新型的嵌入式存儲器測試算法
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3．2 內部存儲單元測試算法
內部單元的測試算法有Checkboard測試、MSCAN算法、March算法、GALPAT、跨步法等算法，本文對內部存儲器單元進(jìn)行測試，采用如圖2所示的棋盤(pán)和跨步相結合的算法，在檢測數據單元時(shí)采用棋盤(pán)圖形，在檢測地址譯碼時(shí)采用跨步圖形，將棋盤(pán)測試法和跨步法各自的優(yōu)點(diǎn)合二為一。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/149950.htm
4 測試結果
將本文所涉及的算法進(jìn)行測試效率與故障覆蓋率的分析，并將結果進(jìn)行比較，如表2所列。其中d為地址線(xiàn)數目，n為數據線(xiàn)數目，M為待測存儲器空間大小，一般M=2d。從表中可以看出這些算法的測試效率比典型的March算法效率高很多，三步法的測試復雜度只有4(n+d+1)，棋盤(pán)跨步相結合的算法的測試復雜度也有5M，在故障覆蓋率也滿(mǎn)足應用要求，完全可以為實(shí)際項目所采用。
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