一種安全可控的SoC可測性設計 作者： 時(shí)間：2017-06-05 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò ) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢(xún) 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 摘要：提出了一種安全可控的可測性設計DFT（Design For Test）。DFT既能夠完成對SoC的測試，又能保障SoC自身敏感信息和關(guān)鍵技術(shù)的安全。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/201706/349244.htm關(guān)鍵詞：可測性設計 集成電路 微系統芯片一種安全可控的SoC可測性設計.pdf
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