吉時(shí)利發(fā)布半導體測試軟件的升級版KTE 5.3

        美國俄亥俄州克利夫蘭，2011年9月19日訊–先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了獲得業(yè)界好評的吉時(shí)利測試環(huán)境（KTE）半導體測試軟件的升級版。KTE V5.3是專(zhuān)為配合吉時(shí)利迄今為止最快、最經(jīng)濟有效的過(guò)程控制監控方案產(chǎn)品線(xiàn)S530參數測試系統設計的。

        KTE是一款強大的測試開(kāi)發(fā)和運行軟件平臺，全球有數百家半導體晶圓廠(chǎng)都在使用吉時(shí)利前幾代的參數測試系統?，F在，吉時(shí)利的S530測試系統利用這個(gè)被業(yè)界長(cháng)期驗證的軟件平臺在最苛刻的生產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現了靈活的測試計劃開(kāi)發(fā)和高速測試?，F有吉時(shí)利S400和S600系列參數測試儀用戶(hù)將特別受益于S530系統上的KTE V5.3，因為可以將既有測量程序輕松地移植到S530，而且現有測試儀和新的S530系統可以共享同一個(gè)測試計劃。

        將KTE測試開(kāi)發(fā)和運行環(huán)境擴展至S530系統結合了吉時(shí)利30年的參數測試代碼開(kāi)發(fā)實(shí)踐經(jīng)驗和市場(chǎng)上最快、最先進(jìn)的系統硬件優(yōu)勢。S530儀器提供過(guò)程控制監控等參數測試應用要求的高速度和寬測量范圍。

        吉時(shí)利致力于讓新測試系統高度兼容較早的系統支持吉時(shí)利參數測試客戶(hù)。保持軟件兼容性的承諾確保了移植路徑更為平滑并能在測試平臺上加入更新、更高速測試儀以保護晶圓廠(chǎng)的測試軟件投資。對于吉時(shí)利參數測試的新客戶(hù)，恪守系統軟件連續性的承諾意味著(zhù)客戶(hù)會(huì )對基于業(yè)界長(cháng)期驗證軟件的測試系統充滿(mǎn)信心。



        對于已經(jīng)使用KTE較早版本的客戶(hù)來(lái)說(shuō)，KTE V5.3加速并簡(jiǎn)化了S530測試系統到測試平臺的集成。

• 同一種測試方法和測試方案適用于所有吉時(shí)利自動(dòng)參數測試系統，這不僅縮短了使用多個(gè)系統的測試工程師和操作人員的學(xué)習過(guò)程，而且在測試平臺增加新的高速系統或取代較早平臺時(shí)提供平滑的移植路徑以保護晶圓廠(chǎng)的測試開(kāi)發(fā)投入。

• 用戶(hù)只需重新編譯和重新生成多年來(lái)為更早的吉時(shí)利系統開(kāi)發(fā)的常用用戶(hù)庫，就能繼續在S530上使用這些用戶(hù)庫。通常，只需進(jìn)行少量調試。

• KTE V5.3簡(jiǎn)化了創(chuàng )建條件測試序列的新用戶(hù)訪(fǎng)問(wèn)點(diǎn)（UAP）源代碼以及定制S530的系統工作流程。為早期吉時(shí)利系統開(kāi)發(fā)的UAP源代碼適用于S530系統，只需作少量調整。

• KTE的工具對吉時(shí)利所有參數測試平臺都具有完全相同的功能性。

        面向S530的KTE適于在標準工業(yè)PC的Linux操作系統上運行以確保長(cháng)期穩定性和易于維護性。該軟件已針對高吞吐率生產(chǎn)測試環(huán)境作了速度和擴展可靠性的優(yōu)化。運行KTE V5.3的S530系統能實(shí)現過(guò)程控制監控、過(guò)程可靠性監控和器件特性分析要求的全部直流I-V和C-V測量。S530系統針對必須適應廣泛產(chǎn)品組合的生產(chǎn)參數測試環(huán)境，或者在寬范圍應用靈活性和快速測試方案開(kāi)發(fā)等至關(guān)重要的場(chǎng)合中的使用進(jìn)行了優(yōu)化。