基于Logical Effort理論的全新IC設計方法
本文分析了傳統IC設計流程存在的一些缺陷,并且提出了一種基于Logical Effort理論的全新IC設計方法。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/190668.htm眾所周知,傳統的IC設計流程通常以文本形式的說(shuō)明開(kāi)始,說(shuō)明定義了芯片的功能和目標性能。大部分芯片被劃分成便于操作的模塊以使它們可以分配給多個(gè)設計者,并且被EDA工具以塊的形式進(jìn)行分析。邏輯設計者用Verilog或VHDL語(yǔ)言寫(xiě)每一塊的RTL描述,并且仿真它們,直到這個(gè)RTL描述是正確的。
得到RTL描述之后,接下來(lái)就是利用邏輯綜合工具來(lái)選擇電路的拓撲結構和門(mén)的大小。綜合工具比手工花更少的時(shí)間得到優(yōu)化路徑和電路圖。綜合的電路通常邏輯功能是正確的,但時(shí)序是基于近似負載模型評估得到的。
電路設計完成之后,開(kāi)始版圖的實(shí)現。版圖通??梢远ㄖ埔部梢杂米詣?dòng)布局布線(xiàn)工具產(chǎn)生。接下來(lái),DRC、ERC、LVS等被用來(lái)驗證版圖,后版圖時(shí)序驗證工具用從版圖提取出來(lái)的電阻、電容數據來(lái)驗證設計是否滿(mǎn)足時(shí)序目標。如果電路設計階段的時(shí)序評估不精確,版圖后的時(shí)序肯定不能滿(mǎn)足,電路必須被修改,再執行綜合到版圖的過(guò)程。
在電路設計過(guò)程中,最大的挑戰是滿(mǎn)足時(shí)序說(shuō)明,即時(shí)序收斂。如果時(shí)序沒(méi)有問(wèn)題,電路設計將變得更加容易。目前的EDA界都意識到這一點(diǎn):要想在版圖階段達到時(shí)序收斂,通常應該在綜合階段就考慮更多的物理設計信息。因此,現在很多工具在綜合階段進(jìn)行預布局布線(xiàn),以便在綜合階段盡可能多地了解后端信息。
其實(shí)這樣做并不是從本質(zhì)上解決問(wèn)題,因為在綜合階段的時(shí)序評估還是基于負載模型的理論,只是現在的模型比以前的要精確一些,但是與實(shí)際的版圖提取的負載還是有誤差,因此得到的時(shí)序收斂并不一定可信。不過(guò)這些方法可以減少迭代次數,但不能真正消除迭代。
為了預知時(shí)序,其實(shí)應該建立一個(gè)非??尚诺难舆t預算模型,也就是這個(gè)模型的延遲預算應該非??尚???尚攀侵溉绻A知電路1比電路2要快,那么實(shí)際中確實(shí)是這樣。但是基于負載模型的方法不是非??尚?,它需要精確的寄生參數信息,但在版圖沒(méi)有得到的情況下,你是不可能有精確的寄生參數信息的。因此需要建立另外一個(gè)延遲模型,使得它不需要寄生參數信息也能得到可信的延遲估算。
Logical Effort方法采用的延遲預算模型就是這樣的一個(gè)模型,Logical Effort方法是評估CMOS電路延遲的一個(gè)簡(jiǎn)單方法。該方法通過(guò)比較不同邏輯結構的延遲來(lái)選擇最快的候選者,該方法也能指定一條路徑上適當的邏輯狀態(tài)數和邏輯門(mén)的最好晶體管大小。它是設計早期評估可選方案的理想方法,并且為更加復雜的優(yōu)化提供了一個(gè)好的開(kāi)始。
Logical Effort延遲模型
建模延遲的第一步是隔離特定的集成電路加工工藝對延遲的影響。通常,把絕對延遲表示為兩項之積:一項是無(wú)單位的延遲d,另一項是特征化給定工藝的延遲單位τ。即dabs=dτ。τ可以計算出來(lái),例如在0.6μm工藝下τ大約為50ps。
延遲d通常由兩部分組成,一部分叫本征延遲或寄生延遲,表示為p,另一部分正比于門(mén)輸出端負載的延遲,叫做effort延遲,表示為。即:d=f+p。
effort延遲依賴(lài)負載和邏輯門(mén)驅動(dòng)負載的特性。我們引入兩個(gè)相關(guān)的項:Logical Effort(LE)捕捉邏輯門(mén)的特性,electrical effort(g)特征化負載的影響。即f=LE*g,所以d=LE*g+p。
Logical Effort捕捉邏輯門(mén)的拓撲結構對它產(chǎn)生輸出電流的影響,它獨立于晶體管的大小。electrical effort即門(mén)的增益,描述門(mén)的電子環(huán)境(即與門(mén)連接的東西)怎樣影響它的性能,也可以說(shuō)門(mén)中晶體管的大小怎樣決定門(mén)的負載驅動(dòng)能力。增益的簡(jiǎn)單定義是:g=Cout/Cin。其中Cout為邏輯門(mén)輸出端負載的電容,Cin為邏輯門(mén)輸入端的電容。
至此,我們可以如圖1所示那樣來(lái)計算延遲d。
從這里我們看到,延遲依賴(lài)門(mén)的增益,而不是它的精確寄生參數。同時(shí),Logical Effort理論中還有兩個(gè)非常完美的結論。
少的邏輯狀態(tài)不一定能產(chǎn)生最快的電路延遲。那么多少個(gè)邏輯狀態(tài)將產(chǎn)生最快的電路延遲呢?對于反向器組成的電路,Sutherland指出:最快的反向器結構發(fā)生在Cout=3.6Cin。當Cout=3.6Cin時(shí),我們稱(chēng)反向器的負載為完美負載。我們可以定義門(mén)的增益為Gain=Cout/(3.6*Cin),并把它作為電路單元(cell)的延遲預算。
最快的電路拓撲結構有一致可變的Gain,因此在物理綜合階段,可以通過(guò)仔細調整Gain的值,保持時(shí)序不變。
評論