I2C總線(xiàn)應用下的EEPROM測試

假設我們這里每個(gè)字節寫(xiě)入相同的數據(如00或FF等)，那么在這種情況下，要是Word address counter無(wú)法正常工作，那么我們寫(xiě)入或讀取的可能是部分地址所指向的EEpromArray中的bit位，而且無(wú)法保證xdec和ydec能正常****行地址和列地址，譬如說(shuō)我們對“10101010”word address所指向的字節寫(xiě)入00，如果讀取“101010”這個(gè)地址數據時(shí)，Word address counter、xdec、ydec任意單元發(fā)生了錯誤，那么最終我們讀取到的數據就不是“10101010”這個(gè)地址所指向的字節數據，也就是說(shuō)因為每個(gè)字節數據是一樣的，所以即使寫(xiě)入和讀取的地址發(fā)生了錯位，我們也會(huì )認為測試是通過(guò)的。

由此可見(jiàn)，要保證Word address counter、xdec、ydec等單元正常工作，我們寫(xiě)入的數據必須滿(mǎn)足下列三個(gè)條件：

①寫(xiě)入EEPROM Array的每一行數據不一樣(驗證xdec單元)；

②寫(xiě)入EEPROM Array的每一列數據不一樣(驗證ydec單元)；

③寫(xiě)入EEPROM Array的每一個(gè)字節數據不一樣(驗證Word address counter單元)；

這就是我們選擇寫(xiě)入00～FF的理由(當然也可以選擇寫(xiě)入其他數據，只要符合上述最后一個(gè)條件即可)。

(2)每個(gè)字節寫(xiě)入數據00，讀取看是否與寫(xiě)入的一致

通過(guò)上述第一項測試，其實(shí)已經(jīng)可以基本保證芯片各單元能正常工作，接下來(lái)只需測試驗證EEPROM Array(2Kbit)中的每個(gè)bit位是否良好，這里寫(xiě)入數據00，可排除EEPROM Array(2Kbit)中恒為“1”的bit位。

(3)每個(gè)字節寫(xiě)入數據FF，讀取看是否與寫(xiě)入的一致

可排除EEPROM Array(2Kbit)中恒為“0”的b“位。

(4)從00H地址開(kāi)始寫(xiě)入4個(gè)字節55，接著(zhù)寫(xiě)入4個(gè)字節AA，如此重復，直至寫(xiě)滿(mǎn)256個(gè)字節，讀取看是否與寫(xiě)入的一致。

EEPROM Array中相鄰bit位(包括行相鄰、列相鄰、對角線(xiàn)相鄰)會(huì )互相影響。

而24LC02的EEPROM Array分為4列×64行×8bit，所以我們寫(xiě)入上述的數據使得每個(gè)相鄰bit位的數據都不一樣，經(jīng)過(guò)該項測試可排除相鄰bit位的數據竄擾。最好是再測試一下寫(xiě)入4個(gè)字節AA，寫(xiě)入4個(gè)字節55……，看讀取與寫(xiě)入的是否一致。

到此我們完成了全部的功能測試。24LC02讀寫(xiě)時(shí)有page write、byte write、random read、Sequentialread等各種工作模式以及writeprotect功能，這些測試都比較簡(jiǎn)單，這里就不再一一贅述了。

由此，我們概括出EEPROM的一般測試方法：

(1)每個(gè)字節寫(xiě)入random code，讀取驗證是否與寫(xiě)入時(shí)一致，從而測試Word address counter、xdec、ydec等單元是否能正常工作；Random code需要滿(mǎn)足下面這個(gè)條件：寫(xiě)入EEPROMArray的每一個(gè)字節數據不一樣。

(2)每個(gè)字節寫(xiě)入數據00或FF，讀取驗證是否與寫(xiě)入時(shí)一致，排除EEPROM Array中恒“0”或恒“1”的bit位。

(3)對EEPROM Array寫(xiě)入相鄰bit位(包括行相鄰、列相鄰、對角線(xiàn)相鄰)都不一樣的數據，讀取驗證是否與寫(xiě)入時(shí)一致，排除相鄰bit位的數據竄擾。