Multitest推出信號及電源完整性術(shù)語(yǔ)表

　　面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商，設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商Multitest公司，日前發(fā)布信號及電源完整性術(shù)語(yǔ)表。由Multitest的信號完整性工程師Ryan Satrom編制的新術(shù)語(yǔ)表解釋了與電源完整性相關(guān)的主要術(shù)語(yǔ)和概念。

　　電源完整性是關(guān)于通過(guò)盡量降低電源配送網(wǎng)絡(luò )(PDN)的噪音來(lái)向DUT提干凈的電源電壓學(xué)術(shù)。正在迅速成為測試接口設計中的最大挑戰之一。

　　電源完整性的影響預計在未來(lái)幾年將不斷提高。對于測試業(yè)界來(lái)說(shuō)，了解到測試接口所帶來(lái)的電源完整性挑戰的相關(guān)問(wèn)題，并且提高其能力來(lái)應對這些挑戰正在變得日益重要。