新型的嵌入式存儲器測試算法
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2．2 內部單元測試的故障模型
對于內部單元，除了上文提到的類(lèi)似的固定邏輯故障和固定開(kāi)路故障模型，還有狀態(tài)轉換故障(transition fault)、數據保持故障(data-maintaining fault)、狀態(tài)耦合故障(coupiing fault)和多重寫(xiě)入故障(multiple access fault)等。
狀態(tài)轉換故障：0→1或1→0的狀態(tài)轉換至少有一個(gè)不被正確執行。
數據保持故障：存儲單元無(wú)法保持一個(gè)邏輯值持續一定的時(shí)間。
狀態(tài)耦合故障：當且僅當單元j處于某一個(gè)特定狀態(tài)y(y∈{0，1})時(shí)，單元i總是為某一個(gè)確定值x(x∈{0，1})，則稱(chēng)單元i耦合于單元j。耦合關(guān)系不一定具有對稱(chēng)性，也就是說(shuō)單元i耦合于單元j，并不一定單元j也耦合于單元i。
多重寫(xiě)入故障：對單元i寫(xiě)入x(x∈{0，1})導致單元j也寫(xiě)入了x，則稱(chēng)單元i有多重寫(xiě)入故障。多重寫(xiě)入故障不一定具有對稱(chēng)性。
3 存儲器的測試算法
目前存儲器的測試算法中比較著(zhù)名的有March算法及其各種變種算法、Gallop算法，這些算法太過(guò)復雜，測試效率不高。本文所提出的算法不僅故障覆蓋率能夠達到實(shí)際應用標準，而且測試效率有明顯提高。
3．1 外圍互連線(xiàn)的測試算法
存儲器外圍互連線(xiàn)包括控制線(xiàn)、數據線(xiàn)和地址線(xiàn)。對于控制線(xiàn)的測試沒(méi)有比較規范的測試方法，但是如果控制線(xiàn)存在故障，存儲器基本無(wú)法正常工作。一般而言，控制線(xiàn)的故障在對數據線(xiàn)和地址線(xiàn)的簡(jiǎn)單測試中就能被發(fā)現，所以不作專(zhuān)門(mén)測試。
數據線(xiàn)和地址線(xiàn)的測試的目的不只是發(fā)現故障，更主要的是精確定位故障以便很容易地進(jìn)行修復或更換。采用“三步法”，該算法不僅能夠精確地定位故障，而且還能區分固定邏輯故障和橋接短路故障這兩種不同類(lèi)型，具體算法如表1所列。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/149950.htm
第一步測試數據線(xiàn)是否存在開(kāi)路故障和固定邏輯故障，第二步測試數據線(xiàn)是否存在短路故障，第三步測試地址線(xiàn)是否存在開(kāi)路或短路故障。在第二步測試結束時(shí)進(jìn)行數據線(xiàn)故障診斷，在第三步測試結束時(shí)進(jìn)行地址線(xiàn)故障診斷。
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