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缺陷 文章 進(jìn)入缺陷技術(shù)社區
考慮缺陷可能性，將車(chē)用IC DPPM降至零
- 半導體公司需要思考如何應對所有設計流程中的新挑戰，方能在快速成長(cháng)的車(chē)用 IC市場(chǎng)中提升競爭力。為了符合ISO 26262國際安全規范中零百萬(wàn)缺陷率（DPPM）的目標，可測試性設計（DFT）工程師采用了新的測試模式類(lèi)型，包括單元識別（cell-aware）、互連和單元間橋接（單元鄰域）；但是在選擇應用模式類(lèi)型和設置覆蓋率目標時(shí)，傳統方式不管在質(zhì)量、測試時(shí)間還是測試成本上都存在著(zhù)改善空間。 圖一 : 半導體公司需要思考如何應對所有設計流程中的新挑戰，方能在快速成長(cháng)的車(chē)用IC市場(chǎng)中提升競爭力。（sou
- 關(guān)鍵字： 缺陷 車(chē)用IC DPPM Siemens EDA
LED照明產(chǎn)品檢測方法中的缺陷和改善的對策
- 傳統的LED 及其模塊光、色、電參數檢測方法有電脈沖驅動(dòng) ,CCD 快速光譜測量 法,也有在一定的條件下,熱平衡后的測量法,但這些方法的測量條件和結果與LED 進(jìn)入照明器具內的實(shí)際工作情況都相差甚遠。文章介紹了通過(guò)Vfm
- 關(guān)鍵字： LED 照明產(chǎn)品 檢測方法 缺陷
LED照明產(chǎn)品檢測中的缺陷及改善
- 一、 序言L(fǎng)ED 照明產(chǎn)業(yè)發(fā)展到現在,我們對LED 照明產(chǎn)品標準和檢測方法的回顧、小結的時(shí)候已經(jīng)基本到來(lái)。傳統的 LED 及其模塊光、色、電參數檢測方法有電脈沖驅動(dòng),CCD 快速光譜測量法,也有在一定的條件下,熱平衡后的測
- 關(guān)鍵字： LED 照明產(chǎn)品 檢測 缺陷
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