Multitest的Dura Kelvin顯著(zhù)降低總測試成本
—— Multitest的Dura?Kelvin顯著(zhù)降低總測試成本
面向世界各地的集成設備制造商(IDM)和最終測試分包商,設計和制造測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司,日前欣然宣布其Dura®Kelvin測試座再次證明在超長(cháng)的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠(chǎng),Dura®Kelvin測試座顯著(zhù)降低了總體測試成本。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/121118.htm在項目期限內,首檢合格率和清洗頻率都受到了監控。Dura®Kelvin明顯超過(guò)了所有目標,使用壽命已超過(guò)4百萬(wàn)次插撥,這是設定目標的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。
Dura®Kelvin 僅需要在大約100個(gè)小時(shí)之后清洗。與原來(lái)的測試單元配置相比,這使與清洗相關(guān)的測試單元停機時(shí)間降低了90%。尤其對于低溫測試而言,這具有重要影響。
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