Multitest舉辦“測試成本高級研討會(huì )”

　　Multitest在2011年3月15日至17日在上海新國際博覽中心舉辦的SEMICON China 2011展示一系列先進(jìn)的產(chǎn)品和解決方案，并舉辦“測試成本高級研討會(huì )”。

　　Multitest推出的MT2168測試分選機是一個(gè)完美的“全能型”平臺，它同時(shí)具備靈活性及經(jīng)濟性，不僅適用于集成設備制造商，也適用于分包商及全系列應用。MT2168優(yōu)化了最終測試中的測試單元利用率，提供了顯著(zhù)的測試成本優(yōu)勢，優(yōu)化了測試單元效率，具備前所未有的配置能力和最高的制造可靠性。

　　Multitest的測試插座產(chǎn)品系列提供的連接解決方案適用于所有類(lèi)型的分揀器、含鉛封裝和無(wú)鉛封裝、陣列封裝和在線(xiàn)封裝，還有間隙最小達0.25 mm的器件，以及單一測試、條帶測試和WLCSP。該測試插座系列涵蓋了–60° C到200° C整個(gè)溫度范圍內最廣泛的應用，包括高達40 GHz的帶寬，高達1,000 A 的高功率/高電流和KELVIN測試插座。

　　同時(shí), Multitest還將現場(chǎng)演示Plug & Yield™解決方案。Plug & Yield™能夠幫助用戶(hù)以更快速度和最低成本將產(chǎn)品投放市場(chǎng)。這一解決方案實(shí)現了更好的資源利用和更快“收益時(shí)間”。同時(shí)，Plug & Yield™解決方案帶來(lái)更高的生產(chǎn)測試合格率和長(cháng)期有效的測試技術(shù)合作關(guān)系。

　　更值得期待的是, Multitest將于3月16日在W2展廳的M2會(huì )議室舉辦 “測試成本高級研討會(huì )”。 該研討會(huì )將圍繞以下主題展開(kāi)：影響測試成本的主要因素;測試座如何大幅影響測試成本;優(yōu)化測試設備使用以達到最佳測試成本;協(xié)調測試配置以達到最佳性能。研討會(huì )對所有感興趣的業(yè)界同仁開(kāi)放，歡迎大家參與交流。