Synopsys將HAPS糾錯可見(jiàn)度提升100倍

　　全球領(lǐng)先的電子器件和系統設計、驗證和制造軟件及知識產(chǎn)權(IP)供應商新思科技公司(Synopsys, Inc.， 納斯達克股票市場(chǎng)代碼：SNPS)日前宣布：為其HAPS 基于FPGA原型系統的用戶(hù)推出新版的Deep Trace Debug深度追蹤糾錯軟件。借助HAPS Deep Trace Debug，原型工程師可利用比傳統FPGA片上邏輯糾錯器所用的存儲器高出將近100倍的信號存儲容量。新的深度追蹤糾錯功能同時(shí)增強了容量和故障隔離性能，同時(shí)釋放片上FPGA存儲器來(lái)滿(mǎn)足驗證復雜的系統級芯片(SoC)設計之需求。

　　“Qualcomm Atheros公司的Wi-Fi/Bluetooth組合產(chǎn)品使用了領(lǐng)先的Wi-Fi標準，以實(shí)現每秒千兆比特的吞吐量，這需要如Synopsys HAPS系統所提供的先進(jìn)硬件及軟件驗證技術(shù)，” Qualcomm Atheros公司工程總監Manoj Unnikrishnan說(shuō)道。“我們傳統的方法需要多次運行并進(jìn)行反復試錯。HAPS Deep Trace Debug所提供的高容量采樣存儲使我們能夠快速找出錯誤并加速整個(gè)系統的驗證。此外，HAPS Deep Trace Debug可以幫助我們提高狀態(tài)機覆蓋、原型機覆蓋以及測試模式的生成。”

　　為確保高速接口設計的正確功能，在幾毫秒內通常需要獲得幾十個(gè)采樣點(diǎn)。傳統上，設計師不得不做出選擇：以消耗大量的FPGA存儲資源來(lái)捕獲冗長(cháng)的信號追蹤歷史記錄，還是丟失信號追蹤歷史記錄的細節可見(jiàn)度來(lái)節省FPGA存儲資源。通過(guò)將Synopsys^® Identify^®智能集成電路仿真器(IICE™)與一個(gè)HAPS Deep Trace Debug SRAM子板配對，HAPS Deep Trace Debug允許許多獨特的帶有復雜觸發(fā)條件的信號探點(diǎn)可被記錄，并且在系統執行時(shí)存儲大量狀態(tài)歷史記錄來(lái)提供更深的記錄。SRAM子板也可釋放FPGA片上RAM，使其用于為SoC設計的存儲模塊提供原型。

　　“GSI技術(shù)NBTSRAM被設計到HAPS Deep Trace Debug SRAM的子板之上，這在SoC原型的性能高度優(yōu)先時(shí)，使設計師能夠最充分利用HAPS的互連總線(xiàn)帶寬，” GSI科技市場(chǎng)營(yíng)銷(xiāo)兼應用工程副總裁David Chapman說(shuō)道。“我們的SRAM器件同時(shí)提供了流水線(xiàn)和直通式操作，以便為SoC原型工程師在快速讀取存儲器的響應與最大時(shí)鐘頻率之間進(jìn)行選擇提供了靈活性。GSI NBT SRAM系列與新思科技的Deep Trace Debug功能相結合，確保了工程師將他們的HAPS系統用于SoC存儲的IP主控制或者作為一個(gè)擴展的調試追蹤緩沖器。”

　　“隨著(zhù)各種SoC硬件與軟件的復雜性不斷提高，設計師們需要先進(jìn)的糾錯工具來(lái)提升其系統驗證流程的穩健性，并支持早期的軟件開(kāi)發(fā)，”新思科技IP與系統事業(yè)部市場(chǎng)副總裁John Koeter說(shuō)道。“HAPS Deep Trace Debug通過(guò)確保原型工程師能夠去捕獲冗長(cháng)的信號追蹤歷史記錄來(lái)識別設計錯誤的根本原因，因而代表了復雜SoC的糾錯產(chǎn)出率的重大提高。”