子服務(wù)。因此小容量的 LPDDR4x將在車(chē)用 DRAM中扮演重要角色。
DRAM對于車(chē)載通訊可靠度的重要性
由于車(chē)用安全性的極高要求,避免發(fā)生錯誤至關(guān)重要。相較于消費性電子通過(guò)重啟就能解決大部分問(wèn)題,行進(jìn)中汽車(chē)并無(wú)法用此方式解決故障。因此對車(chē)用電子而言,最重要的不只是出廠(chǎng)時(shí)的質(zhì)量狀態(tài),還有出 廠(chǎng)后對環(huán)境變化的運作狀態(tài)可靠度 ——遇到高低溫氣候時(shí),仍能保持長(cháng)期正常運作。
在半導體組件中,測量硬件可靠度故障率的單位為Failures In Time FIT)。影響硬件可靠度的常見(jiàn)因素是晶粒與封裝的錯誤。晶??赡馨l(fā)生的錯誤有晶體管的不穩定,如離子污染、金屬導體的電遷移( EM),以及常見(jiàn)的靜電放電傷害 ESD)等;封裝的錯誤如封裝的翹曲變形( Warpage)等。
為了提高硬件的可靠性,一般在產(chǎn)品量產(chǎn)前會(huì )做高溫操作壽命測試(High Temperature Operating Lifetime Test HTOL),來(lái)模擬產(chǎn)品在高溫加速時(shí)的操作狀況;并進(jìn)行早期故障率測試( Early Failure Rate, EFR),來(lái)解決翹曲變形問(wèn)題,以提高封裝部分的板級可靠度Board Level Reliability)。
華邦電子擁有自建晶圓制造廠(chǎng),是全球前四大同時(shí)提供DRAM與 NOR/NAND FLASH整合組件的制造商。旗下車(chē)用 DRAM產(chǎn)品線(xiàn)包含 SDRAM、 DDR/2/3以及 LPDDR/2/4/4x,容量涵蓋 64Mb至 1Gb,可滿(mǎn)足客戶(hù)對車(chē)規內存管理的嚴苛需求,并可提供長(cháng)期供貨。通過(guò)使用自有的 25納 米技術(shù),華邦可制造 1Gb~8Gb容量的 LPDDR4 / DRAM4x,數據傳輸率最高可達 4266Mbps。其封裝型態(tài)除了良裸晶粒( KGD)外,也提供標準 200球柵陣列封裝( BGA供客戶(hù)選擇,并預計于今年( 2020)第三季提升至第一級車(chē)規溫度規格 AG1)。
華邦已通過(guò)IATF 16949與 AECQ-100標準,并長(cháng)期為車(chē)用電子廠(chǎng)商供貨。未來(lái)隨著(zhù)越來(lái)越多 ADAS功能進(jìn)到車(chē)內,在實(shí)現無(wú)人駕駛車(chē)輛目標的過(guò)程中,華邦將致力于提供效能優(yōu)良,同時(shí)具有高可靠度的產(chǎn)品,來(lái)支持車(chē)用產(chǎn)業(yè)客戶(hù)。
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