概倫電子推出其高效良率導向設計工具

　　概倫電子科技有限公司今日宣布推出其良率導向設計(DFY)平臺的新產(chǎn)品NanoYield，該產(chǎn)品以IBM授權的專(zhuān)利技術(shù)為基礎，旨在通過(guò)高效的良率分析和設計優(yōu)化，提升高端芯片設計的競爭力。

　　作為概倫電子NanoDesigner電路設計平臺的一部分，NanoYield致力于解決高階半導體工藝節點(diǎn)下由于工藝不穩定性的增加對電路設計帶來(lái)的影響，快速有效地在芯片設計的早期預測產(chǎn)品良率，以幫助設計人員實(shí)現良率和性能的均衡設計。該產(chǎn)品通過(guò)概倫電子的BSIMProPlus建模平臺中的先進(jìn)統計建模技術(shù)對工藝不穩定性進(jìn)行處理，BSIMProPlus是業(yè)界領(lǐng)先的SPICE建模工具，可提取精確的統計和邊角模型，以進(jìn)行快速可靠的Monte Carlo分析和PVT分析。

　　概倫電子的NanoYield采用其業(yè)界創(chuàng )新的并行統計仿真SPICE引擎，該引擎可以適用于任意類(lèi)型的電路仿真，并可把傳統的Monte Carlo分析速度在全SPICE精度水平下提升10至100倍。同時(shí)，NanoYield通過(guò)整合先進(jìn)的統計采樣技術(shù)進(jìn)一步大幅提升統計仿真性能，采用了IBM授權的專(zhuān)利算法和方法學(xué)進(jìn)行統計采樣和良率計算，用于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)和許多其他類(lèi)型的電路設計。采用此技術(shù)，對于high-sigma的分析，其仿真速度比傳統的Monte Carlo方法提高幾個(gè)數量級，仿真時(shí)間可以從幾個(gè)月縮短到幾分鐘。技術(shù)開(kāi)發(fā)工程師也可以采用此解決方案來(lái)驗證工藝并且提高SRAM和標準單元庫的良率。

　　概倫電子有限公司的董事長(cháng)兼總裁劉志宏博士說(shuō)“與IBM的合作將促使概倫電子全球的客戶(hù)在DFY領(lǐng)域里從IBM先進(jìn)、成熟并且經(jīng)過(guò)驗證的創(chuàng )新技術(shù)中獲益，我們期待與IBM在該領(lǐng)域內的進(jìn)一步合作。”

　　IBM負責業(yè)務(wù)發(fā)展和技術(shù)授權事務(wù)的全球副總裁Tom Reeves先生說(shuō)“IBM致力于通過(guò)授權其知識產(chǎn)權鼓勵世界范圍內的技術(shù)創(chuàng )新與合作。我們與概倫電子達成的技術(shù)授權協(xié)議，為雙方進(jìn)一步合作并提供更先進(jìn)的集成電路設計解決方案打下了基礎”。

　　雙方將不對外界透露本次合作的具體協(xié)議條款。